Способ определения неоднородности полимерных композиций Советский патент 1980 года по МПК G01N21/58 

Описание патента на изобретение SU763749A1

бые другие смеси алифактических полимеров с ароматическими.

Однако этот способ не позволяет исследовать такие композиции, компоненты которых обладают сходными, т.е. приблизительно одинаковыми, фотолюминесцентными характеристиками. Например, с его помощью нельзя /исследовать структуру смесей полиолефинов, смесей некоторых каучуков и других полимеров, фотолюминесцентные свойства которых, как это обычно наблюдается, определяются не спецификой самой полимерной молекулы, а наличием в полимерах люминесцирующих низкомолекулярных примесей. Кроме того, способ не позволяет изучать структуру образцов, толщина которых превыщает один миллиметр из-за сильной поглощающей способности.

Цель изобретения - обеспечение возможности исследования более щирокого круга композиций, т.е. определение неоднородности, размера и взаимного расположения элементов композиций из компонентов со сходными оптическими и фотолюминесцентными свойствами.

Это достигается тем, что в известном способе образец после облучения нагревают до размягчения, а регистрацию изображения осуществляют в процессе нагрева периодически.

С цельЬэ установления неоднородности структуры полимерной пленки, определения размера и формы отдельных структурных эле ментов образец закрепляют в металлической кассете,вакуумируют доЮ торрв течение 1 ч при Т 20°, охлаждают до - 196°С, облучают при этой температуре гамма-лучами до дозы 1Мрад. Затем облученную пленку вынимают из кассеты, вводят при -196°С в непосредственный контакт с регистрирующей фотопленкой (РФ-3) и разогревают до Ч-20°С (1-й способ регистрации изображения).

Способ определения неоднородности полимерных композиций иллюстрируется фиг. 1-8.

При 2-м способе регистрации изображения кассету с облученным образцом прикрепляют к нагревателю, охлажденному до -196°С и расположенному перед объективом «Гелиос-44°, с удлиненным кольцом 5,9 см фотоаппарата «Зенит-ЗМ. Общая схема расположения нагревателя, кассеты с образцом и фотоаппарата приведена на фиг. 1, где 1-образец, 2-нагревательный элемент, 3-термопара для контроля температуры, 4патрубок для фотографирования образца в темноте, 5-объектив, 6-удлинительное кольцо, 7-фотопленка в фотоаппарате. Объектив фокусирует свечение облученного образца на фотопленку. Облученный образец подвергают нагреву от -19б°С до требуемой температуры, при этом получают его скрытое изображение на фотопленке. Затем, сменив кадр, получают на фотопленке новое открытое изображение в следующем температурном интервале. Скрытое изображение образца на фотопленке получают за счет экспонирования свечением облученного об. разца, за время его нагрева от -196°С. После этого фотопленку проявляют.

Для сравнения исследовали структуру полимерного образца на микроскопе МИН-8 с фотоприставкой. Образец помещали на предметное стекло столика микроскопа и с помощью объектива и окуляра получали на фотопленке его изображение, используя проходящий поляризованный свет.

Пример 1. Исследовали структуру полимерной пленки толщиной 150 мм, полученной прессованием гранул полипропилена (ПП), к которому было добавлено 22,7 вес.% стирола. Известно, что такие гранулы неоднородны по структуре, т.е. состоят из участков ПП с привитым полистиролом (ПС) и участков чистого ПП. Пленка была получена прессованием на воздухе при 220-230°С в течение 2 мин между листами алюминиеЭ вой фольги при давлении 100 атм. с последующим быстрым охлаждением расплава в воде при 4°С.

На фиг. 2 приведена фотография образца, полученная первым способом. На фотографии четко видны между ПП и ПП с привитым ПС в виде трех дуг. Хорощо различима темная центральная область, где находится ПП. Как в области ПП, так и ПС видны отдельные микровключения других полимеров.

0 Таким способом было установлено, что исследованная пленка имеет неоднородную структуру, причем характерный размер отдельных микроучастков составляет порядка 30-100 мкм.

