1
Изобретение относится к технике определения качества пьезоквардевого сырья, широко применяющегося во мноТих отраслях промышленности, в частности в радиотехнике и электротехнике.
Известен способ определения качества пьезокварца по температурно-частотной дисперсии диэлектрических потерь, основанный па измерении тангенса угла диэлектрических потерь на образцах произвольной ориентации, произвольных размеров и формы. Недостатком известного способа являются значительные затраты времени на проведение испытаний.
Цель изобретения - упрощение процесса измерений
С этой целью при фиксированной температуре определяют частоту релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь.
График зависимости предлагаемого параметра Ш качества пьезокварца от .добротности О. кварцевых пьезоэлементов AT -среза, измеренной на основной частоте 1 мГц, представлен на фиг. 1; на фиг. 2 - график зависимости величины диэлектрических потерь от частоты.
Первый график получен следующим образом. Подбирается серия кристаллов синтетического
кварца, параметры роста которого варьируются в щироких пределах, что обусловливает значительные различия в качестве этих кристаллов. Из каждого кристалла приготовляют пьезоэлементы в виде полированных двояковыпуклых линз AT-среза на основную частоту 1 мгц , их добротность Q измеряется по декременту затухания колебаний. Значения О,как показали измерения, для подобранной серии кристаллов лежат в пределах от 0,2-10 до 8-10 .
0 Значения GL откладываются по оси ординат.
Из тех же кристаллов приготовляют шлифованные плоские диски г, -среза диаметром 15 мм и толщиной 1,3 мм . На этих образцах при температуре 330 С измеряют диэлектрические потери зависимости от частоты. Измерение tgO осуществляется обычным мостовым методом. Для каждого образца получают зависимости to о (см.фиг. 2). Значения f частоты, при которой достигается максимальное значение усредняется по 15
0 образцам для каждого кристалла, и эти усредненые значения откладываются по оси абсцисс в соответствии с величинами добротности пьезоэлементов. Из графика, изображенного на фиг. 1, видно.
10
что в интервале добротностей (8-0,2)
завиCHMOCTbQ.(,) прямолинейна.
Необходимо отметить, что температура испытаний образцов предлагаемым способом, равная 330 С, является оптимальной, так как с понижением температуры величина г также значительно уменьшается, достигая при комнатной температуре значений менее 0,01-0,001 Гц. Это не только усложняет методическую и аппаратурную часть испытаний, но и существенно увеличивает время их проведения. Проведение испытаний при температурах выше 330° С нецелесообразно по двум причинам. Во-первых, значительный нагрев может вызвать необратимые изменения в свойствах образцов. Во-вторых, с увеличением температуры испытаний величины Г|. закономерно возрастают, амплитуды максимумов to иадашт, затрудняет процесс измерения.
Формула изобретения
5 Способ определения качества пьезокварца по тем- пературно-частотной дисперсии диэлектрических потерь, основанньш на измерении релаксационного максимума тангенса угла диэлектрических потерь на об разцах произвольной ориентации, произвольных размеров и формы, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений.определяют частоту релаксационного максимугла тангенса утпа диэлектрических потерь при фиксированной тег п:;ратуре.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА КРИСТАЛЛОВ ПЬЕЗОКВАРЦА | 1972 |
|
SU336772A1 |
Устройство для контроля качестваКРиСТАллОВ | 1978 |
|
SU805452A1 |
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КВАРЦЕВЫХ РЕЗОНАТОРОВ | 1991 |
|
RU2045041C1 |
Автоматизированная система исследования полимерных и композиционных материалов | 2019 |
|
RU2731272C1 |
Способ определения добротности колебания растяжения-сжатия по толщине пьезокерамического элемента | 1989 |
|
SU1742749A1 |
Устройство для контроля качества пьезокварца | 1989 |
|
SU1689886A1 |
Способ оценки качества кристаллов | 1978 |
|
SU769415A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КВАРЦЕВЫХ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ АТ-СРЕЗА | 1995 |
|
RU2117382C1 |
КОАКСИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ РЕЗОНАТОР С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМ ЭЛЕКТРОДОМ И РЕГУЛИРУЕМЫМ ЕМКОСТНЫМ ЗАЗОРОМ | 2018 |
|
RU2680109C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВОДЫ И ЕЕ РАСТВОРОВ В НИЗКОЧАСТОТНОЙ ОБЛАСТИ С ПОМОЩЬЮ L-ЯЧЕЙКИ | 2002 |
|
RU2234102C2 |
Авторы
Даты
1976-08-05—Публикация
1971-11-11—Подача