Устройство для измерения концентрации носителей тока в полупроводниках Советский патент 1975 года по МПК H01L21/66 G01R31/26 

Описание патента на изобретение SU456203A1

1

Изобретение относится к измерительной технике.

Известны устройства для бесконтактного измерения концентрации носителей то:ка в полупроводниках, содержащие средства воздействия «а полупроводниковый материал электромагнитным излучением « средства -индикация характера взаимодействия излучения с полупроводииковым материалом.

Такие устройства не отличаются высокой точностью, так ка.к возбуждение геликонной ВОЛ1НЫ производится во всем объеме исследуемого образца и, следовательно, измеряется только среднее значение концентрации носителей тока всего объема образца.

С целью повышения точности измерений в предложенном устройстве образец закреплен на держателе, перемещающемся перпендикулярно оси волновода, открытый конец которого сужен и помещен перпендикулярно плоскостям полюсов электромагнита. Между полюсами находится датчик магнитного поля, соединенный со 1входом двухкоординатного самописца.

Предложенное устройство схематично показано на чертеже.

Исследуемый полупроводниковый образец 1 закреплен на держателе 2, выполненном из немагнитного материала и снабженном шкальным механизмом 3 и винтовым приводом 4.

К плоской поверхности образца 1 прижат суженный конец отрезка прялюугольного волновода 5. Другой конец отрезка волновода со стандартным поперечным сечением подключен к пря.моугольному волноводу 6, который соединен с направленным ответвителем 7. Одна ветвь ответвителя через развязывающий аттенюатор 8 соединена с выходом генератора 9, а другая - с детектором 10, выход которого

через усилитель 11 соединен с У-входом двухкоординатного самописца 12. X - вход самописца 12 соединен с выходом датчика 13 магнитного поля, фиксирующего напряженность магнитного поля при наступлении геликоНПого

резонанса и помещенного между полюсами 14, 15 электромагнита.

При измерении концентрации носителей тока с помощью электромагнита в исследуемом образце 1 создают магнитное поле, а через суженный конец прямоугольного волновода 5 возбуждают геликонную волну в определенном месте образца 1. Изменяя напряженность магнитного поля, добиваются возникновения геликонного резонанса в образце 1, что проявляется в уменьшении сигнала, отраженного от образца, до минимального значения. Отраженный сигнал через ответвитель 7 поступает к детектору 10, где детектируется и подается на вход усилителя И. С выхода усилителя

сигнал поступает на У:1вход двухкоординатно

Похожие патенты SU456203A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения концентрации носителей тока в полупроводнике 1977
  • Виткус Альгирдас Мечислово
  • Лауринавичус Альбертас Казио
  • Пожела Юрас Карлович
SU731402A1
Устройство для измерения концентрации и подвижности носителей тока в полупроводниках 1981
  • Виткус Альгирдас Мечисловович
  • Лауринавичюс Альбертас Казевич
  • Малакаускас Повилас Зенонович
  • Пожела Юрас Карлович
SU1038891A1
Устройство для бесконтактного измерения параметров полупроводниковых материалов 1985
  • Лауринавичюс Лаймис Вацловович
SU1345100A1
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУРАХ НА ПОЛУИЗОЛИРУЮЩИХ ПОДЛОЖКАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1995
  • Принц В.Я.
  • Панаев И.А.
RU2097872C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КВАНТОВАННОГО ХОЛЛОВСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2016
  • Корнилович Александр Антонович
  • Литвинов Владимир Георгиевич
RU2654935C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ СВОБОДНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ 1991
  • Корнилович А.А.
  • Студеникин С.А.
  • Булдыгин А.Ф.
RU2037911C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КВАНТОВАННОГО ХОЛЛОВСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ 2007
  • Корнилович Александр Антонович
RU2368982C2
Способ измерения эффективной массы носителей тока в полупроводниках на свч 1978
  • Давыдов Альберт Борисович
  • Захаров Владимир Алексеевич
  • Штрапенин Геннадий Львович
SU742788A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ВЫРОЖДЕННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКАХ 1989
  • Корнилович А.А.
  • Уваров Е.И.
  • Студеникин С.А.
SU1694018A1
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ СТРУКТУРЕ 2018
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Постельга Александр Эдуардович
  • Шаров Игорь Викторович
  • Калямин Алексей Александрович
RU2679463C1

Иллюстрации к изобретению SU 456 203 A1

Реферат патента 1975 года Устройство для измерения концентрации носителей тока в полупроводниках

Формула изобретения SU 456 203 A1

SU 456 203 A1

Авторы

Лауринавичюс Альбертас Казио

Пожела Юрас Карлович

Даты

1975-01-05Публикация

1972-12-20Подача