ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КОНДЕНСАТОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СВОЙСТВ МАТЕРИАЛОВ Советский патент 1973 года по МПК G01R27/26 

1

Изобретение может быть использовано в электроизмерительной технике для измерения диэлектрических свойств материалов.

Известен измерительный конденсатор для исследования диэлектрических свойств материалов по основному авт. св. № 334489.

Цель изобретения - расширение возможностей применения конденсатора.

Это достигается тем, что электроды конденсатора расположены на торцовой поверхности подпружиненного цилиндрического основания, размещенного в подвижной относительно контролируемой площади оправе.

На фиг. 1 изображена конструкция измерительного конденсатора в двух проекциях; на фиг. 2 - электрическая схема включения его; на фиг. 3 - графики, поясняющие работу конденсатора.

К онденсатор содержит высокопотенциальный 1, переключаемый 2 и низкопотенциальный 3 электроды, которые закреплены на изоляционном основании 4, служащим одновременно рукояткой конденсатора. Нижнюю часть этого основания обхватывает подвижная относительно оси конденсатора оправа 5, закрепленная на пружинах 6, которые, прижимая оправу к контролируемому сферическому Изделию 7, устанавливают плоскость электродов перпендикулярно нормали поверхности в центре контролируемой площади.

Электрическая схема включения конденсатора предусматривает постоянное подключение электродов / и 5 к соответствующим зажимам измерителя параметров конденсатора. Электрод в положении I двухпозиционного переключателя 8 подсоединен к высокопотенциальному зажиму, т. е. измерительный кондепсатор включен на большую глубину проникновения тока в исследуемый материал, а в положении II - к низкопотенциальному зажиму, т. е. на малую глубину проникновения тока.

Кривой 9 представлена зависимость емкости измерительного конденсатора от радиуса сферической контролируемой поверхности при

малой глубине проникновения тока, кривая 10 - при большой глубине тока, кривой 11 - та же зависимость для разности обоих замеров емкости.

Как видно из кривой 11 зависимость разности емкости имеет участок, где чувствительность к изменению радиуса контролируемой поверхности равна нулю (заштрихованная зона). Поэтому в пределах от мпн до макс возможно измерение диэлектрической проницаемости с компенсацией изменения радиуса контролируемой сферической поверхности.

Предмет изобретения

Измерительный конденсатор для исследования диэлектрических свойств материалов по