СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ Советский патент 1973 года по МПК G01R27/00 

Изобретение относится к области электрических исследований материалов и может быть использов1ан10 три И3ме1рении объемного Электричеекого сопротивления образцов и при иссл1едова1ния.х токов утечки по .поверхности.

Известен способ измерения удельного объемного электрического сопротивления с помощью охранных колец, создающик «а .поверхности образца однопотенщиальную зону, преры,вающую линии поверхностного тока. Этот способ предполагает применение двухэлектродного метода и характе(ризуется тем, что сопротивление .приконтактн-ых областей может быть соиэмерн:мо я даже выше coinpoтиеления объемного материала;. В этих условиях известный cnocoi6 дает искаженные результаты, и применение (компенсационной методики с четырьмя лодвоДЯщими проводами при его использовании затр}днительно.

Для исключения влияния на результаты измерений .проводимости поверхности по преялагаемо.му способу на объект исследования наносят ом.ические контакты, на которых з&щ&пляют электроды из.мерительной схемы, а затем образец покрывают, например, путем напылени1Я слоем; изолятора с более высоким

электрическим сапрогивленне.м, чем у исследуемого материала.

Материал покрытия должен иметь высо.кое электрическое сопротивление и удовлетворительную адгезиониую онособаюсть по отношению к исследуемому .М:атериалу, контактам и электрода.м, бъ1ть химически инертным к исследуемому материалу и к материалам, применяемым для создания омпческих контактоВ, сох|ранять свои свойства в тех средах, в которых проводят исследования.

Кроме того, выбор материала покрытия зависит от физической природы поверхностного тока.

Предмет изобретения

Способ измерения электрического сапроти.вления путем 1на«есен1ия аа исследуемый материал электрических юонтактов и закрепления

на них электродов измерительной схемы, отличающийся тем, что, с целью исключения влияния на результаты измерений п|роводи-мости по поверхности, объект исследования покрывают, например, путем напыления

слоем изолятора с более высоким электрическим сопротивлением, чем у исследуемого материала.