Способ фокусировки микроскопа Советский патент 1975 года по МПК G02B27/40 

Описание патента на изобретение SU474776A1

1

Изобретение относится к области измерения оптическими микроскопами.

Известен способ совмещения двух плоскостей наводки в микроскопах, исключающий перефокусировку, основанный на компенсации хода луча и приводящий два изображения в одну плоскость без нарущения масщтаба. Такой способ позволяет измерять расстояния между двумя точками, лежащими в разных плоскостях, и исключает дополнительную ощибку за счет лерефокусировки, возникающую в результате нарущения положения оптпческой оси из-за несовершенства кинематики и оптики.

Цель изобретения-уменьщить погрещность измерения расстояний между проекциями элементов объекта наблюдения, разноудаленных от объектива, на плоскость, перпендикулярную к оптической оси объектива, повысить плавность фокусировки и упростить дистанционное управление.

Это достигается тем, что изменяют расположенный между объективами и объектом наблюдения уровень поверхности жидкости, в которую объект предварительно погружают, до возникновения в поле зрения микроскопа резкого изображения объекта или элементов объекта наблюдения.

Чертеж иллюстрирует предлагаемый способ.

Объект измерения 1, представляющий собой ступенчатое тело со штрихами А, В, С, D и т. д., нанесенными на его поверхность, разноудаленными по вертикали от основания объекта измерения, помещен в ванну 2 с жидкостью 3. Ванна размещена на подвижном столе микроскопа УИМ-21.

Измерения производят в следующем порядке.

Совмещая оптическую ось объектива с областью А, фокусируют микроскоп на поверхность АВ. Далее совмещают оптическую ось объектива со щтрихом А и записывают координату. Передвигая стол, совмещают ось объектива с областью С и изменяют положение по вертикали сообщающегося с ванной сосуда

в том направлении и на столько, чтобы в поле зрения микроскопа возникло резкое изображение плоскости, на которой нанесен щтрих. Совмещая ось объектива с точкой С, определяют ее координату. Разность координат точек Л и С есть величина Ь.

Способ может быть особо рекомендован для иммерсионно-оптических измерений стеклоизделий, поскольку при этих измерениях объект уже находится в жидкости.

Предмет изобретения

Способ фокусировки микроскопа на объект или элементы объекта наблюдения, отличающийся тем, что, с целью уменьшения погрешности измерения расстояний между проекциями элементов объекта наблюдения, разноудаленных от объектива, на плоскость, перпендикулярную к оптической оси объектива.

повышения плавности фокусировки и упрошения дистанционного управления, изменяют расположенный между объективами и объектом наблюдения уровень поверхности жидкости, в которую объект предварительно погружают, до .возникновения в поле зрения микроскопа резкого изображения объекта или элементов объекта наблюдения.

Похожие патенты SU474776A1

название год авторы номер документа
ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ НАПРАВЛЯЮЩИХ 1968
SU231848A1
СТЕРЕОПРОЕКЦИОННАЯ СИСТЕМА 2005
  • Арсенич Святослав Иванович
RU2322771C2
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ЦЕЛЕЙ НА ОСНОВЕ РЕГИСТРАЦИИ И ОБРАБОТКИ ХОДА ЛУЧЕЙ ОТ ОБЪЕКТОВ В НАБЛЮДАЕМОМ ПРОСТРАНСТВЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2021
  • Махов Владимир Евгеньевич
  • Широбоков Владислав Владимирович
  • Закутаев Александр Александрович
  • Кошкаров Александр Сергеевич
  • Петрушенко Владимир Михайлович
RU2760845C1
Способ дистанционного контроля угловых перемещений объектов 1974
  • Цуккерман Соломон Тобиосович
SU510642A1
СПОСОБ АНИЗОТРОПНОЙ РЕГИСТРАЦИИ СВЕТОВОГО ПОЛЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2022
  • Махов Владимир Евгеньевич
  • Широбоков Владислав Владимирович
  • Закутаев Александр Александрович
  • Петрушенко Владимир Михайлович
  • Олейников Максим Иванович
RU2790049C1
АВТОКОЛЛИМАЦИОННЫЙ ЭНДОСКОП 2002
  • Кеткович А.А.
  • Маклашевский В.Я.
RU2235349C2
БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ, ИЗНОСА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2003
  • Терещенко В.Г.
RU2252394C1
ВИЗИРНАЯ СИСТЕМА ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ФОТОГРАММЕТРИЧЕСКИХ КАМЕР 1973
  • Э. М. Лившиц Д. М. Рум Нцев
SU369533A1
Устройство для измерения перемещения светового луча по одной координате на объекте 1974
  • Петров Вячеслав Васильевич
  • Леонец Владимир Адамович
SU526769A1
Способ определения планового положения точек объекта и устройство для его осуществления 1981
  • Киваев Анатолий Иванович
  • Труханов Алексей Энгелевич
  • Пантелеев Владимир Петрович
  • Шумилова Ирина Константиновна
SU979852A1

Иллюстрации к изобретению SU 474 776 A1

Реферат патента 1975 года Способ фокусировки микроскопа

Формула изобретения SU 474 776 A1

У////

SU 474 776 A1

Авторы

Гуревич Лев Евсеевич

Даты

1975-06-25Публикация

1973-06-01Подача