(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ПРОХОДНЫХ СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ В ПОЛОСЕ ЧАСТОТ
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Чм-рефлектометр | 1979 |
|
SU853567A1 |
| В П Т Б | 1973 |
|
SU406172A1 |
| Способ измерения параметров проходных сверхвысокочастотных элементов | 1982 |
|
SU1141344A2 |
| Автоматический измеритель полных сопротивлений | 1980 |
|
SU907462A1 |
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИСПЕРСИОННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ РЕГУЛЯРНОЙ ЛИНИИ ПЕРЕДАЧИ В РЕЖИМЕ РАССОГЛАСОВАННОГО ТРАКТА МЕТОДОМ ФИКСИРОВАННОЙ ФАЗЫ | 1997 |
|
RU2136009C1 |
| УСТРОЙСТВО РАДИОЛОКАЦИОННОЙ СТАНЦИИ С НЕПРЕРЫВНЫМ ЛИНЕЙНО-ЧАСТОТНО-МОДУЛИРОВАННЫМ СИГНАЛОМ И СИНТЕЗОМ АПЕРТУРЫ | 2017 |
|
RU2660450C1 |
| СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ КОГЕРЕНТНОГО ЧАСТОТНО-МОДУЛИРОВАННОГО СИГНАЛА ДЛЯ РЛС С ПЕРИОДИЧЕСКОЙ ЧМ МОДУЛЯЦИЕЙ И УСТРОЙСТВО, РЕАЛИЗУЮЩЕЕ СПОСОБ | 2006 |
|
RU2347235C2 |
| Способ измерения @ -параметров многополюсника | 1984 |
|
SU1224745A1 |
| Устройство для измерения группового времени запаздывания четырехполюсников | 1986 |
|
SU1357865A1 |
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОДНОРОДНОЙ ЛИНИИ ПЕРЕДАЧИ | 1992 |
|
RU2102769C1 |
Изобретение относится к радиоизмерительной технике.
Известно устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента и эталонную нагрузк/ 1.
Однако известное устройство не обеспечивает высокую точность измерений .
Цель изобретения - повышение точности измерений.
Поставленная цель достигается тем, что в устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента, и эталонную нагрузку, введен отрезок регулярного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке, а его вход служит для подключения выхода исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента.
На чертеже приведена структурная схема устройства.
Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот содержит частотно-модулированный рефлектометр 1 с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2, эталон10ную нагрузку 3 и отрезок 4 регулярного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке 3, а его вход служит для подключения выхода исследуемого
15 проходного.сверхвысокочастотного элемента 2.
Устройство работает следующим образом.
Зондирующий линейно-частотно-мо20дулированный (ЛЧМ) сверхвысокочастотный (СЕЧ) сигнал частотно-модулированного рефлектора 1 распространяется через исследуемый проходной сверхвысокочастотный элемент,отрезок 4 регулярного сверхвысокочастотного трак та и отразившись от эталонной нагрузки з, распрастраняется обратно.
В частотно-модулированном рефлекторе 1 происходит смешение отраженного СЕЧ сигнала с опорным ЛЧМ сигНсшом квадратурным смесителем. Амплитуды квадратурных низкочастотных сигнашов (биений), полученные на выходе смесителя, определяются коэффициентом отражения эталонной нагрузки 3, и промодулированы частотной характеристикой исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2 и отражениями от неоднородностей отрезка 4. Причем частота модуляции за счет отражений тем выше, чем даль ше по расстоянию разнесены плосйость отражения эталонной нагрузки 3 и местоположение нерегулярностей отреЗ ка 4. Частота модудяции за счет частотной характеристики иссле .уемого проходного сверхвысокочастотного эле мента 2 определяется только параметрами ЛЧМ сигнала и не зависит от длины отрезка 4. Поскольку частотные составляющие спектров квадратурных сигналов, определенные отражениями от неоднородностей, представляют собой ошибку измерения и отфильтровываются фильтрами частотно-модулированного рефлектометра 1, а частотные составляющие спектров, определяющие частотную характеристику исследуемого проходного с верхвысокочастотного элемента 2 должны пройти в полосу пропускания фильтров, длина отрезка 4 выбирается не менее электрической длины исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента 2. Устройство по сравнению с известным обеспечивает более высокую точность измерений. Формула изобретения Устройство для измерения характеристик проходных сверхвысокочастотных элементов в полосе частот, содержащее частотно-модулированный рефлектометр с клеммами для подключения входа исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента, и эталонную нагрузку, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, введен отрезок регулярного сверхвысокочастотного тракта, выход которого подсоединен к эталонной нагрузке, а его вход служит для подключения выхода исследуемого проходного сверхвысокочастотного элемента. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельстпо СССР № 406172, кл. G 01 R 27/28, 1971 (прототип)
