ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗЛ1ЕРЕИИЯ НЕСООСНОСТИ ОБЪЕКТОВ Советский патент 1973 года по МПК G01B11/26 

1

Изобретение относится к измерительной технике пр,и установке осей различных объектов таким образом, чтобы они лежали на одной .прямой, являясь, продолжением одна другой. Такая задача возникает, например, при выверке подшипников главного вала судов, при контроле соосности отверстий передней и задней бабки различных крупногабаритных станков, применяющихся в судостроении и raшиностроении, при провешивании направлений в геодезии и т. д.

Известен фотоэлектрический способ измерения несоосности объектов, заключающийся в том, что устанавливают на одном из измеряемых объектов узел, формирующий параллельный пучок лучей, а на другом - приемное устройство, и по взаимному параллельному смещению оптических осей узла и приемного устройства определяют несоосность объектов. Этот способ основан на использовании так называемой равносИГнальной зоны светового пучка.

При использовании этого способа пучок лучей от щрожектора рассекают плоскостью, проходящей через его ось, на две части, модулированные различными частота.ми /i и /2, и с иомощью приемного устройства измеряют разность лучистых потоков, модулированных ЭТИМИ частотами, которая пропорциональна взаимному параллельному смещению оптических

осей прожектора и объектива нрие.много устройства.

Однако в известном способе малоэффективно использхется лучистый поток от излучателя, вследствие чего чувствительность и точность из.мерений ограничиваются.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что измеряют сдвиг фазы f сигнала после прохождеп.ия пучка лучей через приемное устроГство, а смещения опредеоляют по формуле S -.-, где k - постоянный

коэффициент. Это повышает точность измерения.

На фиг. 1 изображена схема, поясняющая предлагаемый способ; на ф.иг. 2 - график распределення освещенности изображения в случае совпадения оптических осей узла и прлемного устройства; на фиг. 3 - то же в случае их параллельного с.мещения.

Пучок лучей от узла, формирующего парал.лельный пучок лучей, например, коллиматора 1, фокусируется с помощью объектива 2 при5емного оптико-электронного устройства в плоскость анализа изобрал ения 3, где устанавливается растр, например, в виде чередующихся прозрачных п непрозрачных прямых линий, ширина которых равна диаметру изображения диафрагмы коллиматора в плоскости анализа.