Появление изображения, полученного

данным способом, определяется тем, что в результате воздействия ионизирующего излучения на полимер, охлажденный до -196°С, в нем образуются и накапливаются заряженные частицы ионы, концентрация которых

д различна для разных полимеров. Рекомбинация этих ионов происходит при нагреве и сопровождается свечением, которое и регистрируется на фотопленке, создавая на ней изображение образца. При это.м структурные элементы образца с более высокой конs центрацией ионов светятся ярче, и их изображение на негативе отличается более высокой плотностью.

На фиг. 3 представлено фотографическое изображение того же участка образца, что

-- и на фиг. 2, полученное в поляризованном свете микроскопа МИН-8 с фотоприставкой. На фиг. 3 легко различимы те же области, имеющие форму сегментов, что и на фиг. 2. Из-за повреждения поверхности образца при его прессовании границы между микроучаст55 ками на фиг. 3 несколько смазаны и плохо просматриваются. Приведенное на фиг. 3 изображение не дает возможности установить, какие микроучастки состоят из чистого ПП, а какие из ПП с привитым ПС.

Это можно сделать только на основании фиг. 2.

Пример 2. Для идентификации распределения и формы ингредиентов композиций и полимерных пленок предлагаемым способом и способами оптической микроскопии была специально приготовлена композиция, состоящая из полимеров с различной оптической прозрачностью: ПП и метилсилоксанового каучука (СКТВ). Структуру нленки, приготовленной из механической смеси этих полимеров, исследовали первым способом. Механическую смесь полимеров получали смещением ПП с СКТВ (в соотнощении 50:50) в экструдере при 200°С. Пленку толщиной 150 мкм получали прессованием смеси, как описано в примере 1.

На фиг. 4 приведено изображение полимерной композиции, полученное контактным путем, при нагреве облученного образца в интервале от -196° до +20°С (первый способ). На фиг. 4 четко видны светлые участки, которые соответствуют структурным элементам исследуемой пленки, состоящим из СКТВ. Поскольку светосумма радиотермолюминесценции (РТЛ) СКТВ больще, чем светосумма ПП, то те участки исследуемой пленки, где расположены ПП, выглядят на фиг. 4 более темными.

Для сравнения исследовали структуру того же участка полимерной пленки, что и на фиг. 4, в проходящем поляризованном свете микроскопа Мин-8. На полученной в поляризованном свете фотографии фиг. 5) просматриваются темные включения с нечетными очертаниями. Светлые полосы на фиг. 5, которые связаны с рассеиванием поляризованного света на различного рода повреждениях поверхности пленки, затрудняют исследование внутренней структуры, а рассеивание света на гетерогенной поверхности каучука затрудняет наблюдение за микровключениями ПП и СКТВ. В то же время на фиг. 4 эти микровключения видны достаточно отчетливо (темные участки на фоне светового поля СКТВ).

Таким образом, в случае смесей полимеров, имеющих разные оптические свойства, предлагаемый способ позволяет наблюдать ингредиенты в композиции, так же как и оптические методы, однако при этом поверхностные повреждения не сказываются на идентификации расположения и формы микровключений одного полимера в другом.

Пример 3. Исследовали структуру полимерной пленки, полученной из двух типов полипропилена (изотактический ПП марки 004ПП и изотактический ПП марки «Моплен). Пленку толщиной 150 мкм прессовали в режиме, описанном в примере 1, из поочередно чередующих полос полимера разных марок, расположенных рядом друг с другом и имеющих контакт на т(|рцовой поверхности. Полученная таким образом пленка гетерогенная, т.е. имеет участки, состоящие только из ПП марки 004ПП, и участки, состоящие из ПП марки «Моплен.

