Способ измерения наклонов морской поверхности Советский патент 1979 года по МПК G01C23/00 

Изобретение относится к области океанографии и может быть использовано при дистанционных измерениях ха рактеристик морской поверхности. Известен способ измерения наклонов морской поверхности, при котором облучают одним вертикально направлен ным лучом поверхность морской волны (ультразвуковыми колебаниями), принимают отраженные от исследуемой поверхности сигнады в трех или более точках, сравнивая их с опорным, опре деляют время распространения ультразвуковых колебаний и пройденных ими расстояний до трех и более точек и определяют по ним исходный наклон 1 Недостатком данного способа является узкий частотный диапазон измеряемых величин. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является способ измерения наклонов морской поверхности, ос нованный на вертикальном зондировани морской поверхности импульсными сигналами, приеме рассеянных сигналов в обратном направлении и измерении их интенсивности 2, недостатком данного способа является сложность измерения наклонов коротковолновой части спектра морской поверхности. Целью изобретения является упрощение измерения наклонов коротковолновой части спектра морской поверхности . Для этого по предлагаемог 1у способу измерения наклонов морской поверхности одновременно с интенсивностью обратно рассеянных сигналов измеряют их длительность, определяют зависимость интенсивности от длительности и по приращению длительности, соответствующей уменьшению интенсивности от максимальной до уровня е относительно максимальной, определяют величину среднеквадратичного наклона коротковолновой части спектра морской поверхности. На фиг. 1 приведена блок-схема устройства, реализующего способ;на фиг. 2 - профиль морской поверхности, на которую падает луч вертикально ориентированной антенны (и -угол между зондирующим лучом и нормалью к средней плоскости облученного участка размера i.); на фиг. 3 - зависи