Устройство для визуального контроля дефектов Советский патент 1976 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU532005A1

помощью устройства светлые зоны А поля зрения соответствуют прозрачным участкам шаблона 6, темная зона Б - непрозрачному участку шаблона (см. фиг. 2). Одновременно световой поток, прошедший через полупрозрачное зеркало 8, формирователем 9 концентрируется в плоскость предмета. Таким образом создается освещение по методу темного поля. Изображение объекта, создаваемое с номоп1ью объектива 1 и а.хроматической липзы 2, рассматривается через окуляр 3. На поверхность объекта, расположенную перпендикулярно оптической оеи объектива, падают лучи через объектив 1 (освещение по методу светлого поля) и под углом относительно оси объектива от формирователя 9 (освещение по метОхТ,у темного поля). На участках объектива зоны .6 яркость элементов структуры изобрал ения объекта определяется суммарной интенсивностью световых лучей от обеих систем освеп,ения (по методу светлого и темного полей). В зоне Б, соответствующей прозрачной полоске шаблона, яркость будет определяться интенсивностью светового потока, освещающего объект по методу темного поля.

При смещении зоны Б (или перемещении наблюдаемого объекта от края до края поля зрения оптического прибора) производят последовательный обзор всей исследуемой поверхности объекта и получают информацию об объекте при освещении его как по методу светлого, так и по методу темного полей,

Для поочередного включения освещения по методу светлого и темного поля полупрозрачное зеркало 8, установленное под углом 45° к оптической оси прибора, выполнено с возможностью введения или выведения из оптического хода лучей.

При сканировании зон с различным характером освеи1ения оператор исследует поверхность объекта при различном освещении, что повышает качество контроля де4)ектов, увсличи ает производительность и улучшает условия визуального контроля.

Ф о р м у л а и 3 обре т с )i и я

Устройство для ви:лального контроля дефектов, содержащее объектив, ахроматическую линзу, осветитель, состоящий из источника света, конденсорных линз и полупрозрачного зеркала, установленного под углом 45° между объективом и ахроматической линзой, отличающееся тем, что, с целью повышения качества контроля и увеличения производительности устройства, оно снабжено шаблоно.м, имеющим прозрачный и непрозрачный участки, установленным с возможностью перемещения относительно оптической оси осветителя в нлоскости осветителя, сопряженной с предметной плоскостью, и оптическим формирователем, установленным на оси осветителя за полупрозрачным зеркалом для направления светового потока на объект под углом, большим апертурного угла объекта, а полупрозрачное зеркало выполнено

поворотным - выводимым из оптического ХО

да лучей.

Источники информации, принйтЫе во 1знймание при экспертизе:

1. Коломийцев Ю. В. «Оптические приборы для измерения линейных и угловых величин в машиностроении, М., 1964 г., стр, 183-184 (прототип).

Похожие патенты SU532005A1

название год авторы номер документа
Микроскоп 1983
  • Голуб Владимир Иванович
  • Кононович Александр Юлианович
  • Подгайский Иосиф Романович
  • Луговик Юрий Николаевич
SU1136094A1
ТЕЛЕВИЗИОННАЯ КАМЕРА ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ В УСЛОВИЯХ СЛОЖНОГО ОСВЕЩЕНИЯ И/ИЛИ СЛОЖНОЙ ЯРКОСТИ ОБЪЕКТОВ 2008
  • Смелков Вячеслав Михайлович
RU2389151C1
МИКРОСКОП ПРОХОДЯЩЕГО И ОТРАЖЕННОГО СВЕТА 2009
  • Натаровский Сергей Николаевич
  • Скобелева Наталия Богдановна
  • Лобачева Елена Викторовна
  • Сокольский Михаил Наумович
RU2419114C2
ОПТИЧЕСКИЙ ВИЗУАЛЬНЫЙ ПИРОМЕТР, РАБОТАЮЩИЙ ПО МЕТОДУ ЗОНАЛЬНОГО (СИНЕ-КРАСНОГО) ОТНОШЕНИЯ 1953
  • Гуревич А.М.
  • Друккер С.А.
  • Иванцов Л.М.
SU100447A1
Трехканальный фотоэлектрический микроскоп 1971
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU498591A1
ПРИЦЕЛ 2007
  • Благов Павел Андреевич
  • Пустовой Павел Владимирович
RU2364898C1
Устройство для контроля наружного контура волокна в процессе его изготовления 1981
  • Тамеев Юрий Абдулхаевич
SU1013749A1
Фотоэлектрический яркомер 1971
  • Друккер Симон Аронович
  • Черниловская Галина Зиновьевна
SU450966A1
Проектор 1973
  • Кононович Александр Юлианович
  • Капелевич Илья Иосифович
SU460522A1
ПОЛЯРИЗАЦИОННОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1968
SU211824A1

Иллюстрации к изобретению SU 532 005 A1

Реферат патента 1976 года Устройство для визуального контроля дефектов

Формула изобретения SU 532 005 A1

SU 532 005 A1

Авторы

Парняков Юрий Серафимович

Майраков Петр Васильевич

Даты

1976-10-15Публикация

1974-04-02Подача