(54) УСТРОЙСТВО Д/1Я ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ
ВЫСОКООМНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ И ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ СВОБОДНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ТОКА
виде части сферы, радиус которой превышает диаметр торца 5 штыря 2, Исследуемый торец 6 помещен в емкостный зазор между торцом 5 штыря 2 и стенкой волновода 1.
Выполнение торца 5 штыря 2 сферически уменьшает коэффициент включения образца 6 в резонатор 1, так как в этом случае конструкция штыря 2 обеспечивает Воздушный зазор между отдельными участками торца 5 штыря 2 и образцом 6.
Благодаря сферичности торца 5 эти зазоры остаются постоянными, как при значительном люфте штыря 2 в месте крепления его к стенке волновода 1, так и при исследовании неплоскопараллельных образцов.
Предмет изобретения
J
Устройство для измерения удельного сопротивления высокоомных полупроводниковых материалов и времени жизни свободных носителей тока по авт. св. 347691, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, торец емкостного штыря измерительного резонатора выполнен сферическим.
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО | 1972 |
|
SU347691A1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ БЕСКОНТАКТНЫМ СВЧ МЕТОДОМ | 2010 |
|
RU2430383C1 |
| Датчик электрофизических параметров полупроводников | 1982 |
|
SU1045310A1 |
| Датчик электрофизических параметров полупроводников | 1983 |
|
SU1148006A1 |
| Измерительный СВЧ-резонатор | 1982 |
|
SU1137379A1 |
| Устройство для измерения времени жизни носителей заряда в полупроводниковых образцах | 1986 |
|
SU1689874A1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ | 2011 |
|
RU2451298C1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ | 2006 |
|
RU2318218C1 |
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ 1'13Л\ЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИ4 СВОЙСТВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ | | 1972 |
|
SU419817A1 |
| Датчик параметров полупроводниковых материалов | 1983 |
|
SU1149148A1 |
V/
/
«
«
/
С
/
ХХЯ
/ /
5 6
