1
Изобретение относится к активным приборам на основе МДП-структуры и схемам микроэлектроники.
Известны приборы со структурой металл,диэлектрик-полупроводник, но практически вся микроэлектроника базируется на кремнии, так как быстродействующие МДПструктуры на германии невозмол но получить из-за неустойчивости поверхности германия покрытой окисной пленкой. Однако кремний обладает малой подвижностью электронов и дырок, что ограничивает быстродействие схем. Возможность применения германия для создания МДПструктур потенциально расширяет частотную область работы активных приборов и быстродействие схем микроэлектроники.
Целью изобретения является расширение .частотной области применения МДП-струк/туры путем использования в качестве основы совершенного монокристалла германия.
Поставленная цель достигается образова нием на поверхности германия пленки кремния, продолжающей совершенн Ю кристаллическую структуру германия, на основе которой сформирована диэлектрическая пленка. Толщина кремниевой прослойки между германием и границей диэлектрик-решетка кремния много меньше толщины пространственного заряда в германии. Соверщенные пленки кремния толщиной
20-1000 А на германии получены методом ионного распыления кремния в вакууме при таких температурах, когда свойства германия не изменяются: образование диэлектрической пленкн достигается реактивным распылением (возможны другие известные методы).
Предложенная МДП-структур а состоит из металла, полупроводника-монокристалла германия, сверху которого нанесена
тонкая в 30-100 А монокристаллическая пленка кремния, на основе которой сформирован диэлектрик. Толщина пленки кремния сзщественно меньше длины Дебая в используемом германии. Такая прослойка кремния используется с целью сочленения решетки кремния с диэлектрической пленкой с малой плотностью состояния на границе их раздела для управления концентрацией носителей тока в области пространственного заряда в германии.
Формула изобретения
Полупроводниковое устройство А1ДПструктуры на основе монокристалла германия и диэлектрика - двуокиси кре.мния, 3 отличающееся тем, что, с целью расширения его функциональных возможностей, между указанными слоями располо. 4 жена монокристаллическая пленка кремния, толщиной меньше длины Дебаевского экранирования в германии.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Тестовая МДП структура | 1980 |
|
SU884508A1 |
СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ РАБОТОЙ МЕМРИСТИВНОЙ КОНДЕНСАТОРНОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛ-ДИЭЛЕКТРИК-ПОЛУПРОВОДНИК | 2018 |
|
RU2706197C1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР | 1980 |
|
SU1840207A1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОНДЕНСАТОРНОЙ СТРУКТУРЫ МЕМРИСТОРА, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИХ ПРОЦЕСС ФОРМОВКИ | 2015 |
|
RU2585963C1 |
СВЕРХРЕШЕТКА | 1992 |
|
RU2062529C1 |
КОНСТРУКЦИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СЛОЯ ДЛЯ МДП CТРУКТУР, ОБЛАДАЮЩИХ ЭФФЕКТОМ ПЕРЕКЛЮЧЕНИЯ ПРОВОДИМОСТИ | 2013 |
|
RU2563553C2 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ТОНКОПЛЕНОЧНОГО МНОГОКОМПОНЕНТНОГО ПОЛУПРОВОДНИКА | 2023 |
|
RU2818990C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СВЕРХРЕШЕТОК | 1979 |
|
SU786705A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК ДЛЯ МДП СТРУКТУР НА ОСНОВЕ АРСЕНИДА ИНДИЯ И ЕГО ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ | 1984 |
|
SU1840172A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ФОТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ РЕЗИСТИВНЫХ И ОПТИЧЕСКИ НЕЛИНЕЙНЫХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР НА ОСНОВЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ | 1993 |
|
RU2089656C1 |
Авторы
Даты
1982-08-30—Публикация
1971-03-26—Подача