С целью установления неоднородности структуры пленки, определения размера и формы отдельных структурных элементов, j полимерную композицию исследовали вторым способом. Для чего облученный при 196°С образец прикрепляли к нагревателю и производили регистрацию изображения полимерной композиции при разогреве в интервалах температур минус 196-125°С

0 и от -40 до +20°С (второй способ). На фиг. 6, полученной в интервале температур минус 196-125°С, различима светлая полоса, а на фиг. 7, полученной в интервале температур от -40 до +20°С, наоборот, светлый участок выглядит более темным по сравнению с рядом лежащими участками. Как видно из этих фотографий, облученный образец не является однородной полимерной композицией. Для анализа данных фотографий необходимо учесть, что в интервале те.мператур минус 195-125°С свечение образца определяется в основном радиотермолюминесценцией ПП марки «Моплен, тогда как в интервале температур от -40 до-ь20°С свечение ПП марки 004П. В связи с этим на фиг. 6 светлые участки образца

S относятся к ПП марки «Моплен, а темные к ПП марки 004ПП. На фиг. 7 светлые участки относятся к ПП марки 004ПП, а темные - к ПП марки «Моплен.

Получение изображения при нагреве

JJ образца, облученного при связано, как в примере 1, с РТЛ, возникающей при рекомбинации стабилизированных в образце ионов. При нагреве рекомбинация ионов и свечение происходят в определенных, характерных для каждого отдельного полимера температурах, а именно при температурах структурных переходов. В настоящем примере данная закономерность РТЛ органических веществ и была использована для определения неоднородности полимерной пленки, т.е. для выделения в ней участков, состоящих из другого типа полипропилена.

Тот же участок пленки, что и на фиг. 6 и 7, закрепленный в металлической кассете, вакуумировали до 10 торр, охлаждая

5 до -196°С, и повторно облучали на гаммаисточнике Со°до дозы 1Мрад. Изображение полимерного образца было получено на фотопленке контактным путем (первый способ) при нагреве облученного образца в интервале температур от -196 до +20°С. Полученная при этом фотография образца представлялась равномерно светлой, так что и на ней не удалось отличить участок одного полимера от другого.

Для сравнения исследовали структуру

того же участка полимерной пленки, что и на фиг. 6 и 7, в проходящем поляризованном свете. На фиг. 8 приведена зона контакта полимеров двух типов в проходящем поляризованном свете. Однако на фиг. 8 даже сам факт существования гетерогенности не удается обнаружить. Таким образом, обнаружить и онределить размеры гетерогенности исследования пленки способами, описанными в примерах 1 и 2, не удалось, так как оба типа полипропилена обладают одинаковой прозрачностью, рассеивающей способностью, приблизительно одинаковой надмолекулярной структурой, люминесцентными характеристиками, близкими суммарными светосуммами ТРЛ и другими сходными свойствами. Только описанный способ дает возможность установить сам факт гетерогенности данной исследуемой композиции и определить размер неоднородности. Из приведенных примеров видно, что предлагаемый способ позволяет исследовать полимерные композиции, отдельные их участки и структурные элементы, находящиеся на разной глубине образца, идентифицировать отдельные компоненты полимерной композиции. Использование предлагаемого способа исследования полимерных композиций обеспечивает, по сравнению с существуемыми способами, следующие преимущества: определение однородности структуры смесей полимеров или привитых сополимеров, состоящих из полиолефинов и ароматических полимеров, как полипропилен (поли-стирол, полиэтилен), метилсилоксановый каучук и т. д., установление размеров неоднородиостей от нескольких сантиментров до 30 мкм взаимного расположения и идентификации отдельных структурных элементов мно гокомпонентных высокомолекулярных компо зиций, в том числе в тех случаях, когда визуальное колебание неоднородности структуры исследуемых КОМПОЗИЦИЙ в проходящем и отраженном поляризованном свете, а также по возбуждению фотолюминесценции, различить невозможно. позволяет различить состав полимерной композиции, если в ней имеются микроучастки, состоящие из молекул с разными потенциалами ионизации; позволяет излучать однородность систем в пленках значительно больщей толщины (до 10 Ом), чем в известных методах-аналогах. Предлагаемый способ наиболее экономически эффективный при контроле за производством полимерных композиций, когда необходимо строго контролировать размер и характер гетерогенности выпускаемой композиции. Формула изобретения Способ определения неоднородности полимерных композиций путем облучения образца электромагнитным излучением и регистрации изображения, отличающийся тем, что, с целью определения неоднородности, размера и взаимного расположения элементов композиций из компонентов со сходными оптическими и фотолюминесцентными свойствами, образец после облучения нагревают до размягчения, регистрацию изображения осуществляют в процессе нагрева периодически. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Каргин В. А., Слонимский Г. Л. Краткие очерки по физико-химии полимеров. «Химия, 1967, с. 150. 2.Скворцов Г. Е. и др. Микроскопы. Л., «Мащиностроение, 1969, с. 129, 309 (прототип) .

