Способ определения качества пьезокварца Советский патент 1976 года по МПК H01L21/66 H03H3/02 

Описание патента на изобретение SU375726A1

1

Изобретение относится к технике определения качества пьезоквардевого сырья, широко применяющегося во мноТих отраслях промышленности, в частности в радиотехнике и электротехнике.

Известен способ определения качества пьезокварца по температурно-частотной дисперсии диэлектрических потерь, основанный па измерении тангенса угла диэлектрических потерь на образцах произвольной ориентации, произвольных размеров и формы. Недостатком известного способа являются значительные затраты времени на проведение испытаний.

Цель изобретения - упрощение процесса измерений

С этой целью при фиксированной температуре определяют частоту релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь.

График зависимости предлагаемого параметра Ш качества пьезокварца от .добротности О. кварцевых пьезоэлементов AT -среза, измеренной на основной частоте 1 мГц, представлен на фиг. 1; на фиг. 2 - график зависимости величины диэлектрических потерь от частоты.

Первый график получен следующим образом. Подбирается серия кристаллов синтетического

кварца, параметры роста которого варьируются в щироких пределах, что обусловливает значительные различия в качестве этих кристаллов. Из каждого кристалла приготовляют пьезоэлементы в виде полированных двояковыпуклых линз AT-среза на основную частоту 1 мгц , их добротность Q измеряется по декременту затухания колебаний. Значения О,как показали измерения, для подобранной серии кристаллов лежат в пределах от 0,2-10 до 8-10 .

0 Значения GL откладываются по оси ординат.

Из тех же кристаллов приготовляют шлифованные плоские диски г, -среза диаметром 15 мм и толщиной 1,3 мм . На этих образцах при температуре 330 С измеряют диэлектрические потери зависимости от частоты. Измерение tgO осуществляется обычным мостовым методом. Для каждого образца получают зависимости to о (см.фиг. 2). Значения f частоты, при которой достигается максимальное значение усредняется по 15

0 образцам для каждого кристалла, и эти усредненые значения откладываются по оси абсцисс в соответствии с величинами добротности пьезоэлементов. Из графика, изображенного на фиг. 1, видно.

10

что в интервале добротностей (8-0,2)

завиCHMOCTbQ.(,) прямолинейна.

Необходимо отметить, что температура испытаний образцов предлагаемым способом, равная 330 С, является оптимальной, так как с понижением температуры величина г также значительно уменьшается, достигая при комнатной температуре значений менее 0,01-0,001 Гц. Это не только усложняет методическую и аппаратурную часть испытаний, но и существенно увеличивает время их проведения. Проведение испытаний при температурах выше 330° С нецелесообразно по двум причинам. Во-первых, значительный нагрев может вызвать необратимые изменения в свойствах образцов. Во-вторых, с увеличением температуры испытаний величины Г|. закономерно возрастают, амплитуды максимумов to иадашт, затрудняет процесс измерения.

Формула изобретения

5 Способ определения качества пьезокварца по тем- пературно-частотной дисперсии диэлектрических потерь, основанньш на измерении релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь на об разцах произвольной ориентации, произвольных размеров и формы, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений.определяют частоту релаксационного максимугла тангенса утпа диэлектрических потерь при фиксированной тег п:;ратуре.

Похожие патенты SU375726A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА КРИСТАЛЛОВ ПЬЕЗОКВАРЦА 1972
SU336772A1
Устройство для контроля качестваКРиСТАллОВ 1978
  • Чубаров Лев Борисович
  • Цветкова Лидия Николаевна
  • Иванов Александр Сергеевич
SU805452A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КВАРЦЕВЫХ РЕЗОНАТОРОВ 1991
  • Галанов Г.Н.
  • Зацепин А.Ф.
  • Кортов В.С.
  • Лучинин А.С.
  • Мальцев А.П.
  • Тюков В.В.
  • Ушкова В.И.
RU2045041C1
Автоматизированная система исследования полимерных и композиционных материалов 2019
  • Филиппенко Николай Григорьевич
  • Лившиц Александр Валерьевич
  • Буторин Денис Витальевич
  • Каргапольцев Сергей Константинович
  • Фарзалиев Эмиль Физули-Оглы
  • Бычковский Владимир Сергеевич
  • Грамаков Демид Сергеевич
  • Баканин Денис Викторович
  • Курайтис Алексей Сергеевич
RU2731272C1
Способ определения добротности колебания растяжения-сжатия по толщине пьезокерамического элемента 1989
  • Межерицкий Александр Васильевич
SU1742749A1
Устройство для контроля качества пьезокварца 1989
  • Герасимов Алексей Иванович
SU1689886A1
Способ оценки качества кристаллов 1978
  • Хаджи Валентин Евстафьевич
  • Самойлович Михаил Исаакович
  • Орлов Олег Михайлович
  • Цинобер Леонид Иосифович
  • Гордиенко Леонид Александрович
SU769415A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КВАРЦЕВЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ АТ-СРЕЗА 1995
  • Кибирев С.Н.
  • Ярош А.М.
RU2117382C1
КОАКСИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ РЕЗОНАТОР С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМ ЭЛЕКТРОДОМ И РЕГУЛИРУЕМЫМ ЕМКОСТНЫМ ЗАЗОРОМ 2018
  • Егоров Виктор Николаевич
  • Ле Куанг Туен
RU2680109C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВОДЫ И ЕЕ РАСТВОРОВ В НИЗКОЧАСТОТНОЙ ОБЛАСТИ С ПОМОЩЬЮ L-ЯЧЕЙКИ 2002
  • Семихина Л.П.
RU2234102C2

Иллюстрации к изобретению SU 375 726 A1

Реферат патента 1976 года Способ определения качества пьезокварца

Формула изобретения SU 375 726 A1

SU 375 726 A1

Авторы

Бутузов В.П.

Любимов Л.А.

Шапошников А.А.

Романов Л.Н.

Колодиева С.В.

Фотченков А.А.

Ярославский М.И.

Хаджи В.Е.

Голиков М.И.

Даты

1976-08-05Публикация

1971-11-11Подача