га стробимпульсов, запоминающее устройство 10 и реле времени 11.
Р1змерптель работает следующим образом.
В исходном состоянии реле времени 11 переводит запоминающее устройство 10 в режим записи. В контактное устройство блока 1 подключения помещают испытуемую ИС и осуществляют запуск измерителя. При запуске измерителя блок управления 3 подает команду на включение нулевых уровней отсчета в задатчиках уровней блока 3. Эти уровни поступают через сумматоры 4 и 5 на входы стробоскопических дискриминаторов 6 и 7 и запоминаются. Затем блок управления 3 формирует команду на включение уровней отсчета динамического параметра и других тестовых условий по первому измерительному тесту. При этом па вход сумматора 5 уровень отсчета подается с противоположной полярностью с целью получения па его выходе напряжения, равного нулю по достижении на его другом входе имиульсиым сигналом напряжения, равного уровню отсчета. Стробоскопический дискриминатор 7 осуществляет преобразование выходпого сигнала сумматора 5 посредством блока 9 автоматического сдвига стробимпульсов до тех пор, пока сдвигаемый стробимпульс не попадает на мгновенное значение напряжения пмнульса, равное уровню отсчета противоположной полярности, формируемому одним из задатчиков блока управления 3. В момепт равенства нулю напряжения на выходе сумматора 5 стробоскопический дискриминатор 7 формирует сигнал, по которому блок 8 управления дискретностью считывания разрещает сброс последней круппой дискретности сдвига стробимпульса. Дальнейший сдвиг стробимпульса будет производиться мелкими дискретпостями до момента сравнения преобразованного мгновенного значения сигнала п запомненного нулевого уровня. В этот момент в блоке автоматического сдвига стробимпульсов зафиксирз ется число, пропордиональмое задержке стробимпульсов стробоскопического дискриминатора 7, соответствующей начальной точке отсчета измеряемого параметра на входном импульсе. После нахождения начальной точки отсчета по команде с блока управления 3 стробимпульс сдвигается на время, равное классификационному значению измеряемого параметра в данном тесте, записанному в блоке 9, и посредством одного стробпмпульса в сумматоре 4 производится сравнение мгновенного значения выходпого сигнала с уровнем отсчета, формируемым блоком управления 3 без дальпейщего сдвига стробимпульса, т. е. измеритель работает в режиме стробвольтметра. Затем зафиксированное в блоке 9 число, пропорциональное задержке стробимпульса, переписывается в запоминающее устройство 10, а результат сравнения обрабатывается в блоке управления 3. После чего блок управления 3 передает исходиые данные (уровни отсчета) на измерение параметра второго теста. Аналогично осзществлястся измерение второго, третьего и т. д. до последнего теста, в результате чего в загтомипаюплсм устройстве 10 будут зафиксированы величины задержек начала отсчетов по каждому измерительному тесту, ira которые необходи.мо сдвпиуть стробимпульс ири измерении параметров следуюи1 1х испытуемых ИС.
После измерения параметров первой ИС по всем тестам блок управления 3 фор:- рует команду «конец испытаний, но которой разрещается считывапие из запоминающего устройства 10. При измерепи ; слсдующей ИС по команде из блока управления 3 по каждому тесту из запомипаюиюго устройства 10 в б.лок 9 авто лат1г;еск.го сдвига стрсбимпульсоз пер спись лаются задержки, соответствующие началу отсчета
измеряемого параметра н классификапионпому значению этого параметра. Стробоскопический дискриминатор сразу порсг.одится в режим стробвольтметра п за п-л-ц стробимпульс производит пзмереиио з
каждом тесте до тех пор, пока сигналом от реле времени II не разрсшнтся запись в запомипаюп1,ее устройство 10 из блока 9 за;1,, соотЕетствуюп1их нагллу отсчета измеряемого временного интервала. В рез льтате измеритель снова переводится из режима по сокраиденному циклу измерителя (режим стробвольтметра) в режим поиска начала отсчета при цикле измерения с запоминанием, т. е. измеритель возвращается в исходное состояние. При этом исключается время, необходимое на перезапомипание уровней отсчета поиска начала и конца измеряемого параметра для пескольких испытуемых схем.
Предлагаемое устройство позпол Т уменьщить время измерения одного теста и увеличить производительность по сравнению с известными устройствами.
Формула изобретения
Цифровой измеритель временных параметров полупроводниковых приборов, содержащий блок подключения, блок управления, генератор тестовых импульсов, соединенный с блоком подключения и блоком управления, стробоскопические дискриминаторы начала и конца измерения, блок управления дискретностью считывания, соединенный с блоком управления и стробоскопическими дискриминаторами, блок автоматического сдвига стробимпульсов, соединенный с генератором тестовых и.мпульсов, блоком управления, стробоскопически-ми дискриминаторами и блоком управления дискретностью считывания, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности измерения, в него введены реле времени, запоминающее устройство и сумматоры, причем реле времени соединено с запоминающим устройством и блоком управления, каждый из сумматоров включен между стробоскопическим дискриминатором и блоком подключения и соединен с блоком управления, а запоминающее устройство - с блоком автоматического сдвига стробимпульсов и блоком управления.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:
1.«Тестер динамических параметров Т4520 ЩЦМ3.430.004.ТО.
2.Авторское свидетельство СССР по заявке № 2163406/24, кл. G 01 R 31/26, 1975 (прототип).
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов | 1977 |
|
SU752203A1 |
Устройство для измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов | 1977 |
|
SU693274A1 |
Цифровой анализатор временных характеристик полупроводниковых приборов | 1977 |
|
SU699456A1 |
Устройство для проверки и измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов | 1975 |
|
SU570884A2 |
Устройство для измерения временных интервалов | 1976 |
|
SU658523A1 |
Устройство для контроля динамических параметров интегральных микросхем | 1976 |
|
SU647695A1 |
Стробоскопический измеритель параметров наносекундных импульсов | 1982 |
|
SU1087902A1 |
Устройство для автоматического контроля больших интегральных схем | 1984 |
|
SU1205083A1 |
ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ ИМПУЛЬСНЫХ ПАРАМЕТРОВ | 1971 |
|
SU289347A1 |
Устройство для измерения импульсной мощности оптического излучения | 1980 |
|
SU918798A1 |
гх
Авторы
Даты
1980-06-30—Публикация
1977-08-04—Подача