СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ СЛОЕВ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1972 года по МПК G01N27/24 

Описание патента на изобретение SU360599A1

Изобретение относится к области электродной техники, в частности к троиз-водству лолуп.роводн,иковы,х приборов.

При Л|роиз1водстве лолупроводвиковых прл6oipoB (диодов, транзисторов, .интегральных схем и т. д.) методами планаряой технологии лредъявляются .высокие требования « .качеству поверхности лолупроводнИ1Ков и диэлектрических слоев, так ,как дефекты слоев матфлалов оказывают значительное .влияние -на разброс параметров, .надежяость и выход годных полу.проводниковых пр.иборо-в.

Известен электрол.итический способ конт.Роля .дефектов диэлектрических слоев на -полулроводЕИковых ИЛИ металлическ1их подложжах, заключающийся в том, что на полупроводЕИковую лодложку с исследуемой диэлектрлческой пленкой .-накладывают |фотобумагу, локрытую эмульсионным слоем, н всю систему, расположе/нную мемду д1ву1М Я элект(рош,ами, помещают :В электролит (во.ду). При лрохож.девии тока через систему ионы се|ребра фотоэмульсии восстанавливаются на порах и других про.водящих дефектах. Однако с ломощью известного способа .невозможло конлролировать электронепроводящие дефекты, имеющиеся на поверхности и :В приповерхностном слое диэлектриков, лолупровод.нико,в и металлов.

водящих и непроводящих дефектов полупроводников, диэлектриков и металлов.

Это достигается тем, что регистрирующий матерИал наносят на диэлектрическую подложку и -ко всей системе лриклады.вают электрическое поле но .величине.не ниже Ю в/см.

Сущность способа заключается в том, что образец на:кладывают исследуемой поверхлостью на эмульсионный слой фото.пластины,

(Например, стеклянной, помещают эту систесму между .ллоскими металлическими электродами II прикла.дывают к ним надряжение. Независимо от полярности происходит разложение состана эмульсионного слоя в местах наиболее

сильного элект|р.ическото поля, что соответствует дефекта1М ,и неодноро.дностям на поверхности исследуемого образ на. В качестве эмхмьсиоииого слоя может быть использован соста.в на основе Ag Вг.

После лроя.вления на фотолластине поя.зляются изобра.жения поверхности с черны.ми точками, соответствующими неодноро.диостям и дефекта.м.

П р е д м е Т и 3 О б р е т е н и я

360599 .

3-4

дуемой системе напряжения, отличающийся гист;рирующий материал наносят «а диэлектритем, что, с целью одновременного получения ческую подложку и прикладывают электричесизображевий проводящих и непроводящИХ де- кое поле по величине не ниже Ю е/сл. фектов и расширения области применения, ре

Похожие патенты SU360599A1

название год авторы номер документа
Способ контроля качества диэлектри-чЕСКиХ плЕНОК 1979
  • Звягин Владимир Борисович
  • Зуев Игорь Васильевич
  • Жигальвай Геннадий Павлович
  • Назаров Игорь Николаевич
SU828057A1
Способ изготовления эпитаксиальных пленочных структур 1979
  • Гапонов С.В.
  • Лускин Б.М.
  • Салащенко Н.Н.
SU791114A1
Способ определения дефектов полупроводниковых слоев и диэлектриков 1980
  • Пронин Виталий Петрович
SU868525A1
Устройство для испытания защитных диэлектрических покрытий полупроводниковых приборов 1982
  • Алексеева Галина Михайловна
  • Ефимова Лилия Яковлевна
SU1045177A1
Элемент памяти для постоянного запоминающего устройства 1982
  • Грищенко В.А.
  • Камбалин С.А.
  • Меерсон Е.Е.
SU1124762A1
Способ формирования электрофотографического изображения на системе фотополупроводник-диэлектрик 1968
  • Гиичи Марусима
  • Хироси Танака
  • Уми Тосака
  • Синкичи Такахаси
  • Такэхико Мацуо
  • Такао Комия
  • Тецуо Хасэгава
SU522825A3
МЕТОДЫ ЛАЗЕРНОЙ АБЛЯЦИИ/ЛАЗЕРНОГО СКРАЙБИРОВАНИЯ ПОКРЫТИЙ ТЕПЛОИЗОЛЯЦИОННЫХ СТЕКЛОПАКЕТОВ, ПОЛУЧЕННЫХ ПУТЕМ ПРЕДВАРИТЕЛЬНОЙ И ПОСЛЕДУЮЩЕЙ СБОРКИ, И/ИЛИ СВЯЗАННЫЕ С НИМИ СПОСОБЫ 2018
  • Веерасами, Виджайен, С.
  • Вандал, Роберт, А.
RU2767623C2
Элемент памяти для постоянного запоминающего устройства 1984
  • Камбалин С.А.
  • Титов В.В.
  • Сайбель К.Я.
  • Гладких И.М.
SU1159447A1
Способ определения локальных дефектов поверхности 1984
  • Беспалов Владимир Александрович
  • Киселев Всеволод Федорович
  • Плотников Геннадий Семенович
  • Салецкий Александр Михайлович
SU1182354A1
Способ контроля дефектов 1978
  • Кравцов Александр Евгеньевич
  • Пермяков Виталий Вадимович
  • Резников Михаил Абрамович
SU763767A1

Реферат патента 1972 года СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ СЛОЕВ МАТЕРИАЛОВ

Формула изобретения SU 360 599 A1

SU 360 599 A1

Даты

1972-01-01Публикация