СПОСОБ ОПРОСА ПАРАМЕТРОВ Советский патент 1973 года по МПК G06F17/18 G06F17/00 

1

Изобретение относится к области автоматизации производства электровакуумного стекла с применением управляющих вычислительных машин.

В автоматизированных Системах управлеПИЯ производством с применением управляющих вычислительных машин приходится иметь дело с аналоговыми датчиками, установленными .на технологическом оборудовании, которое является источником электромагнитных помех.

При опросе параметров информация поступает в УВМ в искаженном виде из-за помех, создаваемых технологическим оборудованием.

В случае помех, для определения истинного значения измеряемого параметра, известен метод накопления и обработки полученных значений замеряемого параметра.

Однако такой метод оказывается недостаточно эффективным, если сигнал помехи и:меет резко несимметричный характер, т. е. некоторые из замеров имеют большое отклонение, причем одностороннего характера.

Цель изобретения - повышение достоверности получаемой информации и устранение случайных помех.

Это достигается тем, что выделяют минимальное и максимальное значения из ряда значений опрошенного параметра, диапазон между максимальным и .минимальньш полученными значениями опрошенных параметров разбивают на интервалы, полученные значения относят к соответствующим интервалам и для определения истинного значения параметра производят усреднение величин замеров в том интервале, где оказалось максимальное число замеров.

Способ осуществляют следующим образом.

Сначала производится последовательный многократный опрос одного параметра. Затем из нескольких значений опрошенного параметра выбирают минимальное и максимальное зиаче-ния, после чего разбивают диапазон между максимальным и минимальным значениями опрошенного параметра иа интервалы, причем величина интервала задается, исходя из требуемой точности опроса параметров.

Полученные значения опрошенных параметров относят к соответствующим интервалам и выбирают тот ИНтервал, в котором оказалось наибольщее количество замеров. Далее для определения истинного значения опрошенного параметра производят усреднение величин замеров в выбранном интервале пО любым из вестным формулам.

Предмет изобретения

Способ опроса параметров при централизованном контроле объектов электровакуумного 3 производства, основанный на замере значений параметров и обработке полученных результатов, отличающийся тем, что, с целью по вышения достоверности получаемой информации и устранения случайных помех, выделяют ми-5 нимальное и максимальное значения из ряда значений опрошенного параметра, диапазон 4 между минимальньш в максималыньш значениями разбивают на, интервалы, полуненные значения относят к соответствующим интервалам и для оП1ределе1Ния и.сти«нО|Га значения параметра лроизводягг усреднение величин замеров в том интервале, где оказало:сь максималвное число замеров.