Способ измерения длительности переходных процессов в системах отклонения электронно-лучевых трубок Советский патент 1982 года по МПК H01J31/00 

нестабильности измерительной аппаратуры или случайного сбоя микроскопа) достоверность результатов измерений снижается. Цель изобретения - сокращение времени, повышение точности, а также удобства и достоверности измерений. Поставленная цель достигается тем 5 что согласно способу в интервалах между периодическими импульсами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания луча ЭЛТ. След электронного луча, соответствующий импульсу отпирания, совмещают со следом электронного луча, соответствующим установившему ся значению процесса отклонения, а длительность переходного процесса определяют по времени задержки .им-. пульса отпирания электронного луча. На фиг.1 представлены эпюры: управляющего сигнала в исследуемой цепи 1, импульса 2 подсвета, задер жанного на время Т по отношению к началу управлякяцего сигнала, переходного процесса в цепи 3 отклонения, а также изображения светового пятна, соответствующие неотклонеиному положению пучка k, установившемуся значению отклоненного пуч ка (точка 5)и положению пучка в момент времени, соответствующий импул су отпирания пучка (точка 6. На фиг.2 представлена структурна схема установки, реализующей описан ный способ. Установка содержит электроннолуч вую трубку 7, содержащую отклоняющую систему 8, систему 9 динамической фокусировки, систему 10 статической фокусировки, генератор 11 прямоугольных имг1ульсов, переключат ли 12, 13и 1, электронные ключи 15 1б и 17 регулируемые источники 18-21 тока, регулируемый элемент 22 задержки, формирователь 23 импульсо подсвета, микроскоп 2, механизм 25 перемещения микроскопа, шину 26 нулевого потенциала, шину 27 опорно напряжения и регулируемый источник 28 напряжения. При реализации способа переключа телями 12, 13 и 1 подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине 2б нулевого потенциала. При этом выходы источников 18, 19 и 20 тока отключают от отклоняющей системы 8 и сис емы 9 динамической фокусировки. Регулировкой источника 21 фокусируют неотклоненный луч, после чего переключателями 12, 13 и 1 подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине onopV ного напряжения. При этом ключи 15, 1б и 17 осуществляют подключение источников 18, 19 и 20 к катушкам отклоняющей системы 8 и системы 9 динамической фокусировки. Регулировкой тока источни,ков1 18 и 19 обеспечивается отклонение луча в «заданную точку экрана ЭЛТ, а регулировкой тока источника 20 фокусируют отклоненный луч. Регулировкой источника 28 устанавливается такое напряжение на модуляторе ЭЛТ, при. котором в промежутках между отпирающими импульсами не происходит полного запирания луча. Отпирание ЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формирователем 23 импульсов подсвета, работа которого синхронизирована генератором 11 прямоугольных импульсов, при этом на экране наблюдаются три светящие точки (фиг.1). Механизмом 25 перемещения устанавливают микроскоп 2k таким образом, чтобы точка 5 соответствующая установившемуся режиму переходного процесса, оказэлась в центре поля зрения микроскопа 2k. Увеличивая задержку при помощи эле мента 22 задержки, наблюдают за перемещением световой точки 6, которая при увеличении задержки передвигается к точке 5 По показаниям шкалы элемента 22 задержки определяют длительность переходного процесса отклонения, которая соответствует тому значению задержки, при которой передвигающаяся точка 6 приблизится к точке 5, соответствующей положению пучка в установившемся режиме с заданной . точностью, а отклонение от этого положения при дальнейшем увеличении задержки не увеличивается. Применение способа обеспечивает сокращение времени измерения длительности переходных процессов в цепях отклонения более чем в 3 раза и исключает погрешности обусловленные неточностью устано.вки микроскопа. формула изобретения Способ измерения длительности переходных процессов в-системах отклонения электроннолучевых трубок по авт.св. ff бЭЭ+б, о т л и ч а rout и и с я тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности измерения в цепях отклонения, в интервалах между периодическими импуль сами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания луча электроннолучевой трубки, след элект ронного луча, соответствующий импуль су отпирания, совмещают со следом 6 электронного луча, соответствующим установившемуся значению процесса отклонения, а длительность переходного процесса определяют по времени задержки импульса отпирания электронного луча. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № esgis, кл, G 04 F 13/00, 1978.

и