Оптическое устройство для разметки поверхностей изделий Советский патент 1978 года по МПК G01B11/02 B25H7/02 

Описание патента на изобретение SU615356A1

(54) ОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗМЕТКИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ИЗДЕЛИЙ

Похожие патенты SU615356A1

название год авторы номер документа
ПРОЕКЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗМЕТКИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ИЗДЕЛИЙ 1971
SU300751A1
Устройство для оптической разметки 1956
  • Баранов В.К.
SU111916A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
АБЕРРОМЕТР С СИСТЕМОЙ ТЕСТИРОВАНИЯ ОСТРОТЫ ЗРЕНИЯ (ВАРИАНТЫ), УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ЕГО НАСТРОЙКИ 2004
  • Ларичев Андрей Викторович
  • Ирошников Никита Георгиевич
  • Реснянский Артем Юрьевич
RU2268637C2
Способ разметки деталей приварного насыщения на поверхности в помещении судна 1990
  • Андреев Алексей Юрьевич
  • Фалеев Николай Соломонович
  • Футерман Леонид Аврамович
SU1795282A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2237865C2
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2264595C2
ПРОЕКЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗМЕТКИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ИЗДЕЛИЙ 1969
SU241705A1
Конденсор для проекционных приборов 1976
  • Тогулев Валерий Петрович
SU564617A1
Дифракционный интерферометр 1989
  • Четкарева Лидия Эммануиловна
SU1818547A1

Иллюстрации к изобретению SU 615 356 A1

Реферат патента 1978 года Оптическое устройство для разметки поверхностей изделий

Формула изобретения SU 615 356 A1

Иэобретевие относится к области кон-п.рояьво-нэмеритепьной техники и предназ- . начено для разметки поверхностей изделий в авиа-, судо-, станко- и машиностроении.

Известны оптические проекционные устройства (проекторы) для разметки поверхностей изделий, состоящие из источника света, конденсора, целевого знака (маски, разметочной сетки) и проекционного объектива ij.

Эти устройства производят разметку поверхностей изделий путем проецирования на эту поверхность изображения целе-вого знака - разметочной сетки.

Недостаток известного устройства заключается в том, что точность оптического изображения снижается по мере усложнения формы шверхности изделия, так как при сложной криволинейной форме изделия изменяется дистанция от проектора до раз мечаемой поверхности и изображение целевого знака - разметочной сетки- проецируется нерезко.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности и достигаемому реэультату является оптическое устройство для разметки поверхностей изделий, содержащее последовательно установленные источник света, конденсор, целевой знак, проекционный объектив, и систему, позволяющую сохранять положение изображения целевого знака при изменении дистанции на осевой прямой r2j.

Известное устройство имеет следующвсе недостатки: малую глубину резкости, что вызывает необходимость перефокусировки объектива при изменении дистанции до размечаемой поверхности; необходимость многократного проецирования на размечаемую поверхность целевого знака и отметки его положения; отсутствие контроля при фиксировании данного положения на размечаемой поверхности по отметкам изббражений целевого знака.

Все это снижает точность и производительность процесса разметки.

С целью повышения точности и производительности процесса разметки предлагаемое устройство снабжено амплитудно-фаз овым филь ром, выполненным, например, в виде системы параллельных друг другу щелевых диафрагм и расположенным в ходе световых лучей за проекционным объективом. На чертеже.изображено- првйаипиальная схема предлагаемого устройства. Предлагаемое устройство содержит источник 1 света, конденсор 2, целевой знак 3, проекционный объектив 4 и амплитуднофазовый фипьтр 5. Предлагаемое устройство работает еледующим образом. Конденсор 2 строит исзображенйе источника 1 оаета в плоскости установки целевого знака 3. Одновременно эта плоскость является; передней фокальной плоскостью проекционного объектива 4, который фокусирует изображение целевого знака 3 на бесконечность (бесконечно удаленную дистанцигоУ. Амгшитудно-фазовый фияьту 5 установленшый в ходе лучей света за объективом 4, делит фронт падающей на него волны на число частей больше двух, Это достигается, напршйер, тем, что амп.лвтудно-фазрвый фильтр выполнен в виде системы равных я дараялельных друг друг шелевых , ширина которых соизме . рвма с длиной волны света, а расстояние К1ежду диафрагмами на порядок больше, чем «1ирина. Вьздепяемый казкдой днафрагмой сжег диафрагирует в пределах угла в плоскости, перпендикулярной щелевым диафрагмам. Угол l определяется длиной волны и ширююй диафрагмы. В пределах угла в п|1остранстве за амплитудно-фазовым фильтром 5 световые потоки, выделяемые каждой отделыюй ди афрагмой, налагаются друг на друга, обра зуя поле интерфёрёнаин. На размечаемой .поверхности 6 изделия образуется 5штер1| еренционная картина в вксе чередующихся светлых и темаьЕХ полос. Дйнршш интёр ферендноннрй картшгы приблшкенно равна высоте диафрагм амплитудно-фазового фниьтра. Описываемая интерференционная картина формирует на размечаемой поверхности 6 заданное направление. Длина интерференцилнной картины определяется углом tf и дистанцией до размечаемой поверхности 6. Ширину отдельных диафрагм и их количество выбирают в зависимости от сложности размечаемой поверхности и разности дистанций до ближайшего и наиболее удаленг ного участков этой поверхности. Так при |цирине щелевых диафрагм 2,5 мкм И| расЬтоянии между ними 0,02 мм угол CJI составляет ЗО . В поле инте{)ференции на расстоянии от проекционного устройства порядка 3 м длина интерференционной картины равна 1,8 м., Предлагаемое устройство позволяет сформировать заданное направление на размечаемой поверхности без перефокусировки объектива, что повышает точность и пройзводительность процесса разметки. Формула изобретения Оптическое устройство для разметки поверхностей изделий, содержащее после-, довательно установленные источник света, :конденсор, целевой знак и проекционный . объектив, о т л и ч ающ е е с я тем, что,: . с целью повышения точности и производительности процесса разметки, оно снабже-г но амплитудно-фазовым фильтром, выполненным, например, в виде системы параллельных друг другу щелевых диафрагм и расположенным в ходе световых лучей за проекцшэнным объективом. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: . 1.Авторское свидетельство СССР № 138068, кл. Q 01 В 9/О8, 1961. 2.Авторское свидетельство СССР № 241705, кп, q 01 В 19/54, 1961,

SU 615 356 A1

Авторы

Куприянов Евгений Сергеевич

Тогулев Валерий Петрович

Коваленко Владимир Емельянович

Даты

1978-07-15Публикация

1976-04-05Подача