Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения Советский патент 1976 года по МПК G01N21/24 

Описание патента на изобретение SU499521A1

1

Изобретение относится к оптико-электронным приборам для автоматического контроля дефектов поверхностей деталей.

В известных фотоэлектрических дефектоскопах для контроля поверхностей тел вращения на контролируемую поверхность проектируется микрообъективом изображение светящейся точки, отраженное изображение подается вторым микрообъективом на фотоприемник. При наличии на поверхности дефекта уровень сигнала на выходе фотоприемника понижается, и дается команда по направлению детали в бункер брака.

Для повышения надежности контроля поверхностей тел вращения в предлагаемом дефектоскопе в предметной плоскости осветительной системы установлена подсвечиваемая кольцевая диафрагма, центр которой совмещен с оптической осью системы, а в плоскости изображений проекционной системы установлен выполненный с возможностью вращения вокруг оптической оси непрозрачный экран, снабженный радиальной щелью, это при соосно установленных осветительной и проекционной системах, плоскости изображений которых совмещены, обеспечивает в процессе контроля развертку поверхностей тел вращения при их одновременном движении.

На чертеже показана схема предлагаемого устройства, где точечный источник света 1

изображается конденсатором 2 во входной зрачок объектива 3. За конденсором 2 в предметной плоскости АА объектива 3 установлена кольцевая диафрагма 4, изображение которой, даваемое объективом 3 в плоскости , совпадает с вертикальным диаметральным сечением контролируемого тела 5 (цилиндра или щарика). Если ось контролируемого тела совпадает с оптической осью системы, а увеличение объектива 3 р -, где

D - диаметр кольцевой диафрагмы 4, d - диаметр контролируемого тела, то на поверхности контролируемого тела в зоне его диаметрального сечения, перпендикулярного плоскости чертежа, будет резко очерченное опоясывающее изображение кольцевой диафрагмы 4. Объектив 6 проекционной системы передает изображение на установленный в плоскости

AzAz с возможностью вращения вокруг оси 00 непрозрачный экран 7, снабженный радиальной щелью. За экраном установлена оптическая система 8, которая дает с необходимым увеличением изображение зрачка объектива 6 в плоскость фотоприемника 9,

Если каким-либо способом сообщить цилиндрической поверхности контролируемого тела 5 линейное перемещение по стрелке С или щарику однонаправленное вращение вокруг любой оси, лежащей в диаметральном сечении шарика, перпендикулярном плоскости чертежа, то при синхронном вращении экрана 7, например, с помощью шестерни 10 от мотора 11, будет осуществляться полная развертка поверхности контролируемого тела. При наличии дефекта последний будет виден в плоскости А2А2 и при прохождении щели вращающегося экрана 7 через дефектный участок в изображении произойдет резкое падение светового потока на фотоприемнике, преобразуемое в электрический сигнал, подаваемый на вход усилителя, осуществляющего выделение, формирование и усиление полезного сигнала. К входу усилителя подключено сигнальяое устройство, фиксирующее наличие дефекта, если уровень сигнала на выходе фотоприемника понизится до предела, соответствующего недопустимому дефекту поверхности, то автоматическое электромеханическое устройство сбросит изделие в бункер брака.

Формула изобретения

Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения, содержащий соосно расположенные осветительную, проекционную и фотоприемную системы, плоскости изображений которых совмещены, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности контроля, в предметной плоскости осветительной системы установлена подсвечиваемая кольцевая диафрагма, центр которой совмещен с оптической осью систем, а в плоскости изображений проекционной системы установлен выполненный с возможностью вращения вокруг оптической оси непрозрачный экран, снабженный радиальной щелью.

Похожие патенты SU499521A1

название год авторы номер документа
Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения 1977
  • Левин Борис Маркович
  • Файнгольц Зинаида Абелевна
SU728060A1
Устройство для контроля дефектов поверхностей оптических деталей 1985
  • Великотный Михаил Александрович
  • Калинин Михаил Иванович
  • Потапова Галина Константиновна
  • Прохорова Наталья Юрьевна
SU1242780A1
МИКРОСКОП ПРОХОДЯЩЕГО И ОТРАЖЕННОГО СВЕТА 2009
  • Натаровский Сергей Николаевич
  • Скобелева Наталия Богдановна
  • Лобачева Елена Викторовна
  • Сокольский Михаил Наумович
RU2419114C2
Устройство для контроля качества текстильных и трикотажных полотен 1986
  • Кокеткин Михаил Петрович
  • Хавкин Виктор Павлович
  • Сенекин Михаил Борисович
  • Бруевич Юрий Николаевич
  • Соловьев Владимир Иванович
  • Халимов Виктор Васильевич
SU1409902A1
Оптическое фотоэлектрическое устройство 1990
  • Пинаев Леонид Владимирович
  • Тихомирова Надежда Леонидовна
  • Фирсов Николай Тимофеевич
  • Пинаева Татьяна Дмитриевна
  • Бакуев Анатолий Алексеевич
SU1753444A1
СТЕНД ДЛЯ ПРОИЗВОДСТВА РАДУЖНЫХ МУЛЬТИПЛЕКСНЫХ ГОЛОГРАММ 2001
  • Бондарев Л.А.
  • Куракин С.В.
  • Одиноков С.Б.
  • Лушников Д.С.
RU2216759C2
УСТРОЙСТВО ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ОБЪЕКТОВ 1990
  • Дубиновский А.М.
  • Дубиновский М.А.
  • Кучин А.А.
  • Кравцов Ю.И.
RU2011161C1
Устройство для исследования и фотографирования глазного дна 1984
  • Левинтова Татьяна Яковлевна
  • Овчинников Борис Валентинович
  • Орлов Гарри Николаевич
  • Попова Ирина Васильевна
SU1273050A1
Устройство для автоматического обнаружения дефектов на внутренних поверхностях труб 1974
  • Русинов Михаил Михайлович
  • Лившиц Эммануил Маркович
  • Румянцев Дмитрий Михайлович
SU504081A1
Оптическая линейка для контроля прямолинейности поверхности 1977
  • Левин Борис Маркович
SU696286A1

Иллюстрации к изобретению SU 499 521 A1

Реферат патента 1976 года Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения

Формула изобретения SU 499 521 A1

7. A,,ff

SU 499 521 A1

Авторы

Левин Борис Маркович

Даты

1976-01-15Публикация

1973-05-18Подача