Похожие патенты SU763749A1

название год авторы номер документа
Полимерный композитный материал с перовскитными квантовыми точками, способ его получения и способ использования в 3D-печати 2023
  • Солодов Александр Николаевич
  • Зимин Константин Сергеевич
  • Амиров Рустэм Рафаэльевич
  • Димиев Айрат Маратович
RU2803307C1
Способ обнаружения ударных повреждений конструкции 2016
  • Чернышев Сергей Леонидович
  • Зиченков Михаил Чеславович
  • Смотрова Светлана Александровна
  • Смотров Андрей Васильевич
  • Новоторцев Владимир Михайлович
  • Еременко Игорь Леонидович
  • Доброхотова Жанна Вениаминовна
  • Музафаров Азиз Мансурович
RU2645431C1
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ЭЛЕКТРОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ ИСТОЧНИК СВЕТА И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 2002
  • Ермаков О.Н.
  • Каплунов М.Г.
  • Бутаева А.Н.
  • Ефимов О.Н.
  • Белов М.Ю.
  • Будыка М.Ф.
  • Пивоваров А.П.
  • Якущенко И.К.
RU2233013C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ПОТОКА ЭЛЕКТРОНОВ ПО ЕГО СЕЧЕНИЮ 2009
  • Курмаев Эрнст Загидович
  • Мильман Игорь Игоревич
  • Литовченко Евгений Николаевич
  • Соловьев Сергей Николаевич
  • Ревков Иван Григорьевич
  • Федоренко Виктор Васильевич
  • Бунтов Евгений Александрович
RU2393505C1
КОМПОНЕНТ БЫТОВОГО УСТРОЙСТВА 2018
  • Аламан Агилар, Хорхе
  • Аликанте Сантьяго, Ракель
  • Химено Асин, Карлос
  • Пеньа Торре, Хосе Игнасио
  • Санчес Сомолинос, Карлос
RU2730141C1
КОМПОЗИЦИЯ ДЛЯ ФОРМОВАНИЯ ВОЛОКНА 1990
  • Кармен Аноиш Габриэль[Us]
  • Е. Рини Перьюсич[Us]
RU2011701C1
Способ скрытой маркировки 2022
  • Хребтов Александр Андреевич
  • Федоренко Елена Валерьевна
  • Мирочник Анатолий Григорьевич
RU2790680C1
Защитное устройство на основе дифракционных структур нулевого порядка 2022
  • Абрамович Георгий Леонидович
  • Акименко Андрей Петрович
  • Раздобарин Александр Викторович
  • Смирнов Леонид Игоревич
RU2801793C1
КОМБИНИРОВАННАЯ МАРКА 2008
  • Лежнев Алексей Васильевич
  • Пебалк Дмитрий Владимирович
  • Козенков Владимир Маркович
RU2431193C2
Способ анализа структурных переходов 1983
  • Никольский В.Г.
  • Скуратова Н.В.
  • Толкачев Б.В.
  • Филиппов В.В.
SU1106250A1

Иллюстрации к изобретению SU 763 749 A1

Реферат патента 1980 года Способ определения неоднородности полимерных композиций

Формула изобретения SU 763 749 A1

J///// //////A

оооо

/ КУчЧЧЧЧЧ

6

/

«rrr nri РГГ

t, ..

763749

%

Г S

I

„ Ц

х .1

SU 763 749 A1

Авторы

Кирюшкин Сергей Григорьевич

Никольский Вадим Геннадиевич

Шляпников Юрий Александрович

Чеботаревский Александр Эдуардович

Даты

1980-09-15Публикация

1978-07-06Подача