Устройство для измерения эдс поперечного эффекта нернста-этингсгаузена в полупроводниковых материалах Советский патент 1980 года по МПК H01L21/66 

Описание патента на изобретение SU767870A1

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭДС ПбПЕРЕЧНОГС ЭФФЕКТА НЕРНСТА-ЭТТИНГСГАУЗЕНА В ПОЛУПРОВОДНИКОНЛХ МАТЕРИАЛАХ

Похожие патенты SU767870A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ЗАХВАТА СИГНАЛА, ВОЗНИКАЮЩЕГО ПРИ ЭФФЕКТЕ НЕРНСТА-ЭТТИНГСГАУЗЕНА В СВЕРХПРОВОДНИКЕ 2023
  • Чжан Сюньпэн
  • Гасумянц Виталий Эдуардович
  • Янь Чуаньчао
RU2806889C1
Способ определения поперечного коэффициента Нернста-Эттингсгаузена в полупроводниковых кристаллах 1980
  • Колчанова Н.М.
  • Сметанникова Ю.С.
  • Яссиевич И.Н.
SU860650A1
СПОСОБ ТЕРМОМАГНИТНЫХ ИЗМЕРЕНИЙ ПОД ДАВЛЕНИЕМ 2002
  • Щенников В.В.
  • Овсянников С.В.
RU2231047C2
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГОМАТЕРИАЛА 1971
SU317993A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГАЛЬВАНО- И ТЕРМОМАГНИТНЫХ ЭФФЕКТОВ В ПРОВОДНИКАХ ПЕРВОГО РОДА 1965
SU171913A1
Способ измерения удельного электрического сопротивления полупроводниковых материалов 1978
  • Сабо Евгений Павлович
  • Титаренко Юрий Дмитриевич
SU765909A1
Способ измерения ионного коэффициента термо-э.д.с.смешанных полупроводников 1983
  • Жвания Ираклий Антонович
  • Инглизян Павел Николаевич
  • Иорга Тамара Петровна
  • Чхенкели Нана Сосовна
SU1187059A1
Способ определения параметров полупроводников методом эффекта Холла 1989
  • Веденеев Александр Сергеевич
  • Ждан Александр Георгиевич
  • Рыльков Владимир Васильевич
  • Шафран Андрей Григорьевич
  • Шагимуратов Олег Геневич
  • Дмитриев Сергей Георгиевич
SU1712987A1
Устройство для определения типа проводимости полупроводников 1982
  • Аболтиньш Э.Э.
  • Кугель Х.И.
SU1085390A1
Способ измерения температурной зависимости термо-ЭДС минералов 1982
  • Романов Валерий Григорьевич
SU1133526A1

Реферат патента 1980 года Устройство для измерения эдс поперечного эффекта нернста-этингсгаузена в полупроводниковых материалах

Формула изобретения SU 767 870 A1

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для измерения ЭДС поперечного эффекта Нернста-Эттингсгаузена 5 в полупроводниковых материалах.

Известно устройство для измерения поперечного эффекта Нернста-Эттиягсгаузена 1 . В этом устройстве градиент температуры создается блоками Q нагревателя и холодильника,между которыми устанавливается образец. ЭДС измеряется с помсядью зондов.

Недостатком этого устройства является наличие теплообмена меязду окружгиощей средой и образцом, теплоотвод по измерительным зондам и термопарам, что нарушает условия изотермичности и приводит к ошибкам при измерениях.

Известно также устройство для из- 20 мерения ЭДС поперечного эффекта Нернста-Эттингсгаузена в полупроводниковых материалах 2 , содержащее нагреватель, холодильник и регистрирующий прибор.25

Недостатком этого устройства kвляется его непригодность для измерений при температурах свыше 50оРк, что вызвано необходимостью применения изомерующих прокладок, которые ухудща- JQ

ют тепловой контакт образца с поверхностями нагревателя и холодильника. Последнее являетсй причиной появления паразитного сигнала эффекта РигиЛедюка.

Целью изобретения является расширение температурного диапазона измерений и обеспечение исследования неоднородностей в полупроводниковых материалах.

Поставленная цель достигается тем, что нагреватель и холодильник выполнены в виде набора пластин металла и диэлектрика, причем металлические , пластины соединены с регистрирующим прибором.

На чертеже приведена упрощенная схема устройства.

Образец 1 помещен между нагревателем 2 и холодильником 3. Металлические пластины 4 нагревателя и 5 холодильника имеют электрический контакт с поверхностями образца 1.

