Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов Советский патент 1980 года по МПК G01R31/28 

мои величины путем повышения точности задания па:ра 1етров тестового импульса nporpaiMMnpyeMoro генератора непосредственно на .Выводах испытуемого прибора. Поставленная цель достигается тем, что в анализатор допол нительно введен блок сравнения и .коррекции тесто.вых импульсов, состоящий из реле времени, устрой.ства ана.лмза и сравнения, устройства памяти и цифро-аналогового ПреОбразователя, причеМ устройство анализа и сравнения соединено с реле времени, блоком упра.влення, устройством авто.сдвига непосредст1венно. а с генерато.ром тактовых импульсов через цифро-аналоговый преобразователь.

Схема описываемого устройства noisa3ai:a на чертеже.

Цифровой анализатор содержит систему автосдвига стробимпульсов /, соединенную с формирователем частоты тестовых импульсов 2, который совместно с систелюй автосдвига стробнмпульсов / задает частоту генератора тестовых импульсов 3. По.следний же, в свою очередь, предназначен для ф01р|МНровання амплитуды, .сментения, длительности и задержки тестовых имяульсов, подаваемых ,на вход испытуемого прибора, например ИС, помещенного в контактное устройство 4. Блок управления измерением 5 своими входами связан со стробоскопическим дискриминатором 6 гН коммутатором 7. Блок управления изме.рением 5 управляет работой системы автосдвига 1, формирователем частоты тестовых и-мпульсов 2, генератором тестовых импульсов 3 и блоком сравнения и коррекции параметров генератора тестовых имяульсов 8, включающего в себя устройства памяти и цифро-аналогового преобразования значений амплитуды 9, смещения 10, длительности фр.онта тестового импульса, устройство анализа и сравнения 12 и реле времени 13. Ком.мутатор 7 осуществляет подключение выводов испытуемой ИС к стробоскопич.еско.му дискриминатору 6, источникам пита.ния и нагрузкам (последние На чертеже не показаны). З.начения измеренных параметров тестового импульса для .сра1в.нения с заданными передаются с системы автосдвига стробимпульсов /, в устройство а.нализа и сравнения 12 .и с его выхода через устройства 9, 10, 11 - на генератор тестовых импульсов 3. Анализато.р работает следующим обра.зом.

Тестовый импульс -с частотой следования, программируе.мой блоком управления 5 и определяемой системой автосдвига / и фо.рмирователем частоты тестовых пмпульсов 2, по.дается на .генератор тестовых импульсов 3.

(Параметры тестового импульса (амплитуда, смещение, длительность ф.ронта) в зависимости от типа измеряемой схемы программируются в генераторе тестовых импульсов 3 .с бло,ка сравнения и коррекции параметров генератора тестовых импульсов 5 и с блока управления 5. Перед началом измерения тестовый имдульс с заданными параметрами .подается через

коМ(Мутатор 7 на испытуемую схему, а также .и непосредственно на стробо.скопический дискриминатор 6, который стробируется стробимпульсами устройства автосдвига /.

Производится измерение параметров тесто.вого импульса своим измерителем, имеющим высокую точность из.мерения. Измеренные значения параметров тестового импульса с устройства автосдвига /

передаются в устройство анализа и сравнения 12, где сра(вниваются с заданными. При отличии из.меренных и заданных парамет.рав значения заданных параметров корректируются при помощи устройства 9, 10,

//. КоПтроль и .коррекция пара.метров тестов:ого импульса производится периодически. Периодичность контроля .коррекции определяется .реле времени .13 или программой измерения. Точ ность измерения динамических параметров ИС при этом существенно ловьгшается.

Ф о ip м -у л а изобретения

Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов, содержащий контактное устройство для подключения испытуемого прибора и генератор тестовых импульсов, которые через

Коммутатор подключены «о входу стробоскопического дискриминатора, устройство а ВТО сдвиг а стробимпульса, соединенное со входом носледнег.о .непосредственно и со входом генератора тестовых импульсов через форМирователь частоты тестовых импульсов, блок управления, соединенный входами со стробоскопическим дискриминатором и коммутатором, а входом - с устройством автосдвига, фо.р-мирователем и

генератор.ом ча.стоты тестовых импульсов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, в анализатор дополнительно (введен блок сравнения и коррекции тестовых импульсов, состоящий

из реле времени, устройства апализа и сравнения, устройства памяти и цифро-аналогового преобразователя, причем устройство анализа .и сравнения соединено с реле времени бло1шм управления, устройством

автосдвига непосредственно, а с генератором тактовых импульсов через цифро-аналотовый преобразователь.

Источники инф.о.рма.ции, пр.ипятые во в.нима.ние л.ри экспертизе:

1.Авторекое свидетельство СССР № 3596.39, кл. G 05 В 23/02, 1972.

2.Авторское свидетельство по заявке № 2518245/25, кл. G 01 R 31/26, 1977 (прототип).