Устройство для измерения толщины оксидных пленок и покрытий Советский патент 1978 года по МПК G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU590590A1

1

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины защитных или диэлектрических оксидных нленок или слоев, нанесенных на поверхность металлов или полупроводников.

Известно устройство для измерения толщины диэлектрических пленок или покрытий, содержащее электролитический поляризующий элемеит, источник питания этого элемента и индикатор тока, проходящего через указанный элемент 1.

Однако точность измерения толщины этим устройством недостаточна, так как корреляционная взаимозависимость между током и скоростью электрохимического процесса не контролируется.

Наиболее близким техническим рещением к изобретению является устройство, содержащее последовательно соединенные источник линейно возрастающего напряжения, электролитический элемент, индикатор тока, амплитудный селектор и схему управления для источника линейно возрастающего напряжения. Инднкатор тока, выполненный в виде электронного преобразователя аналоговой величины в последовательность импульсов реле времени, контролирует величину тока, проходящего через электролитический элемент. Устройство срабатывает при величине тока.

соответствующей моменту перфорации покрытия, и, следовательно, не обеснечивает достаточной точности измерения- толщины покры тий, обладающих дефектами типа трещин

царапин, пор и т. д. Ток, обусловленный де фектностью покрытия, может вызвать прежде временное срабатывание устройства.

Целью изобретения является повыщенир точности измерения.

Для этого в предлагаемом устройстве для измерения толщины оксидных пленок и покрытий, индикатор тока выполнен в виде измерителя скорости нарастания тока.

На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит источник 1 линейно возрастающего напряжения, к выходу которого подключены электроды электролитического поляризующего элемента 2. Анодом электролитического элемента является испытуемый образец. В цепь питания электролитического элемента включен резистор 3, параллельно которому нрисоединен индикатор 4 тока. Выход индикатора тока присоединен к амплптудному селектору 5, который связан со схемой 6 управления для источника линейно возрастающего напряжения. Напряжение источника, подаваемое на электролитический элемент, контролируется с помощью вольтметра 7.

Похожие патенты SU590590A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ГАЛЬВАНИЧЕСКИХПОКРЫТИЙ 1971
  • В. Н. Ледаков, В. И. Рунтов, А. Черкасов, Н. Н. Кузьмина
  • М. Г. Ярцев
  • Куйбышевский Политехнический Институт В. В. Куйбышева
SU322601A1
Устройство для измерения толщины гальванических покрытий 1975
  • Альферьев Анатолий Юрьевич
  • Лернер Марк Исаакович
  • Капитонов Анатолий Александрович
  • Чернышев Николай Иванович
SU559106A1
Устройство для измерения толщины покрытий 1984
  • Слепушкин Вячеслав Васильевич
  • Капитонов Анатолий Александрович
  • Рунтов Виталий Иванович
  • Муковнина Галина Сергеевна
SU1186936A1
Устройство для измерения толщины покрытий 1988
  • Великанов Валерий Семенович
  • Цатуров Василий Владленович
  • Слепушкин Вячеслав Васильевич
  • Муковнина Галина Сергеевна
SU1562679A2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ В ХОДЕ ПРОЦЕССА ПЛАЗМЕННО-ЭЛЕКТРОЛИТИЧЕСКОГО ОКСИДИРОВАНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2017
  • Горбатков Михаил Викторович
  • Парфенов Евгений Владимирович
  • Ерохин Алексей Леонидович
  • Мукаева Вета Робертовна
RU2672036C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ 1991
  • Учанин Валентин Николаевич[Ua]
  • Годовник Ольгерт Львович[Ua]
  • Владычин Владимир Ярославович[Ua]
  • Панченко Петр Васильевич[Ru]
  • Шаповалов Георгий Васильевич[Ru]
RU2087854C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ПЕРЕХОД-КОРПУС ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПРИБОРА 2009
  • Мальцев Иван Алексеевич
  • Мальцев Алексей Александрович
RU2392631C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНОГО СЕНСОРА ВЛАЖНОСТИ 2023
  • Михин Сергей Олегович
  • Егоров Дамир Николаевич
  • Кошкур Михаил Олегович
  • Кошкур Никита Олегович
  • Романов Александр Егорович
RU2820096C1
Устройство для полярографическогоАНАлизА 1979
  • Афанасьев Вадим Владимирович
  • Вяселев Мурат Рустемович
  • Сиразиев Камиль Вагапович
  • Эльстинг Оскар Георгиевич
SU817578A1
Устройство для измерения толщины покрытия 1988
  • Великанов Валерий Семенович
  • Цатуров Василий Владленович
  • Слепушкин Вячеслав Васильевич
  • Муковнина Галина Сергеевна
SU1562678A1

Иллюстрации к изобретению SU 590 590 A1

Реферат патента 1978 года Устройство для измерения толщины оксидных пленок и покрытий

Формула изобретения SU 590 590 A1

SU 590 590 A1

Авторы

Лебедев Виктор Николаевич

Чернышев Вадим Викторович

Даты

1978-01-30Публикация

1974-05-31Подача