Способ определения параметров дисперсной системы Советский патент 1976 года по МПК G01N15/02 G01N21/00 

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ДИСПЕРСНОЙ СИСТЕМЫ

Изобретение относится к т ехническому i анализу процессов производства и перерабо Ки дисперсных систем и может быть испол4зовано при определении размера, удельного веса, концентрации и скорости движения частиц, степени и времени влияния на них реагентов - коагулянтов и пептизаторов. Известен способ определения технологических параметров дисперсной системы, ос-нованный на фотосканировакии, при котором частицы, помещенные в среду, подвергаютс действию клЪссифйцйрующих сил и вызывают ослабление светового потока Г П. Одна-, ко этот способ дает возможность определять параметры среды только в неподвижнь средах. Наиболее близким к предлагаемому спо собу является способ, по которот-iy парамет -i ры дисперсной системы определяют с прмогщью кюветы, источника и приемника светово го излучения. Он заключается в измерении; характеристик прошедшего через систему j или отраженного излучения, по которым оу| пят о параметрах дисперсной системы.2, i Однако из-за беспопядочного движения Частиц в дисперсной системе интенсивность (прошедшего через нее или отраженного от I нее излучения беспорядочно колеблется, oi Iрицательно влияя на точность определения Iпараметров дисперсной системы, особенно На размеры и удельный вес частиц. ; Цель изобретения - повышение точное т :определения параметров дисперсной системы за счет учета размера и удельного частиц. i Эта цель достигается тем, что дисперс|ной системе придают периодические колебав ;тельные движения в направлении, перпендикулярном ходу лучей, и регистрируют ампл гтуду прошедшего через систему или отражвн;ного излучения. Колебательные движения .могут придавать Одновременно кювете, источтжу и приемнику излучения. В случае т&кущей системы организуют течение снст& мы в слое, перпендикулярном ходу лучей. Кроме того, луч и площадь приемника из ;лучения применяют прямоугольной формы и; ориентируют направление колебаний измерив тельной системы перпендикулярно параллельным им сторонам.