Устройство для измерения магнитных свойств кольцевых ферромагнитных пленок Советский патент 1980 года по МПК G01R33/12 

Описание патента на изобретение SU742840A1

Изобретение относится к области магнитометрии, в частности к устрой ствам для исследования магнитных свойств тонких, плоских, кольцевых ферромагнитных плёнок (КФМП) с вращательной симметрией оси легкого на магничивания (ОЛН), используемых в качестве элементов автоматики и вычислительной техники. Известны магнитооптические устройства, предназначенные для исследования магнитных свойств тонких магнитных пленок, содержащие оптическую систему, поляризатор, анализатор, источники магнитного поля, р гистриругацую аппаратуру и предметны столик 1. Такие устройства позволяют прово дить исследование магнитных свойств сплошных магнитных пленок (СМП) с одноосной анизотропией. При этом на практике используется полярный, меридиональный, либо экваториальный эффекты Керра. Однако точность их недостаточна. Известно устройство для наблюдения доменной структуры тонких плоских КФМП с вращательной симметрией ОЛН с помощью магнитооптического эффекта Керра, содержащее предметный столик, оптическую систему, поляризатор, анализатор, источники магнитного поля и регистрирующую аппаратуру 2. В этом устройстве на пленку, находящуюся на неподвижном столике, направляют линейно-поляризационный свет под углом 60°, отсчитьшаемым от нормали к ее поверхности. Отраженный от всей поверхности пленки свет пропускают через анализатор, и визуально наблюдают или фотографируют. При этом одновременно наблюдается доменная структура всей поверхности пленки. Однако,известное устройство для исследования магнитных свойств сплошных одноосных пленок с целью изучения магнитных свойств тонких пленок КФМП с вращательной симметрией ОЛН(например, круговой, радиальной или смешанной) малопригодно, так как в этом случае вращение плоскости поляризации отраженного света различно на различных участках поверхности кольцевойпленки даже тогда, когда пленка находится в однодоменном состоянии. При наб-шодении доменной структуры всей поверхности

кольцевой пленки одновременно участвует, как мериднальный, так и экваториальный эффекты Керра, причиной которых является врсицательная симметрия ОЛН. Очевидно, что при таком способе проведения эксперимента разделйг ие этих эффектов не представляется возможным, в результате этого интенсивность отраженного света, прошедшего через анализатор, неодинакова вдоль пленочного ферромагнитHoto кольца, что приводит к затруднениям в интерпретации результатов наЬлюдения различных участков пленки.;, а количественное определение магнитных параметров пленки с приме не;нием фотоумножителей или фотодиодрв в этом случае провести просто невозможно.

Целью изобретения является повышение точности измерения.

Это достигается тем, что устройсв6, содержащее оптическую систему, поляризатор, анализатор, регистрирующий прибор и предметный столик, снабжено приспособлением для фиксации исследуемой пленки соосно с врацающимся столиком, над которым установлен неподвижный оптический непрорачный экран с направляющими каналаМи, сечение которых выполнено в виДе узкой щели, совпадакедей по длине С шириной кольца в радиальном направлении.

На чертеже представлена функциональная схема описываемого устройства.

.Устройство содержит оптическую систему, состоящую из источника света 1, объектива 2 и окуляра 3, поляризатор - 4, анализатор 5, регистрирующий прибор 6, оптический непрозрачный экран 7 с направляющими каналами 8 в виде узкой щели, совпадающей по длине с шириной кольца в радиальном направлении, вращающийся предметный столик 9 с приспособлением 10 для фиксации исследуемой пленки 11 и источники магнитного поля (для простоты они на чертеже не указаны).

Устройство работает следующим образом.

Для разделения поперечных и продольных составляющих меридионального или. экваториешьного эффектов электрический вектор Е падающего света ориентир9ван относительно щели дкрана 7 под УГЛОМ О или 90° при помощи поляризатора 4. При этом последовательно отражаемый от каждого из щелевых участков поверхности вращающейся пленки свет пропускают через анализатор 5 и непрерывно регистрируют светоприемников (например, фотоумножителем, фотодиодом, фотопленкой), и по изменению интенсивности (обусловленной вращением плоскости поляризации) отражаемого

::вета определяют магнитные свойства, каждого участка и всей пленки в целом.

Луч света от источника 1, проходя через поляризатор 4, становится р линейно-поляризованньгм и направляется на участок пленки 11 через направляющий канал 8, имеющий сечение в.виде узкой щели, расположенной в оптически непрозрачном экране 7. При

ji, этом пленка вращается вокруг оси сим м.зтрии, перпендикулярной поверхности пленки под неподвижньлм, оптически непрозрачным экраном7 с помощью вращающегося предметного столика 9, снабженного приспособлением 10 для

5 фиксации ис,следуемой пленки соосно с ним. Соосность достигается с помощью цилиндрического вкладыша, закрепляемого в столике тремя винтами и имеющего выступающую часть, диаметр

0 к 5торой соответствует внутреннему диаметру подложки исследуемой пленки.

