Подложка для исследования политерм поверхностного натяжения металлических расплавов Советский патент 1979 года по МПК G01N13/02 

Изобретение относится к области исследования физико-химических csotic жидкостей, а более конкретно к устройствам для исследования попитерм поверхностного натяжения металлических расплавов методом лежащей капли. Известны подложки, выполненные в виде плоских пластин с отшлифованной горизонтальной поверхностью, на кото рой покоится капля исследуемой жидкости 1. Такие подложки не позволя получить каплю строго симметричной формы, отклонение от которой приводи к резкому повышению ошибки измерения поверхностного натяжения жидкости, В связи с этим предложены .подложки, имеющие форму тел вращения с поверхностью, ограниченной кольцевым ребрсм, расположенным в горизонтальной плоскости, на которой принудительно формируется капля симметричной формы Наиболее близким к изобретению техническим решением является подлож ка, содержащая емкость, ограниченную острым кольцевым ребром, на которой принудительно формируется капля исследуемого расплава 2. Как известно, диаметр кольцевого ребра подложки функционально зависит от величины поверхностного натяжения и плотности расплава при прочих равных условиях. В связи с этим, при переходе от одного исследуемого сплава к другому, возникает необходимость менять подложки, в особенности когда исследуются сплавы, существенно различающиеся по величине .-поверхностного натяжения и плотности. Замера подложки, находящейся, -например, в вакуумной камере и в условиях сверхвысокого вакуума, связана с большими трудностями и требует много времени. Например, разгерметизация камеры с целью замены подложки, замена ее и проведение вакуумной обработки перед новой серией экспериментов занимает в среднем 15-20 ч. Если учесть необходимость изготовления и калибровку каждой новой подложки, то на это уходит примерно 30-40 ч. Кроме того,; отклонения в размерах, допущенные во время изготовления подложки, при калибровке и термовакуумной обработке ее, могут вызвать ошибки в измерении поверхностного натяжения, которые по величине в отдельных случаях намного превышают сшибки самой методики измерения