Микроскоп, предназначенный для наблюдения малоконтрастных прозрачных объектов Советский патент 1940 года по МПК G02B21/14 

Описание патента на изобретение SU58495A1

Предметом -настоящего изобретения является микроскоп, преднааначенный для .наблюдения малокойтрастных прозрачных объектов. Основанием для создания предлагаемой конструкции микроскопа послужил широко известный способ увеличения наблюдаемого контраста прозрачного объекта, например, малоконтрастного фотографического негатива, по которому негатив налагается эмульсионным слоем на поверхность белой бумаги или металлического зеркала.

В этом случае лучи, попадающие в глаз наблюдателя, прохо дят через негатив дважды.

Конечно, подвести зеркало непосредствеино под -наблюдаемый объект так, чтобы оно его пересекало, невозможно. Согласно изобретению, под предметны.м столиком микроскопа, схематически представленного на чертеже, на месте конденсора устанавливается объектив Оо с алертурой, не ленъшей апертуры объектива Oj самого микроскопа, сфокусированный на объект А снизу. На месте изображения объекта А, даваемого объективом О.;, устанавливается вогнутое зеркало М с радиусом кривизны, равным расстоянию М-О.. Микроскоп снабжается иллюминатором S для непрозрачных объектов А. Пучок лучей от источника света отражаете; в иллюминаторе S, затем проходит через объектив О, и .объект А. Объектив О., дает изображение объекта А на поверхности зеркала М; лучи отражаются от зеркала М и снова проходят через объектив О,, который снова дает изображение объекта А, в точности совпадающее с самим объектом при соответствующем положении объектива Оо. Таким образом, благодаря дво ному прохождению лучей, поглощение света в менее прозрачных частях объекта увеличивается почти вдвое. Полученное таким образом изображение объекта А рассматривается с помощью объектива Oi и окуляра О микроскопа. При наблюдении объекта в этой схеме лучи, отраженные от поверхностей объективов и особенно покровного стекла объекта А, создают сильные рефлексы, мешающие наблюдению. Эти рефлексы почти совсем уничтожаются применением специальной осветительной призмы Y , которая отбрасывает на объект пучок лучей, поляризованных в одно11 плоскости, и пропускает к окуляру лучи, поляризованные в плоскости, перпендикуряной к первой. В этом случае все регулярно отражаемые лучи, в том числе и лучи, отражедньге от поверхностей объективов О,, к, 0. и покровного стекла объекта, щ окуляр не поладают. Бели между объективом О., и зеркалом М поместить слюдяную пластин ку Р в четве1рть волны с осями, распо;1ол{ен:ными под углом в 45-- к плоскости поляризации падающих лучей, то все аредные рефлексы исчезнут, а свет от объекта пройдет через осветитель к окуляру микроскопа.

П р е д м е т и з о б р е т е н и я.

1. Микроскоп, предназначенный для наблюдения малоконграстных прозрачных объекто1В, о т л -и; ч; а ю щ и: и с я тем, что, с целью достижения увеличения наблюдаемого кон: раста объекта путе.м пропускания пучка лучей через

каждую его точку дважды, он снабжен устайовлелным на месте конденсора и сфокусироваиным «а объект А микроскопическим объективом О,, в плоскости, сопряженной с объектом А, которого расположено вогнутое зеркало М.

2. Форма выполнения микроскопа по п. 1, отличающаяся тем, что, с це.гью устранения из поля зрения ргфлексов от оптических поверхностей, для освещения объекта применена поляризационная призма Y, отбрасывающа;я на объект пучок поляризоваиных в плоскости лучей и пропускающая л окуляр лишь лучи, поляризованные с ПЛОСКОСТИ , перпендикулярной к первой, а между объективом О,, и зеркалом М установ.тена анизотропная пластинка в штверть волггы с осямй, расположенны.ми ПОД углом 45- к плоскости поляризации падающих лучей.

Похожие патенты SU58495A1

название год авторы номер документа
МИКРОСКОП ПРОХОДЯЩЕГО И ОТРАЖЕННОГО СВЕТА 2009
  • Натаровский Сергей Николаевич
  • Скобелева Наталия Богдановна
  • Лобачева Елена Викторовна
  • Сокольский Михаил Наумович
RU2419114C2
Устройство для измерения перемещения поверхности по нормали 1937
  • Линник В.П.
SU59260A2
МИКРОСКОП 1967
  • Свищев Г.М.
SU224842A1
Интерференционный способ наблюдения микропрофиля поверхности в заданном ее сечении и прибор для осуществления способа 1944
  • Линник В.П.
SU72947A1
ПДТКНТНО- •»IИ 1966
SU181337A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАБЛЮДЕНИЯ СТЕРЕОПАР 1963
  • Морис Боннэ
  • Жан Жак Бастарди
SU222998A1
МИКРОСКОП ОТРАЖЕННОГО СВЕТА 2009
  • Натаровский Сергей Николаевич
  • Скобелева Наталия Богдановна
  • Лобачева Елена Викторовна
  • Сокольский Михаил Наумович
  • Мамаев Анатолий Иванович
RU2413263C1
Осветительное устройство для микроскопов 1980
  • Гроссер Йоганнес
SU1094010A1
Фотоэлектрический яркомер 1971
  • Друккер Симон Аронович
  • Черниловская Галина Зиновьевна
SU450966A1

Иллюстрации к изобретению SU 58 495 A1

Реферат патента 1940 года Микроскоп, предназначенный для наблюдения малоконтрастных прозрачных объектов

Формула изобретения SU 58 495 A1

SU 58 495 A1

Авторы

Линник В.П.

Даты

1940-01-01Публикация

1937-12-23Подача