СПОСОБ СПЕКТРОМЕТРИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) Российский патент 2001 года по МПК G01J3/00 G01B9/02 G01R23/17 

Изобретения относятся к области спектрального анализа и могут быть использованы при спектральном анализе светового излучения.

Классический способ спектрального анализа излучения заключается в разложении пучка света, с помощью призмы или дифракционной решетки, с выделением спектральных составляющих и их последовательным сканированием [Малышев В. И. Введение в экспериментальную спектроскопию. М.: Наука, 1979, с. 185-201; 257-274].

Данный способ обладает меньшей светосилой по сравнению со способами, основанными на интерференции пучков света, что является его недостатком.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому изобретению является способ спектрометрии, основанный на регистрации системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны, осуществляемой при прохождении стоячей световой волны через тонкий слой (с толщиной слоя меньше λ/2 ) активной среды (фотографический, фотоэлектрический или фотолюминесцентный слой), расположенный под углом к волновому фронту стоячей световой волны [Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973, с. 259-263 (прототип для заявленного способа)].

К недостаткам данного способа следует отнести низкую точность регистрации системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны и, следовательно, низкую точность анализа.

Задачей изобретения является повышение точности спектрального анализа за счет повышения точности регистрации системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе спектрометрии, основанном на регистрации системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны, осуществляемой при прохождении стоячей световой волны через тонкий слой среды, расположенный под углом к волновому фронту упомянутой световой волны, регистрацию системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны осуществляют на периодической решетчатой структуре, образованной штрихами тонкого частично пропускающего фотоэлектрического или фотолюминесцентного слоя и полосами, расположенными между штрихами, а угол θ между плоскостью периодической решетчатой структуры и волновым фронтом световой волны задают из соотношения: sin θ = λ/2d, где λ - длина световой волны; d - период периодической решетчатой структуры.

Регистрацию системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны можно осуществить: путем интерференционной модуляции стоячей световой волны или на ультразвуковой дифракционной решетке, используемой в качестве периодической структуры, которую выполняют в виде тонкого частично пропускающего или частично отражающего фотопьезоэлектрического слоя, при этом угол θ между плоскостью дифракционной решетки и волновым фронтом световой волны задают из соотношения: sinθ = λ/2d, где - λ длина световой волны; d - период периодической решетчатой структуры, равный длине ультразвуковой волны.

Одним из классических устройств, используемым для спектрального анализа, является монохроматор с дифракционной решеткой [Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию. - М.: Наука, 1979, с. 266-274], состоящий из зеркал и поворотной дифракционной решетки, обеспечивающей сканирование спектра.

Данный дифракционный монохроматор обладает меньшей светосилой по сравнению с интерферометрами, что является его недостатком.

Также известен интерферометр, регистрирующий системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны, описанный в US 4571083, 18.02.1986, G 01 B 9/02. Этот интерферометр содержит источник света, отражатель, две пластины с фотоэлектрическим слоем. Данный интерферометр предназначен для измерения разности оптического хода при наличии и в отсутствии образца.

Наиболее близким по технической сущности и принятым за прототип является интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающие зеркала, светоделительную пластину, фотодетектор и спектроанализатор [Мерц Л. Интегральные преобразования в оптике. М.: Мир, 1969, с.80-83 (прототип для заявленных интерферометров)].

К недостаткам данного интерферометра можно отнести его большую дисперсию, что существенно сужает рабочий диапазон измерений. Кроме того его нельзя использовать в качестве оптического коммутатора.

Задачей изобретения является расширение рабочего диапазона измерений при сохранении высокой светосилы.

Поставленная задача может быть решена за счет того, что интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и спектроанализатор, дополнительно содержит периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего фотоэлектрического слоя и полосами, расположенными между штрихами периодической решетчатой структуры, при этом упомянутая периодическая решетчатая структура расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом, а отражающее зеркало и периодическая решетчатая структура выполнены с возможностью перемещения относительно друг друга.

