Способ гранулометрического анализа порошковых материалов Советский патент 1978 года по МПК G01N15/02 

(54) СПОСОБ ГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ПОРОШКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к способам контроля гранулометрического состава сыпучих материалов.

Известен способ определения распределения частиц по размерам, в том числе аэрозольных частиц размером менее 0,1 мкм. Исследуемый газ прокачивают над поверхностью жидкости для насыщения его конденсируемыми нарами, после чего он поступает в пузырьковую камеру, где с помощью трех электродов-сеток соз- ,Q дается тре.хмерное поле переменного тока. Заяженные частицы, имеющие отношение заряа к массе, укладывающееся в некоторый диапазон, фиксируются в объеме камеры, остальные рассеиваются и осаждаются на стенках камеры. При последующем понижении температуры нар конденсируется на частицах, концентрация полученных капель измеряется с поMOHibio источника света и фотоумножителя, регистрирующего рассеянное излучение. Меняя напряжение на электродах и частоту, можно ,,Q снять кривую распределения частиц. Способ ограничен в диапазоне измерений I.

Известен способ измерения распределения аэрозольн1 1х частиц по размерам и числа часиц каждого размера в потоке 2.25

Исследуемый аэрозоль пропускают с контролируемой скоростью через цилиндрический корпус прибора. Проходя через первую секцию, частицы заряжаются с помощью коронного разряда, причем время нахождения частиц в первой секции достаточно для приобретения частицами заряда насыщения, пропорционального диаметру частиц. Ниже по течению заряженные частицы подвергаются действию аксиального электрического поля. Скорость частиц в электрическом поле является функцией их размера, так что частицы больщего диаметра проходят вторую секцию быстрее.

Таким образом, во второй секции в осевом направлении происходит сепарация частиц по размерам. Величина заряда на частицах связана с промежутком времени, прощедщим между коронным разрядом и моментом регистрации частиц., что позволяет по величине .заряда определить концентрацию частиц каждого размера, а следовательно и функцию распределения их по размера.м. Способ не обеспечивает достаточной точности измерений

Известен способ гранулометрического анализа сыпучих материалов, основанный на помещении анализируемой пробы в электрическое поле плоских электродов, к которым подведено

напряжение, и регистрации количества импульсов и их амплитуды 3.

Однако такой способ мало чувствите :1ен.

Целью изобретения является повышение точности анализа.

Это достигается тем, что по предложенному способу изменяют длительность импульсов напряжения, подводимого к электродам, и измеряют концентрацию частиц оптическим способом на фиксируемом уровне межэлектродного пространства в моменты окончания импульсов напряжения.

Сущность способа состоит в следующем. Под действием равномерного электрического поля частицы, помещенные в межэлектродное пространство плоских электродов, приходят в движение от одного электрода к другому, причем скорость каждой частицы является функцией ее радиуса. Если подвести к э;1ектродам скачок напряжения, обеспечивающего требуемую напряженность, противоположного электрода в первую очередь достигнут самым мелкие частицы, затем более крупные и в последнюю -самые крупные частицы. Ограничивая скачок напряжения во времени, т. е. подводя к электродам импульс напряжения, можно 1ю,дучить распределение частиц по размерам в зависимости от координат межэлектродного пространства в момент окончания импульса. Измеряя концентрацию частиц на фиксируемой высоте

межэлектродного пространства и изменяя длительность и.мпульсов от значений меньших или равных времени пролета самых мелких частиц от нижнего электрода до фиксируемой высоты до значений больших или равных времени пролета са.мых крупных частиц, снимают интегральную кривую в зависимости количества частиц исследуемой пробы от их размеров.

Формула изобретения

Способ грануло.метрического анализа порошковых материалов, основанный на помеидении анализируемой пробы в электрическое поле плоских электродов, к которым подведено напряжение, отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, изменяют длительliocTb импульсов напряжения, подводимого к электродам, и измеряют концентрацию частиц оптическим способом на фиксируемом уровне межэлектродного пространства в моменты окон чаиия импу.чьсов напряжения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

3. Авторское свидетельство СССР № 163416, кл. G 01 N 15/02, 1964.