(Оо - частота, задаваемая синтезатором 2,
Q - частота аадаваемая низкочастотным генератором 4, Ао)о-глубина девиаций. Сигналом с выхода частотного модулятора 3 модулируют в модуляторе 5 света по интенсивности излучение от источника 6 света, например, оптического квантового генератора.
Пучок света после модулятора 5 направляют через полупрозрачное зеркало 7 на свободную измерительную часть меры 8 и на поверхность притертой к другой ее измерительной поверхности контактной пластины 9 (либо на зеркала, жестко скрепленные тубусами двух фотоэ.лектрических микроскопов, установленных соответственно на начальный и конечный штрихи штриховой линейной меры). Отраженные нормально от указанных поверхностей световые пучки направляют полупрозрачным зеркалом 7 -на фотоприемник 10. Электрический сигдал на выходе фотоприемпика 10, соответствующий интенсивности световых пучков, отраженных от указанных поверхностей, соответствен но имеет вид (/ f/i -f U.(2)
При этом:
t/i -t/oi sin («о/ + psinfi/)(3)
(7i /o2smIi(oo(-fAO+PsinQ(+At) (4) где: Af - промежуток времени, на который сдвинуты фазы модулированных по интенсивности световых пучков .друг относительно друга.
А 2L/Co, где: L - длина меры,
Со - скорость света в вакууме. Сдвиги фаз для частот «о и Q соответственно равны: 9 2L/Co.iCuo и 4 2L/CoQ. При отсутствии частотной модуляции (0)
,l+ i/oi + 2t/oi-f/o2-cos4)X
X sin ( L).(5)
Зависимость амплитуды ; резульгирую.щего.,колебания от фазы .ф показана на
.фиг. 2: в виде кривой 1,, из/котррой.гвндно,
что в .момент, когда удвоенный фазовый
сдвиг между световыми пучками, отраженными от поверхностей, ограничивающих размер меры, равен- периоду колебаний (кр я), амплитуда результирующего колебания принимает мини.мальное значение. Прп наличии частотной модуляции амплитуда результирующего колебания меняется с частотной Q. Характер этих изменений показан на фиг. 2 в виде кривой 2.
При :ф -л результирующее .колебание
имеет вид:
f/ о -h и «2 -г 2f/o; f/02 -I4-cos{;psin Q + psin (Q 4- )(Q)
Характер изменения а.мплитуды результирующего колебания показан на фиг. 2, в виде кривой 3, из которой видно, что амплитуда результирующего колебания изменяется с удвоенной частотой 2Q. Сигнал на выходе фотоприемника 10 наблюдают осциллографом И. Частоту синтезатора изменяют до тех пор, пока не произойдет удвоение частоты огибающей результирующего колебания. Легко заметить, что при глубине 0) о
AL
ацнн Дй)о
частота синтезатора wo, при которой происходит удвоение частоты огибающей результирующего колебания, наблюдаемой на экране осциллографа, эквивалентна длине меры, определенной с точностью ±AL.
Форм у .I а и 3 о б р е т е а и я
Способ дистанционной поверки линейных мер по авт. св. Л 455239, о т ли ч а ю щ и и с я тем, что, с целью повышения точности измерений, после изменения эталонной частоты осуществляют ее частотную модуляцию, а о моменте равенства периода измененной-эталонной частоты удвоенному фазовому сдвнгу судят по удвоению частоты, ее огибающей.
Источники информации принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР № 455239,. кл. G 01 В Г|9/36. 1972 (прототип).
)0
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения напряжений в объекте из оптически чувствительного материала | 1986 |
|
SU1392355A1 |
Способ дистанционной поверки линейных мер | 1972 |
|
SU455239A1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ КОГЕРЕНТНОГО ОПТИЧЕСКОГО СИГНАЛА СУММИРОВАНИЕМ ПУЧКОВ ИЗЛУЧЕНИЯ N ЛАЗЕРОВ В ВЕРШИНЕ КОНИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ И ПЕРЕДАТЧИК КОГЕРЕНТНОГО ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, РЕАЛИЗУЮЩИЙ ЭТОТ СПОСОБ | 1992 |
|
RU2109384C1 |
Способ измерения угловой атмосферной рефракции и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1755124A1 |
Лазер с модуляцией добротности резонатора и синхронизацией мод | 2015 |
|
RU2606348C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОРЕЛЬЕФА ОБЪЕКТА И ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПРИПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ, МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА | 2001 |
|
RU2181498C1 |
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРЕЦИЗИОННОГО ЛАЗЕРНО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ РАССТОЯНИЙ И ПЕРЕМЕЩЕНИЙ | 2019 |
|
RU2721667C1 |
ФАЗОВЫЙ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР | 1972 |
|
SU339771A1 |
Фотоэлектрическая автоколлимационная насадка | 1972 |
|
SU451039A1 |
Анализатор спектра | 1983 |
|
SU1129545A1 |
Авторы
Даты
1980-10-07—Публикация
1976-06-28—Подача