Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок Советский патент 1979 года по МПК G04F13/00 

чатели 6, 7 и 8, электронные ключи 9, 1О и 11, регулируемые источники тока 12-15, регулируемый элемент задержки 16, формирователь импульсов подсвета 17, микроскоп 18, механизм 19 пе- ремещения микроскопа, шины нулевого потенциала 20 и опорного напряжения 2L

Способ осуществляют следующим образом.

Переключателями 6, 7 и 8 подключают входы ключей 9, Ю и 11 к шине 20 ну, левого потенциала. При этом выходы источников тока 12, 13 и 14 отключаются от отклоняющей системы 2 и системы динамической фокусировки 3. Регулировкой источника тока 15 фокусируют неотклоненный луч, после чего переключателями 6, 7 и 8 подключают входы ключей 9,10 и 11 к щине опорного напряжения. При этом ключи 9,, 10 и 11 подключают источникит тока 12, 13 и 14 к катушкам отклоняющей системы 2 и системы динамической фокусировки 3. Регулировкой тока источников 12 и 13 обеспечивают отклонение луча в заданную точку экрана ЭЛТ, а регулировкой тока источника 14 фокусируют отклоненный- луч. Отпирание ЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формирователем импульсов подсвета 17, работа которого синхронизирована генератором прямоугольных импульсов 5. Механизмом перемещения 19 устанавливают микроскоп 18 так, чтобы световое пятяо, формируемое на экране ЭПТ, оказалось (приблизительно) в центре поля зрения микроскопа. Отмечают положение светового пятна. После этого переключателями 6 и 7 подсоединяют входы ключей 9 и 1О к выходу генератора 5 прямоугольных импульсов. Световое пятно занимает положение, соответствукнцее началу переходного процесса. Увеличивая задержку при помощи элемента задержки 16, наблюдают перемещение светового пятна в поле зрения микроскопа. Определяют положение регулятора элемента задержки 16, при котором пятно с заданной точностью устанавливается в положение, определенное в статическом режиме, и отклонение от этого положения не увеличивается при дальнейщем увеличении задержки.

По показаниям шкалы элемента задерж кя 16определяют длительность переходного процесса отклонения. Аналогичным образом определяют длительность переходного процесса в системе динамической фокусировка.. Переключателями 6, 7 и 8

подключают входы ключей 9, 10 ,11 к шине 2О нулевого потенциала и регулировкой тока источника 15 фокусируют луч. После этого переключателями 6,7 и 8 подключают входы ключей 9, 10 и 11 к щине опорного напряжения 21 и регулировкой тока источника 12, 13 и 14 обеспечивают требуемое положение и размер светового пятна. Затем переключателем 8 подключают источник тока 14 к генератору 5 и, увеличивая задержку, добиваются размеров пятна, установленных в статическом режиме. Длительность переходного процесса определяют по показаниям шкалы элемента задержки. Способ применим также для определения длительности переходных процессов в системах динамической коррекции астигматизма. Формула изобретения;

Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок, основанный на формировании периодических имйульсов управляющих сигналов в исследуемых цепях фокусирующе-отклоняющей системы и наблюдении за величиной соответствуклцего параметра следа электронного пучка на экране электроннолучевой трубки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и расширения функциональных возможностей, предварительной регулировкой величин управляющих сигналов в статическом режиме устанавливают требуемые значения параметров следа электронного пучка - положения, размеров, формы - на экране электроннолучевой трубки, после чего подают в исследуемые цепи управляющие сигналы в виде периодических импульсов прямоугольной формы, причем длительность импульсов устанавливают больше ожи- даекюй длительности переходного процесса, а амплитуду - равной значению, установленному в статическом режиме, электроннолучевую трубку отпирают периодическими импульсами, длительность которых устанавливают меньше длительности импульсов управляющих сигналов в исследуемых цепях, периодические импульсы формируют синхронво с импульсами управлякяцих сигналов в исследуемых цепях с задержкой относительно их передних фронтов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Вопросы радиоэлектроники, серия Тен.юса телевидения , вып. 3, 1970, с. 53-55.

4 3

1