В П Т Б Советский патент 1973 года по МПК G01R27/32 

Описание патента на изобретение SU406172A1

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОСЛАБЛЕНИЯ ПРОХОДНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ СВЧ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТ

1

Изобретеиие относится к радноизмерительиой техиике СВЧ.

Известиы устройства для измерения ослаблеиия ироходиых элементов СВЧ в иол-осе частот, в которых измеряемый элемент включают между двумя датчиками проходящей мощности. При одинаковых частотиых характеристиках датчиков ослаблеиня оиределяют ио отношению ноказаиий датчиков. Однако эти устройства характеризуются значительной иогрешностью измерения, часть которой обусловлеиа рассогласоваиием. (собственным отражением датчиков, нагрузки иереходных элементов и др.). При измерении малых ослаблеиий иогрешиость рассогласования является доминирующей, и уменьщение ее применением ирецизионных эле.меитов с малым собственным отражением не всегда возможно.

Известен ЧМ-рефлектомстр для измерения модуля коэффициента отражения иерегулярностей в иередающих линиях и оконечных устройств СВЧ диаиазоиа.

Метод ЧМ-рефлектометрин заключается в следуюи1ем: в исследуемую систему с распределенными источниками отражения излучают сигнал постоянной амплитуды с модуляцией частоты по линейному (пилообразному) закону; отраженный от нерегулярибстёй сигнал смешивается с излученнным, и сигнал разностной частоты (биетитй) подается на индикаториый канал. Вследствие линейност ЧМ частота биеиий строго иропорциональиа расстояиию до исследуемой нерегуляриости, т- е. сиектр биений повторяет распределение источников отражения вдоль исследуемо линни. Это иозволяет с иомощью НЧ перестраиваемого полосового фильтра выделить любой конкретный источник отражения и но амплитуде биений определить значение этого отражения.

0 Измерив изменение в течение периода ЧМ зоидирующего сигнала амплитуды конкретных биений (1 апример, с иомощью осциллографа с разверткой, синхронизированной с периодом ЧМ), т. е. его огибающую, можно выявить

5 и частотную зависимость модуля коэффициеита отражения соответствующей нерегулярности.

Однако известное ycTpoiicTso ite нозволяет измерять ослабление проходных элемеитои

0 СВЧ.

Цель изобретеиня - устранение иогрещиости рассогласования ири измерении ослабления

ироходиых элемеитов СВЧ в полосе частот.

Предлагаемое устройство отличается тем,

5 чтб ЧМ-рефлектометр использован в совокупности с иодключенной к выходу измеряемого элемента калиброванной по коэффициенту отражения СВЧ-нагрузкой (мерой КСВ), представляющей собой некоторую расчетную нере0 гулярность (индуктивного, емкостного или

смешанного типа) в отрезке передающей линии или отрезок передающей линии, нагруженной калиброванным активным сопротивлением.

Меры КСВ выпускаются серийно; они предназначены для настройки, поверки и калиб РОБКИ измерителей КСВ в полосе частот.

Блок-схема устройства представлена на чертеже.

Вход измеряемого проходного элемента СЕЧ подключают к выходу ЧМ-рефлектометра, к выходу измеряемого проходного элемента подключают меру КСВ частотная характеристика которой в рассматриваемой полосе частот известна. ЧМ-рефлектометр настроен на намерение коэффициента отражения меры КСВ. Так как при прохождении через измеряемый проходной элемент СВЧ ослабевают оба сигнала - и падающий (распространяющийся от ЧМ-рефлектометра к мере КСВ) и отраженный (распространяющийся от меры КСВ к ЧМ-рефлектометру), то измеренное ЧМ-рефлектометром значение коэффициента отражения меры КСВ отличается от действительного, причем отношение истинного значения коэффициента отражения меры КСВ к измеряемому равно квадрату коэффициента отражения измеряемого проходного элемента СВЧ.

Если использована СВЧ-нагрузка (мера КСВ), коэффициент отражения которой в исследуемой полосе частот от частоты не зависит, экран осциллоскопа ЧМ-рефлектометра можно отградуировать непосредственно в значениях квадрата коэффициента ослабления. Устройство наиболее эффективно при измерении с высокой точностью малых коэффициентов ослабления.

Предмет изобретения

Устройство для измерения ослабления проходных элементов СВЧ в полосе частот, содержащее ЧМ-рефлектометр, отличающееся тем, что, с целью устранения погрещности рассогласования, измеряемый проходной элемент СВЧ включают между ЧМ-рефлектометром и калиброванной по коэффициенту отражения СВЧ-нагрузкой.

Похожие патенты SU406172A1

название год авторы номер документа
ЧМ-РЕФЛЕКТОМЕТР 1973
  • Витель В. И. Захаров Виблиотеиа
SU372514A1
СПОСОБ ПАНОРАМНОГО ИЗМЕРЕНИЯ МОДУЛЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ СВЧ ДВУХПОЛЮСНИКА 2002
  • Чупров И.И.
  • Лобынцев С.В.
RU2253874C2
Чм-рефлектометр 1979
  • Власов Михаил Максимович
SU853567A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИКОВ В ПОЛОСЕ 1973
  • Витель В. И. Захаров
SU406171A1
Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот 1979
  • Власов Михаил Максимович
  • Чернухин Николай Константинович
SU907466A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА СТОЯЧЕЙ ВОЛНЫ 1971
SU301643A1
СВЧ-РЕФЛЕКТОМЕТР 2001
  • Никулин С.М.
  • Хилов В.П.
  • Налькин М.Е.
RU2207580C1
Устройство для допускового контроля КСВ 1989
  • Кориневский Лев Аркадьевич
  • Хацанский Вилен Михайлович
SU1741085A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СВЧ ЧЕТЫРЕХПОЛЮСНИКОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Никулин С.М.
  • Хилов В.П.
  • Налькин М.Е.
RU2233454C2
ЧЕТЫРЕХЗОНДОВЫЙ АВТОМАТИЧЕСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ПАРАМЕТРОВ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ТРАКТОВ 1967
SU194893A1

Иллюстрации к изобретению SU 406 172 A1

Реферат патента 1973 года В П Т Б

Формула изобретения SU 406 172 A1

измераемъш

(п8но11

элег- ентп CBtf

Мера BfjfpaweHva

SU 406 172 A1

Авторы

Авторы Изобретени

Институт Метрологии

Даты

1973-01-01Публикация