Рефрактометрическая оптическая система для аналитической ультрацентрифуги Советский патент 1981 года по МПК G01J1/04 G01N21/41 

(54) РЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА ДЛЯ АНАЛИТИЧЕСКОЙ УЛЬТРАЦЕНТРИФУГИ I / , Изобретение относится к устройствам для измерения градиента ре4ракции и может быть использовано для измep€fния кон центрации вещества в кювете ротора аналитической ультрацентрифуги. Известны рефрактометрические системы содержащие источник Ьвета, коллиматор, кюветы для анализируемой жидкости, нож модулятор,объектив, фотоприемник ИЕ2 . Однако указанные устройства обладают низкой точностью измерений, причем не позволяют проводить измерения при вращении кюветы. Известна рефрактометрическая оптическая система для измерения градиента рефракции веШества, содержащая источник света, коллиматор, кюветы для анащзируемо1ч вещества, расположенные в роторе вращения аналитической ультрацентрифуги, объектива, нож с изменяемым углом наклона, Проекционный объектив, устройство сканирующего фотоприемшпса Гз}. Известная система из-за неравномер-. кого распределения интенсивности света вдоль кюветы обладает больщими погрешностями измерений градиента рефракций. Цель изобретения - повышение точности измерения градиента рефракции. Поставленная цель достигается тем, что в кювете установлена маска со щелью, направленной вдоль радиуса вращения ротора, а в плоскости ножа расположен дополнительный неподвижный нож перпендикулярно изображенной щели. На чертеже приведена схема устройства. Система включает щель 1, щель 2, коллиматор 3, кювету 4, помещенную в роторе врещения аналитической ультрацентрифуги (не показана), маску 5 со щелью 6, линзу (объектив 7, неподвижный нод 8, нож 9 с изменяющимся углом наклона, проекционный объектив 10, швль11, фотоприемник 12. Система работает следующим образом. Лучи А и В проходят, предположим, через участок кюветы, где отсутствует градиент рефракции. Эти лучи создают в штоскости ножей световое пятно, размеры ко торого определяются шириной щели 2 и шоли 6 кюветы 5. При вращении ротора световое пятно в плоскости ножей 8 и 9 перемещается по траектории С и сначала пересекает лезвие неподвижного ножа 8. li& выходе фотоприемника возникает импульс, исчезающий в момент пересечения цветовым пятном лезвия ножа 9, т.е. на выходе фотоприемника возникает импульс направления,длительность кото|юго равна времени между моментами пересечения движущимся по траектории световым пятном лезвий ножей 8 и 9. Предположим, что щель 9 сканирует изображение участка кюветы с градиентом рефракции и через этот участок кюветы проходит луч 2) , Направление хода это. го луча изменяется из-за влияния градие та рефракции, а световое пятно в плоскости ножа перемещается по траектории .Е. Так как ножи 8 и 9 установлены под углом друг к другу, то в случае сканирования щелью 11 изображения кюветы с градиентом ре(|)акции, длительность импульса напряжения на выходе фотоприемника изменяется. Таким образом, длительность импульса на %ыходе фотоприемника соответствуе величине измеряемого градиента рефракции. Длительность этого импульса может быть измерена посредством любого пригодного для этой цели прибора. В случае нелинейной зависимости показаний прибора от величины градиента рефракции лезвие ножа 9 может иметь форьму заданной кривой, например логарифмическую. Формула изобретения Рефрактометрическая оптическая система для аналитической ультрацентрифуги, содержащая источник света, коллиматор, кюветы для анализируемого вещества, расположенные в роторе вращения аналитической ультрацентрифуги, объектив, нож с изменяемым углом наклона, проекционный объектив, сканирующее устройство, фотоприемник, отличающаяся те, что, с целью повыщешш точности измерения градиента рефракции, в ккжете установлена маска со.шелью, направленной вдоль радиуса вращения ротора, а в плоскости ножа расположен дополнительный неподвижный нож перпендикулярно изображению щели. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Гринштейн М. М. и др. Фотоэлектрические концентратомеры для автсматнческого кoнтjxзlпя и регулирования. М., Мащшюс1роение, 1966, с. 141-144. 2,Мнроненко А. В. Фотоэлектрические измерительные системы, М., Энертия, .с. 129-135. 2i.AiiaS ilBci6 eeMiiw- ftte:. 1971, № 41, с. 1-15 (прототип).

It

11

двшнения кюветы