Сущность изобретения поясняется чертежами, на которых представлены схемы:
на фиг. 1 - схема интерферометра с периодической решетчатой структурой, образованной штрихами тонкого частично пропускающего фотоэлектрического слоя и полосами, расположенными между штрихами;
на фиг. 2 - схема интерферометра с ультразвуковой дифракционной решеткой, содержащей прозрачную пластину из пьезоэлектрика с нанесенным на ее поверхность тонким частично прозрачным фотопьезоэлектрическим слоем;
на фиг. 3 - прозрачная пластина из пьезоэлектрика, выполненная в виде оптического клина;
на фиг. 4 - схема интерферометра, ультразвуковая дифракционная решетка которого выполнена в виде фотокатода фотоэлектронного умножителя;
на фиг. 5 - схема интерферометра с периодической решетчатой структурой, штрихи которой выполнены из тонкого частично пропускающего фотолюминесцентного слоя
на фиг. 6 - схема интерферометра с дополнительным управляющим лучом.

Интерферометр (фиг. 1) содержит оптически сопряженные источник 1 светового излучения, отражающее зеркало 2, спектроанализатор 3, периодическую решетчатую структуру 4, образованную штрихами 5 тонкого частично пропускающего фотоэлектрического слоя и полосами 6, расположенными между штрихами 5 периодической решетчатой структуры 4. Периодическая решетчатая структура 4 расположена между источником 1 светового излучения и отражающим зеркалом 2. Отражающее зеркало 2 и периодическая решетчатая структура 4 установлены на узлах 7 и 8 регулировки их пространственного перемещения.

Заявленный способ спектрометрии осуществляется на настоящем интерферометре следующим образом.

Световой поток от источника 1 светового излучения поступает на отражающее зеркало 2, отражается от него и в виде стоячей световой волны поступает на периодическую решетчатую структуру 4, затем детектируется и в виде электрического сигнала поступает на спектроанализатор 3. За счет того, что периодическая решетчатая структура 4 образована штрихами 5 тонкого частично пропускающего фотоэлектрического слоя и полосами 6, расположенными между штрихами 5 периодической решетчатой структуры 4, осуществляется регистрация системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны. При установке периодической решетчатой структуры 4 с помощью узла 8 регулировки пространственного перемещения под углом θ между плоскостью периодической решетчатой структуры 4 и волновым фронтом световой волны, определяемым из соотношения sinθ = λ /2d, где λ - длина определяемой спектральной линии, d - период периодической решетчатой структуры 4, происходит резонансное выделение определяемой спектральной линии. Максимальной интенсивности выделенной спектральной линии добиваются путем перемещения периодической решетчатой структуры 4 и отражающего зеркала 2 относительно друг друга с помощью узлов 7 и 8 регулировки пространственного перемещения. Для получения интерференционной модуляции осуществляется перемещение с постоянной скоростью периодической решетчатой структуры 4 или отражающего зеркала 2 с помощью соответствующих узлов 7 и 8 перемещения. При этом частота интерференционной модуляции зависит, согласно доплеровскому эффекту, от скорости перемещения указанных элементов. Анализ модулированного сигнала осуществляют на спектроанализаторе 3.

Кроме того, поставленная задача - расширение рабочего диапазона измерений при сохранении высокой светосилы, может быть достигнута также за счет того, что в интерферометре, содержащем оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало, периодическую решетчатую структуру и спектроанализатор, периодическая решетчатая структура выполнена в виде ультразвуковой дифракционной решетки, содержащей прозрачную пластину из пьезоэлектрика с нанесенным на ее поверхность тонким частично прозрачным фотопьезоэлектрическим слоем, с расположенным на ее поверхности преобразователем ультразвуковых волн в упругие поверхностные волны, при этом ультразвуковая дифракционная решетка установлена между источником светового излучения и отражающим зеркалом с возможностью регулировки ее пространственного положения, а преобразователь ультразвуковых волн подсоединен к электрическому генератору непрерывного действия. Ультразвуковая дифракционная решетка установлена с возможностью регулировки ее пространственного положения, в частности установки под углом θ между ультразвуковой дифракционной решетки и волновым фронтом световой волны, где угол θ определяется из соотношения sinθ = λ/2d, где λ - длина световой волны, d - период периодической решетчатой структуры, равный длине ультразвуковой волны, а преобразователь ультразвуковых волн подсоединен к электрическому генератору непрерывного действия.

При этом отражающее зеркало может быть выполнено в виде отражающего покрытия, нанесенного на заднюю сторону прозрачной пластины из пьезоэлектрика, а упомянутая пластина выполнена в виде оптического клина.

