Датчик деформаций Советский патент 1977 года по МПК G01B7/16 

Описание патента на изобретение SU566128A1

(54) ДАТЧИК ДЕФОРМАЦИЙ

Похожие патенты SU566128A1

название год авторы номер документа
Полупроводниковый датчик давления 1986
  • Афоничев Александр Николаевич
  • Вяткин Анатолий Петрович
  • Криворотов Николай Павлович
  • Щеголь Сергей Степанович
SU1381350A1
Способ измерения деформации объекта 1985
  • Чекурин Василий Феодосиевич
SU1384931A1
Малобазный тензотермодатчик 1982
  • Дрожжин Александр Иванович
  • Ермаков Александр Петрович
SU1024697A1
Устройство для измерения усилий 1981
  • Вилисов Анатолий Александрович
  • Вяткин Анатолий Петрович
  • Криворотов Николай Павлович
  • Рябцев Александр Павлович
  • Щеголь Сергей Степанович
SU993056A1
Способ изготовления тензорезисторных чувствительных элементов 1985
  • Тихоненков Владимир Андреевич
  • Жучков Анатолий Иванович
  • Тихонов Анатолий Иванович
SU1293474A1
Тензодатчик 1980
  • Захаров Владимир Васильевич
  • Захаров Дмитрий Владимирович
SU1025999A1
Способ и устройство тензоэлектрического преобразования 2017
  • Спирин Андрей Евгеньевич
  • Крылов Анатолий Иванович
  • Бурдин Борис Васильевич
  • Сосюрка Юрий Борисович
  • Спирин Евгений Анатольевич
RU2661456C1
ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ ДАТЧИКА ДАВЛЕНИЯ 1998
  • Криворотов Н.П.
  • Свинолупов Ю.Г.
  • Хан А.В.
  • Щеголь С.С.
RU2141103C1
МУЛЬТИПЛИКАТИВНЫЙ МИКРОЭЛЕКТРОННЫЙ ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 2003
  • Криворотов Н.П.
  • Изаак Т.И.
  • Свинолупов Ю.Г.
  • Ромась Л.М.
  • Иванов Е.В.
  • Бычков В.В.
RU2247342C1
Способ определения температуры и датчик для его осуществления 1988
  • Малютенко Владимир Константинович
  • Медвидь Артур Петрович
  • Кривич Анатолий Петрович
  • Витусевич Светлана Александровна
SU1599675A1

