Фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения Советский патент 1980 года по МПК G01N21/24 

(54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТЕЛ ВРАЩЕНИЯ

Изобретение относится к области контрольн измерительной техники и молч-т быть иснользовано, в частности, для контроля дефектов поверхностей тел вращения. Известно устройство для контроля поверх.ностей тел вращения, содержащее соосно расположенные лазерный источник света, систему, состоящую из двух объективов, осевая по вижка любого из которых позволяет менять угол падения световых лучей на контролируемое тело, устанавливаемое за ними, проекцион ную систему, по обе стороны от которой расположены пространственные фильтры, и фотоприемник {11, Известное устройство имеет сложную конструкцию и является дорогостоящим. Наиболее близким к изобретению по технической сущности и решаемой задаче является фотоэлектрический дефектоскоп для контроля поверхностей тел вращения, содержащий соосно расположенные осветительную систему, включающую источник света, кольцевую диафр му, установленную в предметной плоскости ис точника света, и объектив, проекционную систему, вращающийся вокруг оптической оси непрозрачный экран с радиальной щелью и фртоприемник (2. Кольцевое изображение поверхности тела вращения (которое совершает однонаправленное поступательное движение для цилиндров или вращательное для шариков), спроецированное на экране, сканируется вращающейся щелью экрана и через нее пропускается и падает на фотоприемник, а последний методом сравнения отражающей способности участков контролируемой поверхности отсортировывает дефектные объекты. Недостатком известного дефектоскопа является сложность конструкции, а также низкая надежность контроля, вызванная тем, что из-за постоянного свечения кольцевой диафрагмы на щель экрана пойадает помимо отраженного от поверхности светового пятна какое-то количество паразитного света. Это затрудняет производить на .фотоприемнике точную фиксацию отражающей способности участков контролируемой поверхности.