Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электронно- лучевых трубок Советский патент 1980 года по МПК H01J31/60 

iBo-B-T-cpbix, В невозможности исследования цепей отклонения. Известна установка для измерений длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок, содержащая электроннолучевую трубку, исследуемую фокусирующе отклонйющ5Од систему, состоя щую из блоков отклонения и статической фокусировки, а также блока коррекции ио;кажений размеров и формы пятна, возникающих при отклонении элей-фонного пучка, включающего блок динамической фокусировки, содержащая также источник электропитания блока статической фокусировки, связанный с блоком статической фокусировки, усилители, связанные с въгводами блока отклонения и блока коррекции искажений размеров формы пятна, формирователь импульсов подЬвета, связанный с электроннолучевой трубкой, и микроскоп, установленные перед электронно лучевой труб1ш и генератор управллиющих щлпульсов f27. Недостатком установки является низкая точность измерений. Это вызвано необходимостью поиска полем зрения микроскопа точки пересечения линий прямого и о&ратного хода луча, а также подсчета чиола меток времени на отображаемой линии, часть из которых зафыта корпусом микро скопа. Кроме того, -эта установка не гкзэв ляет вьшолнять -измерения длительности переходньк процессов в цепях динамичеокой фокусировки и коррекции астигматизма отклонения. Цель.изобретения - повьшение точности измерений и расширение функциональных возможностей. Цель достигается тем, что установка содержит реГулкруемь1й элемент задержки, установленный между выходом генератора управляющих импульсов и входсад формирователя импульсов подсвета, шины отпираю щего и запирающего потенциалов и регу лируемьШ источник напряжения, ключ и пе реключатель, установленные в исслеДуёмьк цепях, причем нходные контакты каждого переключателя соединены с выходом генератсфа управляющих импульсов и шинами запирающего и отпирающего потенциалов, а выходная клемма каждого переключателя соединейа с управляющим входам соответствующего ключа, другой вход которог соедшен с регулируемым источником налряжениа, а вькор/зм - со входом соответ ствующего усшштелис-„.. На чертеже представлена структурная схема установки. 7 3 Установка содержит генератор 1 управляющих импульсов, регулируемые источники 2, 3, 4, 5 и 6 напряжения, ключи 7, 8, 9, 10 и 11, усилители 12, 13, 14, 15 и 16, переключатели 17, 18, 19, 20 и 21, источник 22 тока статической фокусировки, регулируемый элемент 23 задержки, формирователь 24 импульсов подсвета 24, шину 25 запирающего потенциала, шину 26 отпирающего потенциала, микроскоп 27 с механизмом 28 перемещения, электроннолучевую трубку 29, а также ио-. следуемую фокусирующе-отклоняющую снотему, состоящую из блока 30 отклонения, блока 31 статической: фокусировки, катуш ки 32 динамической фокусировки, катушки 33 и 34 коррекции астигматизма от клонения. По дготовка установки к из м ерениям про- , изводится следующим образом. Переключателями 17 и 18 подсоединяют входы ключей 7-11 к шине 25 запирающего потенциала. Ключи 7-11 при этом закрываются и в блоке отклонения ЗО, катушках 32 динамической фокусировки и коррекции астигматизма отклонения 33 и 34 ток не протекает. Регулировкой иоточника 22 тока статической фокусировки фокусируют луч. Отоирание электроннолучевой трубки производится импульсами подсвета, формируемыми формирователем 24, синхронизированным генератором 1 импульсов напряжения прямоугольной формы. Затем производят регулировку установки в статическом режиме. Для этого переключателями 17-21 производят подключение входов ключей 7-11 к шине 26 отпирающего потенциала. Ключи открываются и входы усилителей 12-16 подклк чаются к выходам регулируемых источников 2-6 напряжения. Ток на выходе ус лителей определяется уровнем напряжения на их входах. Регулировкой напряжения источников 12 и 13 устанавливают требуемое положение светового пятна на экране электроннолучевой трубки, а регулировкой напряжения источников 14-16 обеопечивают фокусировку лучами коррекцию астигматизма отклонения. Наблюдение за формой и положением пятна осуществляет, ся при помсши микроскопа 27, устанавливаемого в требуемое положение механизмом 28 перемещения. Дальнейшие оп&рации зависят от того, какая цепь исследуется. При (ифеделении