Устройство для измерения толщины слоя материала Советский патент 1980 года по МПК G01B11/02 

бы наконечник 10 отстоял от поверхности образца на 0,1-0,2 мм. Затем образец ноднимают с немощью, например, предметного столика до сонрикосиовения поверхности образца с наконечнико.м н, наблюдая в мнкроскон 16, устанавливают ахроматическую полосу - индекс интерфереиции на нуль шкалы мнкроскона. Для установки начального положения полосы индекса на нуль иснользуется регулировочная гайка 5. Затем поднимают шток 2 и наносят на новерхность образца жидкую или нолужидкую нсследуемую пленку. Опуская шток 2, наконечник 10 приводится в контакт с нлеикой и производится отсчет отклонення штока 2 но шкале интерферометра, характернзуюш,его пленки. Поместив на нлощадку 20 штока 2 груз, нзмеряют деформации плепки под действием нагрузки.

Формула изобретен и я

Устройство для нзмерення толщины слоя материала, содержащее коиТактиый интерферометр с трубкой, внутри которой распололсен щток с упругой подвеской, отличающееся тем, что, с целью повышения точности при измерении жидкнх пленок, оно

снабжено втулкой, установленной внутри трубки с возможностью осевого неремещения носредством упорного подшинника и регулировочной гайки, причем подвеска штока закреплена внутри втулки.

Источники информации, иринятые во внимание ири экспертизе

1. Сэиборн Д. М., Винер В. О. Влияние реологических свойств жидкости на ЭГД точечный контакт при скольжении в условиях неустаиовнвшейся нагрузки. Проблемы трения и смазки, ЛЬ 2, 1971, с. 52.

2. Интерферометр контактный вертикального типа ИКПВ. Описание н руководство к пользованию. Московский инструментальный завод «Калибр, М., 1968 (нрототнп).