Последовательно отражаемый от каждого из щелевых участков пленки свет пропускается через объектив 2, анализатор 5, окуляр 3 и непрерывно регистрируется светоприемным прибором. 6. Внешние магнитные поля в образце соз.цаются в соответствии с заданной программой эксперимента в

аксиальном и радиальном на правлениях порознь или в любых других сочетаниях (например, с помощью осевого токопровода, плоской спиральной катушки и др, ).

Использование устройства позволяет резко повысить точность измерения магнитных свойств тонких плоских КФМП с вращательной симметрией ОЛН за счет разделения меридионального эффекта от экваториального, а также за. счет разделения их поперечных и Продольных составлякхцих. Кроме того, устройство дает возможность получать максимальное количество информации в одном эксперименте При заданном числе внешних силовых полей, т.е., если известное устройство позволяет производить только качественный анализ свойств изучаемых тонких плоских КФМП с вращательной симметрией ОЛН (визуальное наблюдение и фотографирование) , то предлагаемое устройство позволяет проводить количественные измерения магн1}тных свойств как каждого участка, так и всей пленки в целом.

Формула Изобретения

Устройство для измерения магнитных свойств кольцевых.ферромагнитных

пленок, содержащее оптическую систему, поляризатор, анализатор, регистрирукиций прибор и предметный столик, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, ,

предметный столик выполнен вращающимся и снабжен приспособлением для фиксации исследуемой пленки соосно с вращающимся столиком,нак которым установлен неподвижный,оптический непрозрачный экран с направляющими каналами,сечение которых выполнено в виде узкой щели, совпадающей по длине с шириной кольца в радиальном направлении.

Источники информации, .принятые во внимание при экспертизе

1.Пак Н,Г, и Кан С.В,Магнитооптичекий метод осциллографирования петель гестерезиса плоских ферромагнитных плёнок, ПТЭ,1 1, 1963,с.133-134.

2. Лискер И.С и др Экспериментальное исследование круговой анизотропии в тонких плоских кольцевых ферромагнитных пленках. Вычислительные системы, Новосибирск,Наука, вып.20,1966,

Похожие патенты SU742840A1

название год авторы номер документа
СЕНСОР МАГНИТНОГО ПОЛЯ НА ОСНОВЕ РАССЕЯНИЯ МАНДЕЛЬШТАМА-БРИЛЛЮЭНА 2016
  • Белотелов Владимир Игоревич
  • Ветошко Петр Михайлович
  • Князев Григорий Алексеевич
RU2638918C1
Устройство для определения пространственного распределения магнитного поля 1990
  • Зубов Виктор Евгеньевич
  • Кринчик Георгий Сергеевич
  • Кузьменко Сергей Николаевич
  • Мацкевич Светлана Ивановна
  • Якштас Ауксутис Аницетович
SU1818602A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТООПТИЧЕСКИХ ЭФФЕКТОВ in situ 2014
  • Косырев Николай Николаевич
  • Заблуда Владимир Николаевич
  • Тарасов Иван Анатольевич
  • Лященко Сергей Александрович
  • Шевцов Дмитрий Валентинович
  • Варнаков Сергей Николаевич
  • Овчинников Сергей Геннадьевич
RU2560148C1
Способ неразрушающего контроля намагниченности насыщения магнитных пленок 1989
  • Михалевич Анатолий Тимофеевич
  • Червинский Марк Михайлович
  • Убизский Сергей Борисович
  • Скицкий Юрий Евгеньевич
  • Матковский Андрей Орестович
SU1691796A1
СПЕКТРАЛЬНЫЙ МАГНИТОЭЛЛИПСОМЕТР С УСТРОЙСТВОМ ДЛЯ МАГНИТОРЕЗИСТИВНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ 2013
  • Морченко Александр Тимофеевич
  • Юданов Николай Анатольевич
  • Читанов Денис Николаевич
  • Комлев Александр Сергеевич
  • Панина Лариса Владимировна
  • Костишин Владимир Григорьевич
RU2549843C1
Устройство для измерения скорости вращения 1987
  • Грибков Владимир Леонидович
  • Лысков Владимир Александрович
  • Мкртумов Александр Сергеевич
  • Чернятин Юрий Иванович
  • Кринчик Георгий Сергеевич
SU1474552A1
Способ измерения компонент тензора магнитной проницаемости тонких магнитных пленок 1984
  • Дубинко Сергей Владимирович
  • Лейфер Петр Наумович
  • Фришман Анатолий Маркович
SU1302227A1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ СВОЙСТВ ФЕРРОМАГНИТНЫХ ПЛЕНОК 1970
  • М. В. Четкий В. А. Драчев
SU283403A1
Устройство для измерения напряженности магнитного поля 1983
  • Мокроусов Владимир Андреевич
  • Суйков Виктор Васильевич
  • Тихонов Адольф Александрович
SU1128206A1
Способ дефектоскопии магнитныхплЕНОК 1979
  • Лисовский Федор Викторович
  • Щеглов Владимир Игнатьевич
SU849060A1

Реферат патента 1980 года Устройство для измерения магнитных свойств кольцевых ферромагнитных пленок

Формула изобретения SU 742 840 A1

SU 742 840 A1

Авторы

Лискер Иосиф Семенович

Гурбанязов Мухамедовез Аширович

Язлиев Селим Язлиевич

Даты

1980-06-25Публикация

1977-12-26Подача