Градиент температур в образце измеряют с помощью термопар 6. С помощью коммутатора 7 к регистрирующему прибору 8 подключают любую пару металлических пластин. Образец питают от источника Toka 9. Нагреватель и холодильник выполнены из набора пластин металла и диэлектрика.В качестве диэлектрика используют пластинки окиси бериллия, две грани большой площади которых металлизированы. Пластинки тугоплавкого металла (вольфрама, молибдена) прокладывают меяоду этими .гранями , после чего весь этот набор сваривают в вакууме диффузионной сваркой, что обеспечивает монолитность .и высокую прочность блоков. Для обеспечения перепада температур один из блоков снабжают резистивным нагревателем. Таким образом, структура нагревателя и холодильника представляют собой чередующиеся слои металл-дизлектрик-металл..., причем металлические пластины исполь зуются в качестве линейных зондов для измерения кинетических эффектов (ЭДС ПЭНЭ, Холла, электропроводности, термо-ЭДС), а пластины диэлектрика исключают электрическое закорачивание полезного сигнала между выбранной для измерений парой зондов. Нагреватель и холодильник предлагаемого устройства однородные в тепловом отношении rt регулярно неоднородные в электрическом, обеспечивают хороший тепловой контакт с поверхностью образца, эффетивно закорачивая паразитный сигнал Риги-Ледюка. В то же время линейные зонды, контактируя с поверхностью образца по большой площади, обеспечивают надежный и воспроизводимый электрический контакт при высоких температурах. Теплоотвод по ним практически полностью подавлен, так как блок в целом однороден по тепловым свойствам, что обеспечивается оптимальным соотношением толщин пластин диэлектрика и металла (10 к - 20). Наличие большого количества зондов, контактирующих с образцом по двум его оппозитивным граням, позволяет исследовать микронеоднородности в полупроводниках, измеряя распределение четырех кинетических коэффициентов (ЭДС Нернста-Эттингсгаузейа, термо-ЭДС, постоянная Холла, Удельная электропроводность).

Держатель с образцом 1 монтируют в вакуумной камере, нгисодящейся в зазоре электромагнита. Внешний нагреватель (на чертеже не показан), управляемый автоматическим регулятором, задает требуемую температуру измерений. Измерения кинетических коэффициентов проводят в двух режимах. .

. В первом режиме включают нагреватель 2 и на образце I создается градиент температур. Включение магнитного поля Н приводит к появлению ЗДС поперечного эффекта Нернста-Эттингсгаузена (V Q); распределение по образцу снимается либо с пар зондов 4 1-4г2, , , нагревателя, либо с пар ,

5 3-5г4.,. холодильника. После измерения VQ магнитное поле выключают и проводят измерение распределения коэффициента термо-ЭДС по образцу Vof ; сигналы снимают с оппозитных пар зондов 4 1-5 1, 4 , 4 3-5. 3Перепад температур на образце измеряется термОпа:рами б.

Во втором режиме нагреватель выключают и после установления теплового равновесия включают источник 9 тока через образец. Включение магнитного поля Н приводит к появлению ЭДС Холла (VR), распределение которой на образец снимается с оппозитных пар зондов 4 1-5--, , 4 ... После выключения магнитного поля измеряют распределение удельного электросопротивления по образцу ( сигналы MI снимаются либо с пар зондов , , 4-3-4 4... нагревателя/ либо с пар , , 5 ,... холодильника.

Таким образом, измеряя перечисленные гальвано- и термомагнитные сигналы между соответствующими парами зондов, определя;ют пространственное распределение соответствую1дих параметров (Q, R,to , с ) и делают выводы о степени однородности исследуеМрго образца в широком интервале температур (300-1000°К).

Пример. Нагреватель и холодильник были выполнены из набора пластинок окиси бериллия размером 6 X 9 X 1,45 мм, грани 6x9 которых были металлизированы никелем. Между ними прокладывались пластинки из вольфрс1ма толщиной 0,1 мм. Весь этот набор диффузионно сваривался в вакууме. Готовый блок имел размеры 6 X 9 X 28 мм. Нагреватель и холодильник с образцом монтировались на держателе, который помещался в вакуумную камеру, расположенную между пол1юсами электромагнита. Измерения проводились в атмосфере инертного газа. Для измерений ЭДС Нернста-Эттингсгаузена был выбран образец свинца

.,-ъ

N-типа с концентрацией 1,2210 см

Применение в предлагаемом устройстве нагревателя и холодильника, выпрлненных из набора пластин металла и диэлектрика, позволяет расширить дапазон измерений ЭДС ПЭНЭ и других гсшьваномагнитных и термоэлектрических эффектов до и обеспечивает; возможность исследования неодно-, родностей в полупроводниковых материалах в широком интервале температу Использование Предлагаемого устройства значительно расширяет экспериментальные возможности исследователей, работайщих в области физики полупроводников.

Формула изобретения

Устройство для измерения ЭДС поперечного эффекта Нернста-Эттингсгаузена в полупроводниковых материалах содержащее нагреватель, холодильник и регистрирующий прибор, отличающееся тем, что, с целью расширения температурного диапазона измерений и обеспечения исследования неоднородностей в полупроводниковых материалах, нагреватель и холодильник выполнены в виде набора пластин металла и диэлектрика, причем металлические пластины соединены с регистрирующим прибором.

Источники информации, принятые во внимание при экспертиз1.Аверкин Е.М. Лабораторная установка для измерения кинематических параметров в полупроводниках.

Сборник научных трудов аспирантов Воронежского Госуниверситета/1962, вып. 2, с. 3-7.

2.Авторское свидетельство СССР 187859, кл. Н 01 Ь 37/00, 1965.

SU 767 870 A1

Авторы

Сабо Евгений Павлович

Титаренко Юрий Дмитриевич

Даты

1980-09-30Публикация

1978-08-07Подача