Кроме того, ультразвуковая дифракционная решетка может быть выполнена в виде фотокатода фотоэлектронного умножителя.

Сущность изобретения поясняется чертежами, на которых представлены схемы интерферометра и его частей: на фиг. 2 - схема интерферометра с ультразвуковой дифракционной решеткой, содержащей прозрачную пластину из пьезоэлектрика с нанесенным на ее поверхность тонким частично прозрачным фотопьезоэлектрическим слоем; на фиг. 3 представлена прозрачная пластина из пьезоэлектрика, выполненная в виде оптического клина с отражающим покрытием, нанесенным на ее заднюю сторону; на фиг. 4 представлена схема интерферометра, периодическая решетчатая структура которого выполнена в виде фотокатода фотоэлектронного умножителя.

Интерферометр содержит оптически сопряженные источник 1 светового излучения, отражающее зеркало 2, спектроанализатор 3 и ультразвуковую дифракционную решетку 4. Ультразвуковая дифракционная решетка 4 содержит прозрачную пластину 9 из пьезоэлектрика с нанесенным на ее поверхность тонким частично прозрачным фотопьезоэлектрическим слоем 10, на поверхности которой расположен преобразователь 11 ультразвуковых волн в упругие поверхностные волны, при этом ультразвуковая дифракционная решетка 4 расположена между источником 1 светового излучения и отражающим зеркалом 2 и установлена на узле 8 регулировки ее пространственного положения, а преобразователь 11 ультразвуковых волн подсоединен к электрическому генератору 12 непрерывного действия.

Отражающее зеркало 2 может быть выполнено в виде отражающего покрытия, нанесенного на заднюю сторону прозрачной пластины 9 из пьезоэлектрика, а пластина 9 выполнена в виде оптического клина (фиг. 3).

Ультразвуковая дифракционная решетка 4 может быть выполнена также в виде фотокатода фотоэлектронного умножителя 13 с динодами 14 и анодом 15 (фиг. 4).

Заявленный способ спектрометрии осуществляется на настоящем интерферометре следующим образом.

Световой поток от источника 1 светового излучения поступает на отражающее зеркало 2, отражается от него и в виде стоячей световой волны поступает на ультразвуковую дифракционную решетку 4, затем детектируется и в виде электрического сигнала поступает на спектроанализатор 3. Так как ультразвуковая дифракционная решетка 4 содержит прозрачную пластину 9 из пьезоэлектрика с нанесенным на ее поверхность тонким частично прозрачным фотопьезоэлектрическим слоем 10, стоячая световая волна образуется из неразложившейся части (нулевого порядка) светового потока. При установке ультразвуковой дифракционной решетки 4 с помощью узла 8 регулировки ее пространственного положения под углом θ между плоскостью ультразвуковой дифракционной решетки 4 и волновым фронтом световой волны, определяемым из соотношения sinθ = λ/2d, где λ - длина определяемой спектральной линии, d - период периодической решетчатой структуры равны длине волны ультразвуковой дифракционной решетки 4, происходит резонансное выделение определяемой спектральной линии. С помощью преобразователя 11 ультразвуковых волн происходит перемещение упругих поверхностных волн по поверхности прозрачной пластины 9 из пьезоэлектрика с периодическим совмещением узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны с узлами деформации тонкого частично прозрачного фотопьезочувствительного слоя 10 ультразвуковой дифракционной решетки 4. Указанное совмещение приводит к появлению фототока. При этом выделенная определяемая спектральная линия модулируется частотой ультразвуковой дифракционной решетки 4. Анализ модулированного сигнала осуществляют на спектроанализаторе 3. Выбор определяемой спектральной линии λ осуществляют или заданием периода ультразвуковой дифракционной решетки d, или заданием угла θ.

Для интерферометра с периодической решетчатой структурой 4 в виде фотокатода фотоэлектронного умножителя 13 (фиг. 4) детектирование определяемых спектральных линий осуществляется за счет внешнего фотоэффекта. Фотоэлектроны, выбитые из узлов деформации тонкого частично прозрачного фотопьезочувствительного слоя 10 ультразвуковой дифракционной решетки 4, усиливаются на динодах 14 и аноде 15.

