Способ абсорбционного спектрального анализа паров и газов Советский патент 1975 года по МПК G01N21/00 

Изобретение относится к технике абсорбционного спектрального анализа паров и газов. Известен способ абсорбционного анализа, по которому анализируемый пар или газ, имеющий линию поглощения, соответствующую определяемому компоненту, осведают светом от источника, имеющего в спектре излучения уширенную линию, совпадающую с полосой поглощения определяемого компакта. О содержании компонента судят на основании сравнения излучения, прошедшего через газ, и излучения, прошедшего через оптический фильтр в виде пара с гораздо большей концентрацией определяемого компонента, чем в анализируемом. Для повышения чувствительности и точности анализа согласно предлагаемому способу регистрируют два участка внутр|1 контура линии излучения, прошедшего через анализируемый газ,спектральная ширина которых сравнима со спектральной шириной линии поглощения. Один из участков совпадает с полосой поглощения, а другой расположен вблизи полосы поглощения. При работе по предлагаемому способу излучение источника, прошедшее через анализируемый пар или газ, направляется в сканирующий спектральный прибор с разрешаемым спектральным интервалом, не превышающим ширину полосы поглощения, например в сканирующий интерферометр. Приемник регистрирует распределение интенсивности в контуре линии. Затем производится выделение сигналов, соответствующих спектральным интервалам сГА с длиной волны Л и А . Эти сигналы определяют, например, путем определенийиаксииуиов и иктиуыоъ при равенстве 1 нулю первой производной сигнала по времени. Далее производят сравнение этих сигналов и их обработку с целью получения значения концентрации паров.

npeipaeai изобретения

: ..{

Способ абсорбционного спектраль- ) ного анализа паров и газов с исполь80ваниеш источника света, имеющего уширенную линию излучения, совпадающую с

полосой погло11(ения определяемого ком- понента, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и j точности анализа, регистрируют интенсивность прошедшего через анализируемый объект излучения на двух спектральных участках внутри контура линии излучения, один из которых лежит в об-: ласти полосы поглощения анализируемого компонента, а другой вблизи полосы поглощения, причем спектральная ширина участков сравнима с шириной полосы поглощения.