Иллюстрации к изобретению SU 566 128 A1

Реферат патента 1977 года Датчик деформаций

Формула изобретения SU 566 128 A1

.1: Изобретение относится к измерительно, технике и может быть использовано для измерений неоднородных деформаций в раа-; .личных изделиях..... Для измерения деформации, например, по профилю деформируемого изделия обычно на последнем закрепляют несколько тензо-t датчиков, расположив их на заданном раостоянии друг от друга l. К недостаткам измерений деформаций при по мощи отдельных тепзодатчиков следует отнести мадую точность измерений, особенно в случае резко неоднородной деформации, что обусловлено низкой разрешающей способ|ностью по координате. Разрешающая способ ность по координате ограничена сравнительно большими размерами |тензодатчикоБ (примерно 2 мм). Известен датчик деформаций, содержащий тензочувствительные элементы, выпол- ненные в виде металлических сеток и расположенные на заданном расстоянии Друг от друга на поверхности бумажной или пластмассовой подлол 1ки 2, Недостатком этого датчика является невысокая тошшсть измерения профиля деформаций, т, е, невысокая разрешающая способность по координате в заданном направ лении, поскольку.датчик обладает чувствйтедьностъю к поперечной деформации, обусловленной расположением тензочувствитель ных элементов на поверхности подложки, а таклш за счет больших размеров тензочуест, витальных элементов. Увеличение разрешающей способности по координате в известном датчике гСа счет уменьшения размеров тензочувствительных элементов приводит к пропорциональному уменьшению уровня мощности выходного сигнала.Снижение выходного сигнала, Ъ свою очередь, влечет за собой возрастание погрешности ила серьезное усложнение регистрирующей аппаратуры. Известен датчик давления, содержащий тёнзочувствительные элементы в виде р-п переходов, сформированных в полупроводни ковой пластине 3jo При :неоднородной деформации р-ппере-. ходы изменяют свои параметры на разную величину пропорционально величине дефор мшши в мостах рйсположения р-п переходов По изменению параметров р-и переходов можно определить деформацию в местах их расположения и, следовательно, профиль распределения деформации вдоль линии расположения переходов, Однако при деформациях пластина может подвергаться изгибу и на изменение параметров р-м Переходов будет влиять поперечная деформация пластины (изделия, детали, с которыми скреплена пластина). Это приводит к снижению точности определения профиля продольной составляющей деформации. Цель изобретения - повышение точности измерения деформаций по профилю деформируемого изделия. Это достигается тем, что рч.м переходы сформированы на одной из боковых граней пластины. Кроме того, расположение тензочувств тельных элементов на боковой грани пластины значительно упрощает процесс npi клеивания пластины к исследуемой детали. На фиг. 1 - датчик деформаций; на фиг. 2схематическое изображение воздействия поперечной деформации на один из тензочувствительных элементов. Датчик деформаций содержит полупроводниковую пластину 1, тензочувствительгные элементы 2, омический контакт 3, электровыводы 4, 5. Для измерения деформации пластина 1 ориентируется в заданном направлении и приклеивается к исследуемой детали. Электровыводы 4, 5 подсоединяются к измерительной аппаратуре. Деталь подвергается действию механических сил, деформация по верхности детали передается полупроводниковой пластине 1, Деформация пластины в области расположения отдельного тензочувс вительного элемента вызывает пропорциональное изменение протекающего через нег тока. Эти изменения регистрируются измер тельной аппаратурой (на чертеже не показа на). По величине изменения токов определяется профиль деформации вдоль боковой грани пластины 1, Наличие поперечной деформации приводит к изгибу пластины 1, Одна из поверхностей будет испытывать деформацию растяжения, Другая - деформацию сжатия. Поскольку те}1зочувствительный элемент расположен на боковой гр)аии, то половина его площади бу дет подвержена деформации сжатия 6, половина - деформации растяжения 7,. За счет этого будет происходить самокомпенсация изменений параметров тензочувствительных элементов и устраняться их чувствительность к поперечной деформации. Следовательно, повышается точность определения продольного профиля деформаций. В качестве тензочувствительных элементов могут быть использованы не тол1 ко р-и переходы, но и другие выпрямляющие полупроводниковые переходы - барьерьг Шоттки, гетеропереходы, многослойные структуры. Коэффициент тензочувствительности выпрямляющих структур, как правило, на порядок выше, чем у полупроводниковых тензорезисторов. Расстояние между такими тбн;.1эчувствительнымы элементами и их paav.Gfbi с высокой степенью точности за- дают-:я методами фотолитографии, а расположение их на боковой грани устраняет поперечных деформаций. Все это обеспечивает точное измерение профиля деформаций на поверхности детали и существенно лучшие параметры датчика профиля деформа|ций по сравнению с известными. Формула изобретения Датчик деформаций, содержащий полупроводниковую пластину с тензочувствител ны ми. элемента ми в виде р-ц переходов, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности измерения деформаций по профилю деформируемого, изделия, р- 4L переходы сформированы на одной из боковых граней пластины. Источники информации, принятые во вни- мание при экспертизе: 1, Клоков Н, П, и др. Тензодатчики для экспериментальных исследований , М,, Машиностроение, 1972. 2,Патент Великобритании № 1088872, кл, G 1 W ( G OIT ), 1965. 3,Акцептованная заявка Великобритании № 1285634, кл. HI К, 1972.

SU 566 128 A1

Авторы

Вилисов Анатолий Александрович

Вяткин Анатолий Петрович

Криворотов Николай Павлович

Даты

1977-07-25Публикация

1975-07-01Подача