Поставленная задача - расширение рабочего диапазона измерений при сохранении высокой светосилы может быть достигнута также за счет того, что интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало, фотодетектор и спектроанализатор, дополнительно содержит периодическую решетчатую структуру с тонким частично пропускающим слоем среды, например, фотолюминесцентным слоем, нанесенным в виде штрихов периодической решетчатой структуры, при этом периодическая решетчатая структура расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом, фотодетектор расположен перед периодической решетчатой структурой, а отражающее зеркало выполнено с возможностью его перемещения относительно источника светового излучения.

Сущность изобретения поясняется чертежом (фиг. 5), на котором представлена схема интерферометра с периодической решетчатой структурой, штрихи которой выполнены из тонкого частично пропускающего фотолюминесцентного слоя.

Интерферометр содержит оптически сопряженные источник 1 светового излучения, отражающее зеркало 2, фотодетектор 16 и спектроанализатор 3, периодическую решетчатую структуру 4 с тонким частично пропускающим слоем среды, например, фотолюминесцентным слоем, нанесенным в виде штрихов 5 периодической решетчатой структуры 4. При этом периодическая решетчатая структура 4 расположена между источником 1 светового излучения и отражающим зеркалом 2, фотодетектор 16 расположен перед периодической решетчатой структурой 4, а отражающее зеркало 2 снабжено узлом 7, обеспечивающими возможность его перемещения относительно источника 1 светового излучения.

Заявленный способ спектрометрии осуществляется на настоящем интерферометре следующим образом.

Световой поток от источника 1 светового излучения поступает через периодическую решетчатую структуру 4 на отражающее зеркало 2 и отражается от него в виде стоячей световой волны. При этом на тонком частично пропускающем слое среды, например, фотолюминесцентном слое, нанесенным в виде штрихов 5 периодической решетчатой структуры 4 происходит процесс фотолюминесценции, обусловленный воздействием узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны. Максимальной интенсивности вторичного светового излучения добиваются путем перемещения отражающего зеркала 2 относительно остальных частей интерферометра с помощью узла 7 пространственного перемещения. Вторичное световое излучение поступает на фотодетектор 17, а затем в виде электрического сигнала на спектроанализатор 3.

Поставленная задача - расширение рабочего диапазона измерений при сохранении высокой светосилы и с введением дополнительного управляющего луча может быть достигнута также за счет того, что интерферометр, содержащий оптически сопряженные первый источник светового излучения, первое отражающее зеркало и фотодетектор, дополнительно содержит первую периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего слоя активной среды, полупрозрачное зеркало, второе отражающее зеркало, а также оптически сопряженные второй источник светового излучения, вторую периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего слоя активной среды, третье отражающее зеркало, при этом первая периодическая решетчатая структура расположена между первым отражающим зеркалом и первым источником светового излучения и образуют вместе с полупрозрачным зеркалом и вторым отражающим зеркалом резонансную систему, вторая периодическая решетчатая структура расположена между третьим отражающим зеркалом и вторым источником светового излучения, вторая периодическая решетчатая структура также оптически сопряжена с резонансной системой и расположена между первой периодической решетчатой структурой и одним из зеркал резонансной системы, фотодетектор оптически сопряжен с резонансной системой и расположен со стороны полупрозрачного зеркала, при этом резонансная система дополнительно содержит активный элемент и систему накачки, а полупрозрачное и второе отражающее зеркала резонансной системы и обе периодические решетчатые структуры выполнены с возможностью их пространственного перемещения, первое отражающее зеркало выполнено с возможностью его перемещения относительно первого источника светового излучения, третье отражающее зеркало выполнено с возможностью его перемещения относительно второго источника светового излучения.

Сущность изобретения поясняется чертежом (фиг. 6), на котором представлена схема интерферометра с дополнительным управляющим лучом.

