УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИКОВ В ПОЛОСЕ Советский патент 1973 года по МПК G01R27/26 

1

Изобретение относится к радиоизмерительliioii технике СВЧ.

Устройство может быть использова 1О при излюрении параметров диэлектриков, в частности, для сравнения диэлектрических проницаемостей двух образцов диэлектриков в широкой полосе частот.

. В настоящее время диэлектрические проницаемости образцов диэлектриков сравнивают только иа фиксированных частотах после раздельного измерения диэлектрической проницаемости каждого образца. При уменьшении разницы диэлектрических проницаемостей образцов требуется более высокая точность измерений, ие достигаемая известными устройствами, не позволяющими разделить отражения от исследуемой нерегулярности и от других, находящихся в линии передачи.

Известно устройство для измерения параметров диэлектриков в полосе частот, содержаидес ЧМ-рефлектометр, работающее следуюииьм образом.

В исследуемую систему с распределенны.ми источниками отражения излучают сигнал постоянной амплитуды с модуляцией частоты по линейному (пилообразному) закопу; отраженный от нерегулярностей сигнал смешивается с излученным, и сигнал разностной частоты (биений) подается в индикаторный канал. Вследствие линейности ЧМ частота биений

строго пропорциональна расстоянию от зонда сместителя до исследуемой нерегулярности, т. е. спектр биений повторяет распределение источииков отражения вдоль исследуемой системы. Это позволяет с помощью НЧ перестраиваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источиик отражения и по амплитуде биеннй определить значеиие этого отражения.

С целью измерения разница диэлектрических проницаемостей двух образцов диэлектриков, в предлагаемом устройстве к выходу ЧМрефлектометра подключают отрезок линии передачи с, эталонным образцом диэлектрика, а

измеряемый образец помещают за опорным образцом диэлектрика вплотиую к нему; Ч.Мрефлектометр настраивают на измерение коэффициента отраження нергулярности, образованной границей раздела оиорного и измеряемого образцов диэлектриков.

Па чертеже представлена блок-схема устройства.

СВЧ сигнал, распространяющийся в отрезке линии передачи, отражается от передней грани

эталонного образца, от общей грани эталонного и измеряемого образцов, от задпей грани измеряемого образца. Сигнал, отраженный от общей грани образцов, возвращаясь на выход ЧМ рефлектора, частично отражается при прохождении передней грани эталонного образца.