Способ измерения линейных размеров изделий Советский патент 1979 года по МПК G01B13/02 

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЙ

ёа - диэлектрическая проницаемость материала покрытия;

di -длина струи жидкости;

di - толщина, покрытия;

S - площадь сечения струи.

Выбирая параметры струи и жидкости так, чтобы выполнялось условие.

dzSi 6id, будем иметь С «SS«/nda.

Измеряя величину емкости, определяют толщину покрытия.

Применяя жидкость с диэлектрической проницаемостью, равной проницаемости покрытия, определяют размер изделия без учета толщины покрытия.

Таким образом, описываемый способ измерения делает возможным измерять как толщину изоляционного покрытия, так и линейный размер собственно изделия под слоем диэлектрического материала.

Формула изобретения

1.Способ измерения линейных размеров изделий без предварительной очистки из поверхности, заключающийся в том, что на измеряемую поверхность подают струю жидкости и по электрическому параметру струи судят о размере, отличающийся тем, что, с целью расщирения функциональных возможностей, используют жидкость с высокой диэлектрической проницаемостью и измеряют ее емкость.

2.Способ по п.. 1, отличающийся тем, что применяют жидкость с диэлектрической проницаемостью, равной проницаемости материала покрытия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Заявка № 1915709/25-28, по которой принято рещение о выдаче авторского свидетельства.