Интерферометр содержит оптически сопряженные первый источник 1 светового излучения, первое отражающее зеркало 2, фотодетектор 16, первую периодическую решетчатую структуру 4, образованную штрихами 5 тонкого частично пропускающего слоя активной среды, полупрозрачное зеркало 17, второе отражающее зеркало 18, а также оптически сопряженные второй источник 1' светового излучения, вторую периодическую решетчатую структуру 4', образованную штрихами 5 тонкого частично пропускающего слоя активной среды, третье отражающее зеркало 2', при этом первая периодическая решетчатая структура 4 расположена между первым отражающим зеркалом 2 и первым источником 1 светового излучения и образуют вместе с полупрозрачным зеркалом 17 и вторым отражающим зеркалом 18 резонансную систему 19, вторая периодическая решетчатая структура 4' расположена между третьим отражающим зеркалом 2' и вторым источником 1' светового излучения, вторая периодическая решетчатая структура 4' также оптически сопряжена с резонансной системой 19 и расположена между первой периодической решетчатой структурой 4' и одним из зеркал 17, 18 резонансной системы, фотодетектор 17 оптически сопряжен с резонансной системой 19 и расположен со стороны полупрозрачного зеркала 17, при этом резонансная система 19 дополнительно содержит активный элемент 20 и систему накачки 21. Полупрозрачное и второе отражающее зеркала 17, 18 резонансной системы 19, обе периодические решетчатые структуры 4, 4', первое отражающее зеркало 2 и третье отражающее зеркало 2' установлены на узлах 22, 23, 8, 8', 7 и 7' регулировки их пространственного перемещения.

Заявленный способ спектрометрии осуществляется на настоящем интерферометре следующим образом.

Система 21 накачки активного элемента 20 переводит резонансную систему 19 в режим, близкий к режиму генерации. Световые потоки от источников 1 и 1' светового излучения поступают через периодические решетчатые структуры 4 и 4' на отражающие зеркала 2 и 2' и отражаются от них в виде стоячей световой волны. При этом на тонком частично пропускающем слое активной среды, из которого выполнены элементы 5 периодических решетчатых структур 4 и 4' происходит процесс накачки, обусловленный воздействием узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны. Максимальной интенсивности вторичного светового излучения добиваются путем перемещения отражающих зеркал 2 и 2' на узлах регулировки пространственного перемещения 7, 7' и заданием угла θ между плоскостью периодической решетчатой структуры 4, 4' и волновым фронтом световой волны, который находят из соотношения: sinθ₁ = λ₁/2d, где λ₁ - длина световой волны; d - период периодической решетчатой структуры 4, 4'. При поступающих световых потоках от источников 1 и 1' светового излучения добиваются перехода резонансной системы 19 в режим генерации путем перемещения полупрозрачного 17, отражающего 18 зеркал, периодических решетчатых структур 4, 4', первого и третьего отражающих зеркал 2, 2' на узлах 22, 23, 8, 8', 7 и 7' регулировки пространственного перемещения. На фотодетектор 16 поступает вторичное световое излучение с длиной световой волны λ₂, связанной с периодом d периодических решетчатых структур 4 и 4' следующим соотношением sinθ₂ = λ₂/2d, где θ₂ - угол между плоскостью периодической решетчатой структуры 4, 4' и волновым фронтом вторичной световой волны λ₂. Выход из режима генерации резонансной системы 19 осуществляют путем прекращения подачи светового потока от источника 1 или 1' светового излучения. При этом один из световых потоков 1 или 1' играет роль управляющего сигнала, а второй коммутируемого.

Предложенный способ спектрометрии и интерферометры для его осуществления позволяют при светосиле большей, чем в 500 раз светосилы дифракционного спектрометра и разрешающей способности такой же, как у дифракционного спектрометра, работающего во втором порядке, уменьшить дисперсию в 2 раза по сравнению с дифракционным спектрометром. Это позволяет существенно расширить рабочий диапазон измерений при сохранении высокой светосилы. Кроме того, возможно использование одного из предложенных интерферометров в качестве оптического коммутатора для оптических средств связи и создания оптического компьютера.

Изобретения относятся к спектральному анализу. Отличительной особенностью предлагаемого способа является то, что регистрацию системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны осуществляют на периодической решетчатой структуре, образованной штрихами тонкого частично пропускающего фотоэлектрического или фотолюминесцентного слоя и полосами, расположенными между штрихами, а угол θ между плоскостью периодической решетчатой структуры и волновым фронтом световой волны задают из соотношения: sinθ = λ/2d, где λ - длина световой волны; d - период периодической решетчатой структуры. Заявленный способ спектрометрии осуществляется на интерферометрах, снабженных фоточувствительной периодической решетчатой структурой, расположенной между источником светового излучения и отражающим зеркалом. Технический результат - расширение рабочего диапазона измерений при сохранении высокой светосилы. Кроме того, возможно использование одного из предложенных интерферометров в качестве оптического коммутатора для оптических средств связи и создания оптического компьютера. 5 с. и 3 з.п. ф-лы, 6 ил.

