Способ измерения эффективной массы носителей тока в полупроводниках на свч Советский патент 1980 года по МПК G01N27/78 

Описание патента на изобретение SU742788A1

и cfeHKaiiiH волновода обеспечивает закорачивание токов деполяризации на стенки волновода и устраняет деполяризующие поля, препятствующие наблюдению циклотронного резонанса.

На фиг. 1 приведена блок-схема установки для реализации способа; на фиг. 2 показана зависимость прошедшей через образец мощности от напряжения магнитного поля.

Установка состоит из генератора 1, развязывающего аттенюатора 2, перехода с прямоугольного волновода на круглый 3, поляризатора 4, измерительного волновода 6, полупроводникового образца б, перехода с круглого волновода на прямоугольный 7, кристаллического детектора 8, селективного усилителя 9, двухкоординатного самописца 10, соленоида 11, источника питания соленоида 12,дьюара 13 с жидким азотом.

Работает установка следующим образом.

СВЧ КОлебания от генератора 1 через аттенюатор 2, переход с прямоугольного волновода на круглый 3 и поляризатор 4, в качестве которого служит отрезок эллиптического волновода, поступают в измерительный волновод 5, изготовленный из мельхиора. В измерительный волновод 5 низкоомным припоем впаивается полупроводниковый образец 6. Монтаж образца схематически показан на вставке 1. Мощность, прошедшая через образец 6, фиксируется кристаллическим детектором 8, и после усиления селективным усилителем 9 поступает на У-вход двухкоординатного самописца 10. На вход-Х самописца 10 поступает сигнал от источника питания соленоида 12, пропорциональный магнитному полю в соленоиде 11. Соленоид 11, образец 6 и измерительный волновод 5 помещают в дьюар 13 с жидким азотом.

П р и м.е р. Образец в виде пластины толщиной d 0,35 мм диаметром 6,2 мм помещают в волно вод. Электрический контакт между стенками волновода и образцом осуществляют путем впаивания образца сплавом Вуда.

Образец облучают излучением частотой 36875 МГц. Полученная зависимость прошедшей через образец мощ ности оси напряженности магнитного 5 поля показана на фиг. 2.

Напряженность 175 соответствует минимуму проходящей через образец мощности. Для образца с концентрацией носителей 1 7,1 ГО под0 вижностью 6,2- 10 при температуре 77°К получено значение эффективной массы ,01331 0 где irtp- масса свободного электрона.

Полученные значение кп согласуют5 ся с литературными данными.

Формула изобретения

20Способ измерения эффективной массы носителей тока в полупроводниках на СВЧ, включающий помещение полупроводникового образца в магнитное поле, облучение образца циркулярно

поляризованным СВЧ излучением, измерение напряженности магнитного поля, при которой проходящая через полупроводниковый образец мощность минимальна и вычисление эффективной массы носителей тока по известной

0 зависимости, отл и чающий с я тем, что, с целью упрощения и повышения точности определения эффективной массы носителей тока в полупроводниках с высокой концентра5 цией носителей тока, образец помещают в волновод и осуществляют электрический контакт между образцом и стенками волновода по периметру поперечного сечения волновода.

0Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР кл. G01- R 31/26, 1975.

2.Leotin J,, Ousset J. С., Barf baste R., Askenazy S., SkoBnick M.C.,

StradEing R. A., PoCbCand Q. SoEid State Communs 1975, 16, № 4, p. 363-366 (прототип).

S

Фиг.1

Похожие патенты SU742788A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения концентрации и подвижности носителей тока в полупроводниках 1981
  • Виткус Альгирдас Мечисловович
  • Лауринавичюс Альбертас Казевич
  • Малакаускас Повилас Зенонович
  • Пожела Юрас Карлович
SU1038891A1
УСТРОЙСТВО для БЕСКОНТАКТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ 1970
SU285073A1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КВАНТОВАННОГО ХОЛЛОВСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ 2007
  • Корнилович Александр Антонович
RU2368982C2
Устройство для измерения концентрации носителей тока в полупроводниках 1972
  • Лауринавичюс Альбертас Казио
  • Пожела Юрас Карлович
SU456203A1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ СВОБОДНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ 1991
  • Корнилович А.А.
  • Студеникин С.А.
  • Булдыгин А.Ф.
RU2037911C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ КВАНТОВАННОГО ХОЛЛОВСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2016
  • Корнилович Александр Антонович
  • Литвинов Владимир Георгиевич
RU2654935C1
Устройство для измерения концентрации носителей тока в полупроводнике 1977
  • Виткус Альгирдас Мечислово
  • Лауринавичус Альбертас Казио
  • Пожела Юрас Карлович
SU731402A1
НЕРАЗРУШАЮЩИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОДВИЖНОСТИ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУРАХ НА ПОЛУИЗОЛИРУЮЩИХ ПОДЛОЖКАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1995
  • Принц В.Я.
  • Панаев И.А.
RU2097872C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ БЕСКОНТАКТНЫМ СВЧ МЕТОДОМ 2010
  • Владимиров Валерий Михайлович
  • Марков Владимир Витальевич
  • Мартыновский Владимир Николаевич
  • Шепов Владимир Николаевич
RU2430383C1
Датчик электрофизических параметров полупроводников 1983
  • Медведев Юрий Васильевич
  • Петров Алексей Сергеевич
  • Скрыльников Александр Аркадьевич
  • Катанухин Владимир Константинович
SU1148006A1

Иллюстрации к изобретению SU 742 788 A1

Реферат патента 1980 года Способ измерения эффективной массы носителей тока в полупроводниках на свч

Формула изобретения SU 742 788 A1

SU 742 788 A1

Авторы

Давыдов Альберт Борисович

Захаров Владимир Алексеевич

Штрапенин Геннадий Львович

Даты

1980-06-25Публикация

1978-03-16Подача