Ультразвуковой импульсный теневой дефектоскоп Советский патент 1974 года по МПК G01N29/04 

Описание патента на изобретение SU451944A1

(54) УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ИМПУЛЬСНЫЙ ТЕНЕВОЙ ДЕФЕКТОСКОП

Похожие патенты SU451944A1

название год авторы номер документа
Ультразвуковой дефектоскоп 1975
  • Шаповалов Петр Филиппович
  • Бордюгов Григорий Тихонович
  • Грозман Арнольд Моисеевич
SU564592A1
Ультразвуковой дефектоскоп 1978
  • Веревкин Владимир Михайлович
  • Голубев Александр Сергеевич
  • Каширин Валентин Алексеевич
SU832458A1
Многоканальный теневой ультразвуковой дефектоскоп 1981
  • Голубев Александр Сергеевич
  • Добротин Дмитрий Дмитриевич
  • Мамистов Сергей Валентинович
  • Паврос Сергей Константинович
SU1062598A1
Ультразвуковой зеркально-теневой дефектоскоп 1987
  • Марков Анатолий Аркадьевич
  • Лир Вячеслав Юрьевич
  • Генин Аркадий Яковлевич
SU1525568A1
УСТРОЙСТВО УЛЬТРАЗВУКОВОГО БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ФОЛЬГОПРОКАТА И ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЕНОК 2005
  • Казинцев Владимир Александрович
RU2314493C2
Ультразвуковой дефектоскоп 1981
  • Иванов Алексей Евгеньевич
  • Ильин Владимир Алексеевич
  • Титов Юрий Андреевич
  • Урбах Владимир Изович
  • Шелковый Владимир Алексеевич
SU1043555A1
Ультразвуковой теневой иммерсионный дефектоскоп 1980
  • Артемов Валерий Евгеньевич
  • Голубев Александр Сергеевич
  • Добротин Дмитрий Дмитриевич
  • Паврос Сергей Константинович
SU932395A1
Способ ультразвукового контроля изделий и устройство для его осуществления 1990
  • Добрейцин Евгений Борисович
  • Любимов Александр Моисеевич
  • Иванский Артур Эдуардович
SU1727050A1
Способ контроля сварного шва 1961
  • Виксман Е.Б.
  • Крюков Г.Я.
  • Маршак В.И.
  • Морозов А.И.
SU150689A1
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ТОЛЩИНОМЕР ИЛИ ГЛУБИНОМЕР ДЕФЕКТОСКОПА 1994
  • Козлов В.Н.
  • Самокрутов А.А.
  • Шевалдыкин В.Г.
RU2082160C1

Иллюстрации к изобретению SU 451 944 A1

Реферат патента 1974 года Ультразвуковой импульсный теневой дефектоскоп

Формула изобретения SU 451 944 A1

Изобретение относится к области ультразвуковой дефектоскопии и может быть использовано для контроля листов.

Известен ультразвуковой импульсный теневой дефектоскоп, содержащий генератор импульсов, соединенные с ним излучающие преобразователи, усилитель, соединенные с ним приемные преобразователи, и блок регистрации, подюцоченный к выходу усилителя.

Однако известный дефектоскоп характеризуется низкой надежностью контроля изза высокой чувствительности к сигналам помех.

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что блок регистрации выполнен в виде параллельно соединенных емкостного накопителя, разрядного каскада и детектора широтно-импульсной модуляции, вход емкостного накопителя соединен с генератэром импульсов, а вход разрядного каскада - с выходом усилителя.

Такое вьгаолнениё позволяет повысить помехоустойчивость устройства, а следовательно, и надежность контроля.

На фиг. 1 приведена схема предлагав-

мого устройства; на фиг. 2 - эпюра най. ряжений.

Дефектоскоп, основанный на теневом импульсном методе контроля, содержит ульт развуковые излучающие преобразователи 1,

соединенные с импульсным генератором 2, и приемные ультразвуковые преобразователи 3, соединенные с усилителем 4. Генера тор 2 соединен с емкостным накопителем 5, представляющим собой катодный повторитель с нагрузкой в виде конденсатора 6, который в свою оч ередь подключен к выходу разрядного ; каскада 7, . соединенного с усилителем 4, и к детектору 8 широтноимпульсной модуляции.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Генератор 2 возбуждает (см. фиг. 2, кривая Q) поочередно излучающие преобразоватеяи 1, которые создают ультразвуко

вые колебания в контролируемом изделии

9. Сигналы приемных преобразователей 3 (см. фиг. 2, кривая Д) через усилитель 4поступают на разрядный каскад 7, а импульсыс генератора 2 - на вход емкрстного 11акопителя 5.

На фиг. 2 кривая 0 показывает форму напряжения на конденсаторе 6 емкостного накопителя при трехканальном дефектоскопе в том случае, когда в изделии на пути ультразвуковых колебаний второго канала находится дефект и соответствующий сигна на приемном преобразователе отсутствует. Импульсы генератора 2 вызьгоают заряд конденсатора 6 емкостного накопителя через лампу катодного повторителя, а импульсы с усилителя 4 - разряд через разрядный каскад 7.

Таким образом, в случае бездефектного изделия на конденсаторе емкостного нако- пителя образуется импульс напряжения, дли.тельность Гт которого равна времени импульса ультразвуковых кол баний по акустическому тракту дефектоскоI па. - ; . 1 ЕсЖ Хотя бьГ одном из акустических каналов сигнал отсутствует из-за наличия j дефекта в контролируемом изделии, то раз- I ряд конденсатора емкостного накопителя I происходит при следующем цикле работы, .вследствие чего д;штельнрс5Ь ва

.конденсаторе будет равна Гп

- ffp -- . . где I - временной ; интервал между импуль- сами гейефатора 2. -г-/ хтНа ф. ;2 видно, ( « вследствие чего Двтекэрор 8 широтко-импульсной модуляции генерирует импуйьс (кривая г) только при обнаружении дефекта. По по$ш-ч лению этого импульса судят о наличии дефекта в контролируемом изделии.

Предмет изобреУ тения

Ультразвуковой импульсный теневой ; дефектоскоп, содержащий генератор импулы сов, соединенные с ним излучающие преобразователи, усилитель, соединенные с ним приемные преобразователи и блок регист рации, подключенньгй к выходу усилителя, отличаю щ p, с я тем, что, с , целью повыщения надежности контроля, блок регистрации выполнен в виде параллельно соединенных емкостного накопителя разрядного каскада и детектора щиротноиКлпульсной модуляции, вход емкостного накопителя соединен с генератором импуль-

{СОВ, а вход разрядного каскада - с с)ыхо- |дом усилителя.

SU 451 944 A1

Авторы

Федоров Юрий Николаевич

Даты

1974-11-30Публикация

1972-12-26Подача