Рефрактометрическая система для аналитической ультрацентрифуги Советский патент 1979 года по МПК G01N21/46 

(54) РЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКАЯ СИСТЕМА для АНАЛИТИЧЕСКОЙ УЛЬТРАЦЕНТРИФУГИ

..- Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение для измерения градиента рефракции в кювете аналитической ультрацентрифуги. Известна рефрактометрическая система для аналитической ультрацентрифуги, содержащая источник света, коллиматор, кювету, ротор ультрацэнтрифуги, диафрагму, фотоприемник 1. ; в известной система в процессе вращения ротора отклонение светового пучка, вызвйн- ное градиентом рефракции в кювете, преобразуется с помощью диафрагмы в амплитуду вьЬсодного сигнала фотоприемпика. Поскольку на амплитуду выкодного сигнала в значительной степени влияет неравномерность светового потока вдоль секто ра кюветы, вариации интенсивности истЬч ника и пропускания оптической системы, эта система обладает большими погрешностями измерения градиента рефракции. Наиболее близкой по технической сущности к данному изобретению, является рефрактометрическая система для анали-ГИ ческой ультрацентрифуги, содержащая последовательно расположенные источник света, коллиматор с объективом и щелью, кювету для анализируемого вещества с щелевой маской, расположенную во вращающемся роторе ультрацентрйфуги, диафрагму, объектив, сканирующее устройство и фотоприемник 2J. В этом системе используетС:япреобразование отклонениясветового пучка в длительность светового ймпуЛьса с последующим ее измерением. Поэтому погрешность из-за неравномерности светового потока вдоль сектора кюветы, вариацит интенсивности источника с№та и пропускания оптической системы уменьшены, но не исключены. Кроме того, известная рефрактометрическая система позволяет работать только с односекторными кюветами. Целью настоящего изобретения является повышение точности измерения градиента рефракцииИ расширение функ-Нйонаяьных возможностей системы. Эта цель достигается тем, что в фокальную плоскость коллиматорного объектива введена неподвижная щелевая диафрагма, перпендикулярная коллиматорной; щели. На чертеже изображена схема рефрактометрической системы для аналитической ультрадентрифуги.,. Рефрактометрическая система состоит из источника света 1, щели 2, нижнего коллиматорного объектива 3, кюветы 4 для анализируемого вещества со щелевой маской 5, расположенной во вращающемс роторе ультрацентрифуги верхнего коллиматорного объектива б, цилиндрического объектчва 1, диафрагмы 8, состоящей из неподвижной 9 и подвижной 10 щелей, сферического 11 и цилиндрического 12 объективов сканирующей щели 13, привоДИМОЙ в движение сканирующим ме.ханиз- мом 14, и фотоэлектронного умножителя 15. Система работает следующим образом Выходящий из щели 2 от источника 1 световой поток формируется нижним коллиматорным объективом 3 в параллель. нь1й световой подток. Щелевая маска 5 вырезает из этого потока узкий пучок пар1аллельных лучей верхним коллиматорным объективом 6 и цилиндрическим объективом 7, в плоскости диафрагмы 8 создается световое пятно, перемешающее ся-при вращении ротора. Световое представляет собой прямоугольник, размеры стЪрон которого определякЭтся шири ной щели 2 и цтелевой маски 5. Объективы 6, 11, 12 создают изображение кЮветы 4 в плоскости сканирующей щели 13. .Фотоэлектронный умножитель 15 пре образует падающие на него в процессе вращения ротора световые импульсы в электрические. Рефрактометрическая система для аналитической ультрацентрифуги позволяет повысить точность измерения градиента рефракции в кювете аналитической ультрацентрифуги, что в целом повышает точность выполняемых научных исследований, в частности, при разделении биологических веществ. Повышение точности измерений .и расширение функциональных возмохшостей системы позволяет поднять производительность труда при- проведении научных исследований, уменьшить износ дорогостоящего оборудования. Формула изобретения Рефрактометрическая система для аналитической ультрацентрифуги, содержащая последовательно расположенные источник света, коллиматор с объективом и щелью кювету для анализируемого вещества с щелевой маской, расположенную во вращающемся роторе упьтрацентрифуги, диафрагму, объектив, сканирующее устройство, фотоприемник, отличающаяс я тем, что, с целью повышения точности измерения градиента рефракции и расширения функциональных возможностей системы, в фокальную плоскость коллиматорного объектива введена неподвижная щелевая диафрагма, перпендикулярная коллиматорной щепи. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Reisner А .Н. Modification of the Phobelectric Scanner of the Analyiical UltrocentHfug« tov Schlieren Analysis. Analyiical iochemistry, 41, 1-15, 1971. . 2. Авторское свидетельство СССР п.о заявке № 1864891/25, кл. G 01 J 1/04, 1972 (прототип).