Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов по импульсным параметрам Советский патент 1974 года по МПК G01R31/26 

1

Изобретение относится к устройствам для измерения импульсных параметров полупроводниковых приборов в режиме феррит-транзисторной ячейки (ФТЯ).

При производстве транзисторов для ФТЯ измеряемыми импульсными параметрами являются; длительность нарастания импульса коллекторного тока ton, длительность вершины импульса коллекторног тока to-u и длительность спада импульса коллекторного тока ояРазбраковку полупроводниковых приборов по импульсным параметрам можно осуществить посредством измерения параметров и оценки их оператором. Такая разбраковка малопроизводительна, неточна и не поддается автоматизации.

Целью изобретения является автоматизация процесса разбраковки транзисторов по импульсным параметрам, обеспечивающая высокую точность и производительность.

Поставленная цель достигнута использованием дешифратора, входы которого соединены с выходами амплитудных квазиселекторов, а выход соединен с индикатором и коммутатором базовых резисторов.

На чертеже приведена блок-схема предложенного устройства для разбраковки полупроводниковых приборов.

Устройство работает следующим образом.

ФТЯ на испытуемом транзисторе 1 выдает трапециевидные импульсы, параметры которых зависят от переключаемых сопротивлений в цепи базы испытуемого транзистора. Эти трапециевидные импульсы поступают на дифференцирующие цепи 2, 3 и ограничитель 4. С выхода дифференцирующей цепи 2 импульсы, амплитуда которых пропорциональна ton, поступают на усилитель 5 и затем на квазиселектор 6. Если /on соответствует заданной длительности фронта, на дешифратор 7 подается сигнал о годности данного транзистора по tonС выхода дифференцирующей цепи 3 импульсы, амплитуда которых пропорциональна toff, инвертируются и поступают на усилитель 8, а затем на квазиселектор 9. Если toji соответствует заданной длительности спада, на дешифратор подается сигнал о годности данного транзистора по /о//.

При разбраковке транзисторов по tov трапециевидные импульсы ограничиваются снизу на уровне 0,9 U ограничителем 4. С выхода ограничителя 4 трапециевидные импульсы, длительность которых равна tov, подаются на триггер Шмидта 10 для преобразования в прямоугольные импульсы длительностью tov Эти импульсы управляют генератором пилообразного напряжения 11. Для увеличения разрешающей способности устройства, пилообразные импульсы, амплитуда которых пропорциональна tov, ограничиваются снизу ограничителем пилообразных импульсов 12. Затем эти импульсы усиливаются усилителем 13 и поступают на амплитудный квазиселектор 14.

Если величина о-у соответствует заданной величине длительности вершины, на дешифратор 7 поступает сигнал о годности транзистофа по tov.

Если величины параметров ton, tov и о// соответствуют заданным, индикатор 15 в зависимости от сопротивления в цепи базы фиксирует группу прибора. Синхронно с выключателем сопротивлений в цепи базы испытуемого транзистора ФТЯ коммутируется и цепь индикатора 15. После иахождения сопротивления, при котором параметры ton, tov и toff соответствуют заданным, переключатель сопротивлений 16 останавливается.

Пределы разбраковки установки задаются опорными напряжениями компарторов амплитудных квазиселекторов. Количество амплитудных квазиселекторов зависит от числа диапазонов параметров ton, tov и toff.

Предмет изобретения

Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов по импульсным параметрам,

содержащее преобразователь длительности импульса в амплитуду, преобразователь фронта импульса в амплитуду, преобразователь спада импульса в амплитуду и амплитудные квазиселекторы, отличающееся тем, что,

с целью автоматизации процесса измерений, оно содержит дешифратор, входы которого соединены с выходами амплитудных квазиселекторов, а выход соединен с индикатором и коммутатором базовых резисторов.