Способ измерения контактной разности потенциалов в прямоканальных электронных приборах Советский патент 1976 года по МПК H01J9/42 

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕ ПОТ.ЕНЦИАЛОВ В ПРЯМ 1 Изобретение относится к электронной тех кике, может быть использовано для анализа ;электронных приборов и для технического контроля при массовом их производстве. Известны способы измерения контактной разности потенциалов электронных ламп пропусканием тока насьпцения при пониженном Напряжении накала {ij. Недостатки известньтх способов- - HHSKasJ точность и сложность процесса измерения, Объясшгется это необходимостью измерения) контактной разности потенциалов в глубоком недокале и поддержания постоянной теь пературы катода. Известен сшзсоб намерения контактной разности потенциалов в прямонакалыай: электронных приборах путем пропускания чо рез прибор тока накала 2JJ, Однако извести, ный способ не обеспечивает вьгсокой точ- ностн измерения. Цель изобретения - пбвышение точности измерений - достигается теМ( что согласно предлагаемому способу ток накала формируют в виде пртмолинейных фронтов импуль Я КОНТАК7НОЙ РАЗНОСТИ АКАЛ ЬНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ 2 lea тока эмиссии и по анодному напряжещзю определяют контактную разность потенциаhoB. Появление првгмолинейного заднего импульса тока эмиссии соответствует ;|Моменту компенсации контактной разности потенциалов анодным напряжешюм при от ключенном накале, так как при этом на 1экране осциллографа наблюдают участок вос входящей ветви экспоненты (участок накаль:ной характеристики). При нулевом потенций ;ле между анодом и катодом ток эмиссии ка« |тода экспоненциальную зависимость от тет шературы, но из-за Majjopo. тока эмиссии |на начальном участке экспоненты и мало чувствительности осциллографа нелинейный I участок экспоненты на экране осциллогра |фа не виден, а видна прямая восходящая iBQTSb экспоненты. Момент компенсации кой«|,тактной разности потенциалов отмечают по .заднему фронту импульса тока эмиссии, , (й|й окончании импульса тока накала. Это исключает влияние падения напряжения нак4™ яа по длине катода на измерение контактнсй разности потенциалов. S3 а Сущнсюты предложенного способа измер WHH контактной разности потенциалов в пря|моканальных эяект рбиных приборах эаключа э зя в следующем, Устанойдв длительность а11111ульса тока накала- равной времени готоз лостя намыва шш немногу большой этого зремени, уменьшают амплитуду напряжения 1акала, ыв6люд ш за формо; имоутхьса тока эмяссйн на экране осшшлографа до тех пой юка над вершиной импульса тока эмиссии ре будет виден выброс с крутым передним фронтом. Такая форма импульса тока эмно 1сии соответствует участку насыщения на кальной характеристики. Получая таким разом импульс тока эмиссии, подбирают reifK пвратуру катода шш каждой лампы при йём4ращщ. контактной разносга noTeauHafloBt Затем постепенно уменьшают нанряжвкне на аноде лампы и наблюдают на экране цшшографа за импульсагуи тока аыиссин, Как только передний и задний фронты ймпудь са окажутся п имыми, отсчитывают анодное напряжение, скомпенсировавшее контактную разность потенциалов между катодом и ано«дом. Напряжение накала, соответствужэщее режиму насыщения, выбирают для каждой лампы так, чтобы импульс тока эмиссии был e 4 по возможностиболыдим( при этом иабгаодают на экране осшшлографа всю область иасыщения накальной сарактеристшси), т.е. при этом практамески весь катод эмиттирует электроны, и, соответственно, контактна разность потенциалов определяется при этом между всей длиной катода и анода. Формула изобретения Способ измерения контактной разности потенциалов в прамонгисальных ; электронных приборах путем пропускания через прибор тока накала, отличающийся тем, что, с целью првьпиения иа мерений, ток накала формируют в виде одиночных импульсов, уменьшают напряжение анода до получения прямолинейных фронтов импульса тока эмиссии и по анодному напря жению определяют контактную разность по 1тенциалов, Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1. Царев Б, М, Контактная разность потенциалов. М., 1955, стр. 1О7 2. АВТ.СВ, СССР № 148155, кл, ,Н 01 J 9/42, 1962.