Устройство для изучения вакуумнотеплового воздействия на материалы Советский патент 1980 года по МПК G01N25/14 

Эксперименты, проведенные на образцах фторопластовой пленки, показали (см. фиг. 2), что нотеря массы зависит от степени перфорации до значения 30%, а далее потеря массы зависит только от температуры.

Измерения потери массы проводились при температурах 300 и 350°С (кривые I и II соответственно).

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет производить нагрев х иэлектриков, оценивать испаряемость материала и площадь, с которой происходит испарение, за счет обеспечения условий испарения, аналогичных условиям испарения с открытой иоверхностн, т. е. реальным условиям эксплуатации диэлектрического материала в приборах и аппаратах.

Формула изобретен и я

Устройство для изучения вакуумпо-теплового воздействия на материалы, включающее перфорированную металлическую гильзу для размещения исследуемых материалов, подвешиваемую к вакуумпым микровесам, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью приближения условий испытаний к условиям испареиия с открытой поверхности, гильза вьшолиеиа со стеиенью перфорации ее поверхности равиой 30-50%. Источники информации,

ирииятые во внимание ири экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР № 219235, кл. G 01N 25/14, 1966.

2.Микровзнешиваиие в вакууме, сб. т. II, М., «.Металлургия, 1969, с. 85 (ирототип).

PW5.7

304050

foго

% пep(popcfЦiJ J

(риг. i