Устройство для определения интегральной поглощательной способности зеркальноотражающих материалов Советский патент 1979 года по МПК G01N21/22 

ти другого луча, что приводит к дополнительным погрешностям нз-аа расходимости луча и некоторой saBHCHNiocTH показаний приемника излучения от его расстояния до источника излучения. Рфоме того, необходимость перемещения образцов при измерении затрудняет; их термостатирование 1фи низких температурах. Цель предлагаемого изобретения - повышейне точности измерения. Для этого дополнительно между источником и приемником излучения по ходу луча установлено плоское зеркало, а обра да материала расположены параллелыю зеркалу и закреплены неподвижно, причем внешняя поверхность образца, обращенного к зеркалу, выполнена зержальной, а зеркало выполнено с возможностью его параллельного перемещения на расстояние Н, определяемое соотношением H ChM-)-v-f-. , где И - число отражений; }} - расстояние между внутренними поверхностями образцов; (У - толщина образца с внешней зеркальной поверхностью. На чертеже показана схема предлагаемого устройства. Устройство содержит источник 1 излучения, неподвижные зеркала 2 к 3, плоское зеркало 4, вьшолненное с возможностью его параллельного переплетения, образец 5 с внутренней зеркальной поверхностью 6, образец 7 с внутренней зеркальной поверхностью 8 и с внешней зеркальной поверхностью 9, причем образцы расположены параллельно зеркалу 4, и при емник 10 излучения. Бели плоское зеркало 4 установлено в положении I, как показано на чертеже то на образец 5 падает луч 11. Бели зер кало 4 установлено в положении 11, то на образец 7 падает луч 12. Устройствоработает следуквдим образом. Луч от источника 1 излучения, отразившись от неподвижного зеркала 2, падает на подвижноезеркало 4, которое в положении I посылает луч 11 на внут- . реннюю поверхность 6 образца 5. Далее луч 1 многократно отражается от внутрен них поверхностей 6 и 8 и снова падает н зеркало 4, после отражения от зеркала 4 попадает на зеркало 3, которым направ ляется на приемник 10 излучения. В положении II зеркала 4 луч 12, отраженный от зеркялп 4, падает на внешнюю по702278верхность 9 образца 7, от которого он однократно отражается и попадает снова на зеркало 4 и далее, отразившись от зеркал4 и 3, направляется на .приемник 10 . . Сигнал приемника 10 излучения при многократном отражении луча 11 от поверхностей 6 и 8 пропорционален отражательной способности материала в степени, равной числу 1l отражений, т.е. При однократном отражении луча 12 от поверхности 8 сигнал С пропорционален отражательной способности материала, т.е. C -j-KR -Отношение, этих двух сигналов дает С,/С,-R -При этом поглоща тельную способность материала определяют по формуле SSi. Достоинства предлагаемого устройства состоят в следующем. Длина пути луча в двух измерениях при однократном и многократном отражениях одинакова, что обеспечивается перемещением подвижного зеркала на расстояние Н, определяемое соотношением H4nH). Это обеспечивает, в сьою очередь, повышение точности измерений при наличии некоторой расходимости луча и зависимости сигнала приемника излучения от его расстояния по лучу до источника излучения. Относительная погрешность измерения поглрщательнЬй способности Л А/А, определяемая выражением; К . йСиЧ С. С,,/ А 1-Т5. И-- V ( ii где ДС,(СГ,)1- относительные погрешности измерения 11-го и 12-го сигналов, может быть уменьшена за счет увеличения h числа отражений. Входной и выходной лучи не меняют своего положения при двух измерениях, что позволяет зафиксировать положения приемника и источника излучения. Кроме того, образцы отражающего материала закреплены неподвижно, что позвопяет более просто организовать термо- статирование материала/при различных, в том числе и низких темйературах. Ослабление луча оптической системой устройства, зеркалами, окнами и т.п. исключается из конечного результата измерений. Все перечисленные достоинства в конечном счете доэышают точность и удобство измерений. Указанные преймущества позволят применить предлагаемое устройство для измерения поглощательной способности сильно отражающих излучение материалов так же и при низких температурах, характерных для работы криоизоляции и супериаоляцви, где Такие материалы используются, а также для измерения поглощат льной способности отражающих материков терморегулируюших поверхностей. Формула изобретения Устройство для определения интегральной поглощательной способности зеркально отражающих материалов, состоящее из источника излучения, приемника излучения и плоских образцов указанных материалов, расположенных параллельно друг другу, с внутренними поверхностями, вьшолненными зеркальными, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, дополнительно между источником и приемником излучения по ходу луча установлено плоское зеркало, а образны материала расположены параллельно зеркалу и закреплены неподвижно, причем внешняя поверхаость образца, обращенного к зеркалу, выполнена зеркалшой, а зеркало выполнено с возможностыо его параллельного П1еремещенвя на расстояние Н, определяемое соошошеннем H(. где И - число отражений; - расстояние между внутренними поверхностями образцов; У - тотцина образца с внешней . зеркальной поверхностью, источники информации принятые во внимание прв экспертизе 1. Приставка для измерения отраженкя и пропускания .)S4 алых образцбв - ИПб- 22 к спектрофотометру ИКС-14А. ТО в инструкция по; эксплуатшйи, . 2.Т05с.амо .fA..,cravaE,tio E.Q- iSpeHШеп-Ьае measurements of -the N onochro niat- c near norniae reSeectavice of p-oca at cnjog-emc tempera-buree-Heat -trtuns er l9l4.Proceediiib-s o4 ttie Fifth avi-ter;f,ationcie Heat Ti-ansfer Ccnfehehce i-7 Р ьшЪег ,1914,,ч1.,|.| 4р-1-16.