ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛАСТИН ИЗ ПРОЗРАЧНОГО Л1АТЕРИАЛА Советский патент 1973 года по МПК G01B11/06 

Описание патента на изобретение SU399723A1

1

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к области бесконтактного измерения толщины пластин из прозрачного материала, например толщины листового стекла.

Известен фотоэлектрический способ измерения толщины пластин из прозрачного материала, например листового стекла, заключающийся в том, что на пластину направляют луч света наклонно к ее поверхности и определяют временной интервал, пропорциональный смещению луча, вызванному его преломлением.

Луч моделируют поперечными смещениями непрозрачного стержня, пространственный сдвиг теневых проекций которого с помощью фотоэлемента преобразуют в сдвинутые но времени сигналы, по разности которых н судят о толщине пластины.

Известный способ, основанньи на иснользовании комплекса оптических явлений «отражение-преломление-отражение-преломление, практически не пригоден для технологического контроля толщины пластины, так как непараллельность (клиновидность пластины) приводит к снижению точности за счет нарушения параллельности отрал енных от обенх поверхностей световых потоков.

Предлагаемый способ отличается тем, что, с целью повышения точности измерения, производят непрерывное сканирование луча в одной плоскости. Толщину определяют по скорости прохождения луча между точками, расположенными в поле сканирования прошедшего через пластину светового луча, которая обратно пропорциональна величине временного интервала.

На чертеже изображена схема измерения толщины листового стекла.

Она содержит источник 1 света, блок 2 сканирования, объектив 3, фотоприемники 4 и 5, цифровой блок 6, высокостабильный генератор 7, счетчик 8, цифровое таб.по 9, измеряе ryю нластину 10.

Предлагаемый способ осун1ествляют следующим образом.

Световой луч от источника 1 света попадает в блок 2 сканирования, который перемещает луч в фокальной плоскости объектива 3 так, что выходящи из объектива 3 луч непрерывно сканирует и, преломляясь в стекле пластины 10, попадает поочередно на фотоприемники 4 и 5, установленные по разные стороны от онтической оси объектива на равном удалении от нее. Импульсы напряжения, возникающие при этом на фотоприемниках 4 и 5, поступают в цифровой блок 6 измерения времени, который онределяет интервал времени между импульсами.

Измерение временного интервала R блоке б осуществляют путем счета импульсов высокостабильиого генератора 7, запуск которо -0 производят импульсом напряжения с фотоприемпика 5, а выключение - импульсом с фотоприемпика 4. Счетчик 8 считает количество импульсов и по окопчаиии счета выдает сигнал па цифровое табло 9, которое осуществляет ипдикацию результата измерения в едипицах толщины.

При изменении толщины стекла п. например при увеличении ее на величину Д/г, скорость прохождения луча света между фотоприемниками уменьшается и, следовательпо, увеличивается временпой интервал между импульсами напряжения с фотоприемпикоз. Этот вреыепной интервал, пропорциональпый новой толошне стекла, регистрируется цифровым блоком 6 измерения времени.

П редмет изобретен п я

Фотоэлектрнческпй способ пз- среипя толщины пластин из прозрачного материала, например листового стекла, заключаюпшися в том что па пластину направляют луч света накло1ню к ее поверхности и измеряют времеппо интервал, пропорцпопальныи смещепию TV4a. вызванному его преломлепием, огшчающийся тем, что, с целью повыпления точиости измерения, производят непрерывное скатшрование луча в одной плоскости, а onзеделение толщины производят по скорости прохождения луча между точками, расположенными в поле сканирования пропшдшего иеоез пластину светового луча, которая ооратнопропорциональна величине временного интервала.

Похожие патенты SU399723A1

название год авторы номер документа
БЕСКОНТАКТНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВОГО 1973
  • А. А. Лик С. И. Кадлец Киевский Филиал Всесоюзного Научно Исследовательского Проектно Конструкторского Института Автоматизации Предпри Тий Промышленности Строительных Материалов
SU376656A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВОГО СТЕКЛА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1998
  • Артюх Е.В.
  • Буреев Ю.К.
  • Карпов А.И.
  • Румянцев В.Н.
RU2146355C1
СКАНИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ СЧИТЫВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ 1998
  • Клевцов В.А.
RU2210108C2
Устройство для дистанционного измерения толщины и расстояний 1984
  • Колесников Александр Георгиевич
  • Хайдаров Александр Вахидович
SU1260683A1
Прибор для спектрального анализа излучения от объектов 2019
  • Кузнецов Николай Сергеевич
RU2706048C1
Бесконтактный измеритель толщины листового стекла 1980
  • Вайнблат Яков Шиманович
  • Хохлов Леонид Федорович
SU920369A2
Способ контроля полосы прозрачного материала на наличие дефектор и устройство для его осуществления 1982
  • Вольфганг Хаубольд
  • Герхард Фарвик
SU1276268A3
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СДВОЕННОСТИ БАНКНОТ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Ардашов М.Г.
  • Беренов Д.А.
  • Гайнанов Д.Н.
  • Дегтярев А.Г.
  • Збрицкий В.Л.
  • Мороз А.В.
  • Нигматуллин Ф.Т.
  • Попов Д.В.
  • Соболев В.О.
  • Терентьев О.В.
RU2173886C1
Устройство для измерения поперечного размера детали 1990
  • Евсеенко Николай Иванович
SU1772612A1
Способ измерения расстояний до объекта и устройство для его осуществления 1990
  • Конюхов Николай Евгеньевич
  • Лиманова Наталия Игоревна
  • Шишкин Алексей Рудольфович
  • Гречишников Владимир Михайлович
SU1779919A1

Иллюстрации к изобретению SU 399 723 A1

Реферат патента 1973 года ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛАСТИН ИЗ ПРОЗРАЧНОГО Л1АТЕРИАЛА

Формула изобретения SU 399 723 A1

SU 399 723 A1

Авторы

Бплик И. Кадлец Киевский Филиал Всесоюзного Научно Исследовательского Проектно Конструкторского Института Автоматизации Предпри Тий Промышленности Строительных Материалов

Даты

1973-01-01Публикация