I
Изобретение относится к области металлургии полупроводников и может использоваться при получении легированног германия, применяемого для изготовлени полупроводниковых приборов, работающих в условиях высокого уровня радиации.
Известен полупроводниковый материал на основе германия электронного типа проводимости с примесными добавками элементов А группы l| .
о Однако полупроводниковый материал на основе германия с примесными добавками элементов 5 - группы оказьгеают- ся по своим электрическим параметрам неустойчивым к воздействию ядерных нэлз ений. Неустойчивость проявляется в уменьшении концентрации свободньх носителей заряда и характеризуется величиной скорости их уменьшения.
Введение примесного элемента И А группы дополнительно к элементу у А группы увеличивает устойчивость германия к воздействию гамма-лучей.
Известен полупроводниковый материал на основе германия электронного типа
проводимости, содержащий примесную добавку элемента У А группы с концентрацией большей IlO ат, % и примесную добавку элемента И А группы с концентрацией меньшей 1«10- ат. % 27. 5 Облучение такого материала на гаммаустановке Со с мощностью дозы 5ОО Р/с показывает, что скорость уменьшения электронов проводимости составляет 2,4. О см . Германий с ука0 занным содержанием примесных добавок элементов у А и П А групп, является неустойчивым к воздействию гамма-лучей при работе в условиях высокого уровня радиации.
5С целью повышения устойчивости к
воздействию гамма-лучей, предложен материал на основе германия, содержащий добавку элементов У А группы в количестве - 410 ат. % и элемента П А группы в количестве 1.1О - 4104 ат. %.
Пример 1. На установке Редмет-4 в расплав германия весом ЮООг вводят 1,ОО г висмута и 0,5 г бария.
Вирашивание осуществляют по способу Чохральскосо, в атмосфере спектрально чистого гелия со скоростью 1,5 мм/мин. Тигель вращают со скоростью Ю об/мин. а затравку - 7О об/мин. Измерение элек рических параметров показывает, что полученный монокристалл германия имеет электронный тип проводимости, с концентрацией доноров 1,1-1О ат. %. Химико-спектральный анализ показывает наличие в данном монокристалле германия примеси бария в концентрации (2-4)1О ат, %. Плотность дислокаций в полученном материале составляет (3-6)10 см2 , малоугловые границы не обнаружены.
Далее из полученного монокристалла германия были изготовлены образцы размером 2x2x12 мм и подвергнуты гаммаоблучению при температуре 283 К на гамма-установке С о с мощностью дозы 500 Р/с, Электрические измерения облученных образцов показывают, что максимальная скорость уменьшения концентрации электронов проводимости сое- тавляет 81О см ,
Пример 2. Аналогично способу, описанному в примере 1, из расплава германия с примесными добавками фосфора и кальция выращивают монокристалл электронного типа проводимости с концентрацией доноров 5,61О ° ат, % и концентрацией кальция (1-2)10 ат, %,
При тех же условиях гамма-облучения как в примере 1, максимальная скорость уменьшения концентрации электронов проводимости составляет 9.10 см ,
Пример 3, Аналогично способу, описанному в примере 1, из расплава гер мания с добавками висмута и бария вь ращивают монокристалл электронного типа проводимости с концентрацией доноров ат, % и концентрацией бария большей 4«1О ат, %, Такое увеличение
концентрации бария в монокристалле германия приводит к резкому ухудшению структуры полученного полупроводниковго материала, что затрудняет его использование в полупроводниковых приборах.
Таким образом, из приведенньтх примеров следует, что при одинаковых условиях облучения устойчивость германия к воздействию гамма-лучей с указаннь-м содержанием :1римесных добавок элементов V А и и А групп в 2-3 раза ,
Более высокая устойчивость к воздействию гамма-лучей позволяет создавать на основе данного материала полупроводниковые приборы, работающие в условиях высокого уровня ррдиации.
Формула изобретения
Полупроводниковый материал на основ германия с добавкой примесей элементов Y А и П А групп Периодической системы для работы в условиях высокого уровня рапиацни, отличающийс я тем, что, с целью повышения устойчивости к воздействию гамма-лучей, он содержит добавку примесей в количестве, ат. %:
F А
Элемент
1. - Ф10группыЭлемент П ,-4
1.10 - 4Югруппы Германий Остальное Источники информации, принятьте во внимание при экспертизе:
1,Родео Р, Г, Несовершенства и активные центры в полупроводниках, М,, 1968, Металлургия, с, 263,
2,Вторая концентрация по физикохимическим основньчи легирования полупроводниковых материалов. Тезисы докладов, М,, 1972,. с, 26-27,
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ получения легированного германия | 1979 |
|
SU799523A1 |
Способ управления потоком коротковолнового электромагнитного излучения или медленных нейтронов | 1991 |
|
SU1778791A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РЕЗИСТЕНТНОГО КРЕМНИЯ | 2002 |
|
RU2202655C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ КРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ | 2011 |
|
RU2473719C1 |
Способ изготовления германиевых термосопротивлений для измерения низких температур | 1976 |
|
SU597260A1 |
ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ДЕТЕКТОР ТЕРАГЕРЦЕВОГО ДИАПАЗОНА | 2017 |
|
RU2678710C1 |
ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬ, ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ФОТОЭЛЕМЕНТ И ОПТРОН НА ИХ ОСНОВЕ | 2004 |
|
RU2261502C1 |
Способ изготовления полупроводниковых @ - @ -структур | 1971 |
|
SU414925A1 |
Способ получения кремния | 1988 |
|
SU1564203A1 |
Способ контроля качества полупроводникового материала | 1983 |
|
SU1118238A1 |
Авторы
Даты
1978-10-25—Публикация
1976-01-29—Подача