1. Способ спектрометрии, основанный на регистрации системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны, отличающийся тем, что регистрацию системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны осуществляют на периодической решетчатой структуре, образованной штрихами тонкого частично пропускающего фотоэлектрического или фотолюминесцентного слоя и полосами, расположенными между штрихами, а угол θ между плоскостью периодической решетчатой структуры и волновым фронтом световой волны задают из соотношения
sinθ = λ/2d,
где λ - длина световой волны;
d - период периодической решетчатой структуры. 2. Способ спектрометрии по п.1, отличающийся тем, что регистрацию системы узлов и пучностей напряженности электрического поля стоячей световой волны осуществляют путем интерференционной модуляции стоячей световой волны. 3. Интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало, спектроанализатор, отличающийся тем, что дополнительно содержит периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего фотоэлектрического слоя и полосами, расположенными между штрихами, при этом упомянутая периодическая решетчатая структура расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом, а отражающее зеркало и периодическая решетчатая структура выполнены с возможностью перемещения относительно друг друга. 4. Интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало и спектроанализатор, отличающийся тем, что он дополнительно содержит ультразвуковую дифракционную решетку, содержащую прозрачную пластину из пьезоэлектрика с нанесенным на ее поверхность тонким частично прозрачным фотопьезоэлектрическим слоем, с расположенным на ее поверхности преобразователем ультразвуковых волн в упругие поверхностные волны, при этом ультразвуковая дифракционная решетка расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом и установлена с возможностью регулировки ее пространственного положения, в частности установки под углом θ между ультразвуковой дифракционной решеткой и волновым фронтом световой волны, где угол θ определяется из соотношения
sinθ = λ/2d,
где λ - длина световой волны;
d - период периодической решетчатой структуры, равный длине ультразвуковой волны,
а преобразователь ультразвуковых волн подсоединен к электрическому генератору непрерывного действия. 5. Интерферометр по п.4, отличающийся тем, что отражающее зеркало выполнено в виде отражающего покрытия, нанесенного на заднюю сторону прозрачной пластины из пьезоэлектрика, а упомянутая пластина выполнена в виде оптического клина. 6. Интерферометр по п.4 или 5, отличающийся тем, что ультразвуковая дифракционная решетка выполнена в виде фотокатода фотоэлектронного умножителя. 7. Интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения, отражающее зеркало, фотодетектор и спектроанализатор, отличающийся тем, что дополнительно содержит периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего фотолюминесцентного слоя упомянутой решетчатой структуры, при этом периодическая решетчатая структура расположена между источником светового излучения и отражающим зеркалом, фотодетектор расположен перед периодической решетчатой структурой, а отражающее зеркало выполнено с возможностью его перемещения относительно источника светового излучения. 8. Интерферометр, содержащий оптически сопряженные первый источник светового излучения, первое отражающее зеркало и фотодетектор, отличающийся тем, что дополнительно содержит первую периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего слоя активной среды, полупрозрачное зеркало, второе отражающее зеркало, а также оптически сопряженные второй источник светового излучения, вторую периодическую решетчатую структуру, образованную штрихами тонкого частично пропускающего слоя активной среды, третье отражающее зеркало, при этом первая периодическая решетчатая структура расположена между первым отражающим зеркалом и первым источником светового излучения и образуют вместе с полупрозрачным зеркалом и вторым отражающим зеркалом резонансную систему, вторая периодическая решетчатая структура оптически сопряжена с резонансной системой и расположена между первой периодической решетчатой структурой и одним из зеркал резонансной системы, фотодетектор оптически сопряжен с резонансной системой и расположен со стороны полупрозрачного зеркала, при этом резонансная система дополнительно содержит активный элемент и систему накачки, а полупрозрачное и второе отражающее зеркала резонансной системы и обе периодические решетчатые структуры выполнены с возможностью их пространственного перемещения, первое отражающее зеркало выполнено с возможностью его перемещения относительно первого источника светового излучения, третье отражающее зеркало выполнено с возможностью его перемещения относительно второго источника светового излучения.

Приоритеты по пунктам:
04.08.2000 по пп.1-7;
04.12.2000 по п.8.