1
Изобретение относится к фотоэлектронным приборам, а именно к способам изготовления фотокатодов на основе полупроводниковых материалов с отрицательным элект1рон11ым сродством.
Известен способ изготовления фотокатодов на основе полупроводниковых соединений типа , включающий прогрев .полупроводника в вакууме мм рт. ст. до 300°С в присутствии паров цезия в течение -нескольких минут, затем обработку цезием и кислородом поочередно при комнатной температуре до прекращения роста фототока 1.
Однако с течением времени чувствительность фотокатода уменьщается.
Известен также способ изготовления фотокатода на основе арсепида галлия, включающий активировку путем .многократной обработки фотокатода цезием, затем одновременно цезием и кислородом, прогрев фотокатода и повторную активировку 2.
Однако недостаточная долговечность фотокатода приводит к уменьщению его чувствительности с течением времени.
Цель изобретения-увеличение долговечности фотокатода.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу при повторной активировке каждую обработку одновременно цезием и кислородом
П)роводят до снижения фототока на 20-30% от максимума фототока, полученного лри предыдущей обработке цезием, и такие обработки ведут до прекращения роста абсолютного значения фототока, а затем производят окончательную обработку цезием до снижения фототока на 80-90% и последующий «агрев фотокатода при температуре 60-100°С в теченпе 5-10 мин.
Изготовленные этим способом фотокатоды па оспове арсенида галлия сохраняют свою долговечность в течение длительного времени (больще года).
Формула изобретения
Способ изготовления фотокатода на оспове арсенида галлия, включающий активировку путем многократной обработки фотокатода цезием, затем одновременно цезием и кислородом, прогрев фотокатода и повторную активировку, о т л и ч а ю 1Д и и с я тем, что, с целью увеличения долговечности фотокатода, при повторной активировке каждую обработку одновременно цезием и кислородом производят до снижения фототока на 20-30% от максимума фототока, полученного при предыдущей обработке цезием, и такие обработки ведут до прекращения роста абсолютного зна3чения фототока, а затем производят окончательную обработку цезием до снижения фототока на 80-90% и последующий нагрев фотокатода нри температуре 60-100°С в течение 5-10 мин.5 4 Источники информации, принятые во внймание при экспертизе. 1. Патент Англии № 1200899, ;кл. HID, 1970. 2. Патент США, № 3669735, кл. 117-224, 1970.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ изготовления серебряно-кислородно-цезиевого фотокатода | 2016 |
|
RU2640402C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МНОГОЩЕЛОЧНОГО ФОТОКАТОДА | 2009 |
|
RU2424597C2 |
ФОТОКАТОД | 2013 |
|
RU2542334C2 |
ФОТОКАТОД | 2014 |
|
RU2569917C1 |
Способ изготовления спектрозонального фотокатода | 1978 |
|
SU741071A1 |
Способ изготовления сурьмянощелочного фотокатода | 1975 |
|
SU537410A1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОПОЛЕВОГО КАТОДА | 2003 |
|
RU2248066C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОКАТОДА | 2014 |
|
RU2571187C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКОГО ФОТОЭЛЕКТРОННОГО УМНОЖИТЕЛЯ | 1991 |
|
RU2056667C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОЭМИТТЕРА С ОТРИЦАТЕЛЬНЫМ ЭЛЕКТРОННЫМ СРОДСТВОМ ДЛЯ ИНФРАКРАСНОГО ДИАПАЗОНА | 2012 |
|
RU2513662C2 |
Авторы
Даты
1976-11-30—Публикация
1975-06-16—Подача