Резонансный способ измерения диэлектрической проницаемости, тангенса угла потерь и направлений осей эллипсоида диэлектрической проницаемости анизотропных диэлектриков Советский патент 1980 года по МПК G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU779919A1

. . Резонансный способ, измерения реаспизу.ется следующим образом. . - . Образец из -исследуемого диэлектри ка помещается в круглый волновод, по заполняй его поперечное сече л. ..s fитами связи возбуждаются к ;лебанйя -в образце из иссле дуемо го диэлектрика. . Для этого типа колебаний характер но суиестврвание двух вэаимноортогоHajribHHx поляризаций, вырожденных для изотропного диэлектрика . в случае анизотропного диэлектрика снимается выроадение, и на экране элёктрооптического индикатора наблюдаются две полосы пропускания, соответствующие прохождению двух взаимноортогональнах поляризаций. вращай образец относительно неподвижных элементов свя зи, (либо наоборот), подавляют одну из полос. Это означает, что Колеба ййя .сйотвётствуйщей- поляризации орто г энальньз. элементам связи. Аналогичным образом подавляются колебания Другой поляризации. Таким образом, фиксируя момент полного подавления соответствующей полосы пропускания. Определяют направл ения максимального и минимального з.начения -диэлектричес кой проницаемости, знание абсолютных величин резонансных частот определяет величину диэлектрических проницаемостей, а звёличины добротностей. этих колебаний позволяют найти диэлёктрич еские потери. Выражения, связывающие резонансную частоту, геометрические размеры и диэлектрическую проницаемость в момент подавления одной из резонансных частот имеют вид где ,,|j.iJ/Mi-A.|4| цостояиная затуха . ния волны. в nvc ния волны Я в пус TOW круглом волноводе;А }. 2. / Jt 04 .:W ..| -постоянная . V страменйя волны страменйя волны н 1} в ;кр;;$шШ:°1Шяо воде с образцомиз исследуемого Дйэлектрика 1,2;

779919 -радиус и длина образца из исследуемого диэлектрика, соответственно; -диэлектрическая проницаемость исследуемого диэлектрика. Резонан сный способ измерения был опробован для ряда анизотропных диэлектриков .-лейкосапфир, рубин, моно кристаллйческий кварц и изотропных диэлектриков - органическое стекло, риталл, плавленный кварц, . Точность измерения Диэлектрической проницаемости составила 1%, направлений минимальной и Максимальной диэлектрической проницаемости для анизотропных диэлектриков - 30 , и тангенса угла потерь 3-5%. Формула изобретения Резонансйый способ измерения диэлектрической проницаемости, тангенса угла потерь и направлений осей эллипсоида диэлектрической проницаемости анизотропных диэлектриков, включающий возбуждение объемных колебаний с взаимноортогональной линейной поляризацией, в круглом волноводе с образцом из исследуемого диэлектрика, полностью заполняющим поперечное сечение круглого волновода, и измерение частоты и добротности резонанса при вращении образца из исследуемого диэлектрика, от л и ч а ю щ и и с я тем, что, с целый упрощения технологии измерений и повышения точности, частоту и добротность резонанса измеряют При подавлении одной из полос пропускания и определяют соответствующий ему угол поворота образца из исследуемого диэлектрика относительно плоскости поляризации возбуждающей ВОЛ НЫ . Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Брандт А. А. Исследование диэлектриков на СВЧ. М., Физматлит, 1963, с. 117-123.. 2.Sehlegeb р. Stoclihausen М. Measurements of dielectric anisotropy of films in the microwave region bi resonator perturbation method, Journal of Phys. E. Sctent. Oustr., 1972, V 5, 11, p. 1045-1046 (прототип).

Похожие патенты SU779919A1

название год авторы номер документа
Способ измерения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей поглощающих материалов 2020
  • Галдецкий Анатолий Васильевич
  • Богомолова Евгения Александровна
  • Алексеенков Владимир Иванович
  • Васильев Владимир Иванович
  • Коломин Виталий Михайлович
  • Немогай Ирина Куртовна
RU2744158C1
СВЕРХВЫСОКОЧАСТОТНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ 2001
  • Дувинг В.Г.
RU2188433C1
Способ измерения диэлектрической проницаемости материалов на сверхвысоких частотах 1985
  • Матвейчук Владимир Федорович
  • Сибирцев Сергей Николаевич
  • Побережный Сергей Викторович
  • Щеткин Николай Александрович
SU1278734A1
Зонд для измерения диэлектрической проницаемости диэлектрических пластин методом СВЧ-спектроскопии 2023
  • Дроздовский Андрей Викторович
  • Устинов Алексей Борисович
  • Семенов Александр Анатольевич
RU2803975C1
Резонансная ячейка спектрометра магнитного резонанса 1982
  • Вертий Алексей Алексеевич
  • Попенко Нина Алексеевна
  • Попков Юрий Павлович
  • Шестопалов Виктор Петрович
SU1062580A1
Способ определения диэлектрической проницаемости диэлектрических материалов 2016
  • Крылов Виталий Петрович
  • Подольхов Иван Васильевич
  • Забежайлов Максим Олегович
  • Емельянов Игорь Викторович
  • Шадрин Александр Петрович
RU2637174C1
Способ определения относительной диэлектрической проницаемости материалов с потерями 2022
  • Крылов Виталий Петрович
  • Подольхов Иван Васильевич
  • Забежайлов Максим Олегович
RU2787650C1
Способ измерения собственной добротности диэлектрического резонатора 2020
  • Геворкян Владимир Мушегович
  • Казанцев Юрий Алексеевич
  • Шутов Александр Вадимович
RU2739937C1
Способ определения диэлектрической проницаемости материалов и устройство для его осуществления 1990
  • Колосов Юрий Александрович
SU1744655A1
СПОСОБ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ПЛОСКИХ ПЛЕНОК ИЗ НЕМАГНИТНОГО ИМПЕДАНСНОГО ИЛИ ПРОВОДЯЩЕГО МАТЕРИАЛА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2005
  • Яковенко Николай Андреевич
  • Левченко Антон Сергеевич
RU2284533C1

Реферат патента 1980 года Резонансный способ измерения диэлектрической проницаемости, тангенса угла потерь и направлений осей эллипсоида диэлектрической проницаемости анизотропных диэлектриков

Формула изобретения SU 779 919 A1

SU 779 919 A1

Авторы

Коробкин Владимир Александрович

Пятак Николай Иванович

Макеев Юрий Григорьевич

Пивень Николай Михайлович

Даты

1980-11-15Публикация

1977-06-03Подача