Интерференционный спектрометр Советский патент 1976 года по МПК G01J3/18 G01B9/02 

капа 2 и 3, крестообразную диафрах му 4 вхо-) да выхода, блок фоторегистрации 5 и карет-/ ку 6. На каретке 6 устшловпены решетка 1,( кулачок клиновидного профиля, вьтопненный из двух симметричных деталей 7 и 8, и ро- j пики 9 н 10, соединенные рычагами 11 и 12 соответствегшо с «еркалами 2 и 3. Пере- мещение каретки 6 осуществляется по направпяюпшм 13 с помощью привода 14. На этой дсе каретке, перпендикулярно к плоскости яифраккиодшой решетки, на линии между осями вращения зеркал 2 и 3, расположено дополнительное плоское зеркало 15, которое может быть выполнено как с двусторонним, I так и с попупрозрачным покрытием. Радиадиа от 16 пройдя объёк тив 17, падает на -зеркальную диафрагму 4, стояш ао в фокусе объектива18 дифрагируе ди4)р;:иии;См:,исй peiuyTKe 1. Часть излучё- aopKijjiO 2; а другая часть на НИИ ндет jy зеркагю 3. Отражоигое от зеркала 3 излучение идет на йеркаио 2, а затем на дифракдионную решетку 1 Та часть излучения, которая налряБляотся от /гкфрикциояиюй решетки на зеркадо 2, г.ДП в обратном направлении: к aepi-iany 3, и также па дифракционную реmeTiQT 1. иПуч.ч, прошедшие через оптическую схему интерферометра при встрече на диф ракиио1шой решетке ilj. гштерферируют, и. г ройдя чергз -.-щжйпыную диафра1му 4, по- падшот на Чотопрнекщпк 19 основной системы блока фоторегистрации 5. При использовазпш дополнительного зеркала 15 с двуегоронпим j покрытием оно вводится в ход лучей так, что перекрывает лишь часть пучка. Тогда одна часть излучения проходит через прибор по обратнокруговой схеме (как описано), а другая часть излучения,- отражеш ая. от зеркал 2 . и 3, падает на зеркало 15 по нор1м1али с двух сторон. Отразившись, эти пучи возвращаются на зеркала 2 и 3 н идут обратно на дифракционную решетку 1, затем через диафрагму 4 попадают на полупрозрачное зеркало 2О, ifOTopoe направляет это излучение на фотоприемник 21 контрольной системы. В случае : выполнения дополнительного зеркала 15 полупрозрачным оно устанавлив ётся так, что может перекрывать весь пучок лучей полностью. Вэтом случае, часть излучения проходит через зеркало 15 по обратно-круговой схеме и попадает на прием- ник 19 основной системы, а другая часть излучения, отраженная от зеркала 15, прой дя через оптическую схему интерферометра, попадает на приемник 21 контрольной сиетемы, В обоих случаях контрольной и основной систем сравниваются. При регистрации в ИК-обпасти спектра по основной системе, контрольная система может регистрировать спектр калибровочно- го источника и выдавать метки длин волны для основной системы, В случае наличия ошибок в угле между., нормалями к зеркшам 2, 3 и рачагами 11, 12 пучки лучей по11адают на зеркало 15 не по нормали, а отразившись от него, попадают на зеркала 2, 3 и на дифракционную решетку 1 под углом, равным учетверенной ошибке. Так как угол падения на дифракдионную решетку меняется, то сигнал, полу- ; ценный от контрольной систе.мы в этом слуЦ чае, отличается-Ч1Т сигнал/ при правильной 1 настройке. Оиибка устраняется путем поворота зеркал 2 и 3 относительно рычагов 11 и 12. В процессе сканирования зеркало 15, за- крепленное на каретке 6, перемещается стро-. го перпендикулярно к плоскости дифракционной решетки 1 и параллельно линии симметрии кулачка. Формула изобретения; 1.Интерференционный спектрометр, содержащий плоскую дифракционную решеткусветоделитель, два плоских зеркала, снаб- женных средствами. поворота, одно из которых разделено пополам, и крестообразную диафрагму входа и выхода, о т л и ч а ю-i щ и и с я, тем, что, с целью повышения чувствительности настройки оптической схе-; мы, на линии между осями поворота зеркал строго перпендикулярно к плоскости д фракционной решетки установлены дополнительное зеркало и кулачок, снабженные средствами перемещения.. i 2.Спектрометр по п. 1, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что дополнительно зеркало выполнено двусторонним. 3.Спектрометр по п. 1, о т л и ч аю ш и и с я тем, что дополнительное зеркало выполнено полупрозрачным. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1.Физические проблемы спектроскопии. т. 2. М., Изд..АН СССР, 1963, с. 66. 2.Киселев Б. А. и др. Новые приборы интерференционной спектроскопии. Труды ГОИ. т. 34, вып. 163, 1966, с. 3-16.

/373

//////////// ////УУЛ