длительности п&рзхоШых процессов отклонения переключателями 17 и 18 подключают входы ключей 7 и 8 к выходу генератора 1. При ЭТОМ усилители 12 и 13 начинают формировать в катушках отклоняющей системы 30 импульсы тока, амплитуда которых определена предварительной регулировкой источников 2 и 3 напряжения. Луч при QtGM периодически отклоняется. Как указывалось выше, отпирание электронно|Лучевой трубки осуществляется импульсами прямоугольной формы. Длительность этих импульсов устанавливается приблнз. тельно в 5О-100 раз меньшей ожидаемой длительности переходнот о процесса. При отсутствии задержки положение светового пятна соответствует началу переходного йроцесса отклонения. При увеличении задержки пятно перемещается по направлению к положению, установленному регулировкой источников напряжения 2 и 3 в статичеоком режиме. Увеличивая задержку элеме та 23, находят ее значение, при котором пятно с заданной точностью занимает в поле зрения ми1фосксн1а положение, установленное регулировкой в статическом режиме. Увеличивают задержку далее, пров& ряя, не увеличивается ли отклонение пятна от заданного положешга. В том случае, если отклонение не увеличивается, уменьшают задержку до значения, при котором пятно еще остается в заданном положений и Считывают показания указателя величины задержки, вносимой элементом 23 задержки. Длительность переходного процесса отклонения принимают величине задержки. При определении длительности переходного процесса в цепи динамической фокусировки к генератору 1 подключают не ключи 7 и 8, а ключ 9 и; увеличивая за, держку, добиваются того, что размеры пят на достигают значения, установленного регулировкой в статическом режиме и не увеличиваются при дальнейшем увеличении задержки. Аналогичным образом устанавливают длительность переходных процессов в цепях коррекции астигматизма от1слонення. При комплексных проверках длительности переходных процессов производят подключение к генератору 1 ключей 9, 10 и 11 или всех ключей в зависимости от целей, преследуемых той или иной проверкой. Применение изобретения позволяет сократить время проверок в 3-5 раз при вь сокой точности измерений. Установка обео печивает возможность измерения длительнос-па переходных процессов не только в отклоняющей системе, но и в системах .

3ifti c ia lffA xsa-:iciii : iS. 7 836 Намической фокусировки и коррекции астигматизма отклонения. Формула изобретения Установка для измерения длительности переходньгх процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок, содержащая aneKijJOHHOлучевую трубку, исследуемую фокусирующ& отклоняющую систему, состоящую из блокЪв отклонения и статической фокусиро&ки, а также блока коррекции искажений размеров и формы пятна, возникающих при отклонении электронного пучка, включа1ощего блок динамической фокусировки, содэржащая также источник электропитания блока статической фокусировки, связанный с блоком статической фокусировки, усил тели, связанные с вьшодами блока отклонения и блока коррекции искажений размеров формы пятна, формирователь импульсов подсвета, связанный с электроннолучевой трубкой, и микроскоп, установленные перед экраном электроннолучевой трубки и генератор управляющих импульсов, о тли чающаяся тем, что, с ц&лью повышения точности измерения и расширения функциональньк возможностей, содержит регулируемый элемент задержки, установленный между выходом генератора управляющих импульсов и входом формщ)вателя импульсов подсвета, шины запирающего и отпирающего потенциалов, переключатель, регулируемый источник напряженият и ключ, установленные в исследуемых , причем входные клеммы каждого переключателя соединены с выходом генератора управляющих импульсов и шинами ота-ирающего и запирающего потенциалов, вь ходная клемма каждого переключателя соединена с управляющим входом соответс1 вующего ключа, соединенного вторым входом с регулируемым источником напряжения, а выходом - со Е«ОДОМ соответству1ощего усилителя. Источники информации, ринятые во внимание при экспертизе 1.Миллер В. А., Куракин Л. А. Приемные электроннолучевые трубки. М., Энергия, 1971, с. 121-123. 2.Горелов А. А., Овчинников Е. К, переходных процессах дискретного откло ения светового пятна высокоточного телеизионного датчика. Вопросы радиоэлект оники, серия Техника телевидения , 970, вып. 3, с. 53-58 (прототип).